專利名稱：一種液晶顯示模塊測試系統的制作方法
技術領域：
本實用新型涉及液晶顯示模塊的測試，尤其涉及一種液晶顯示模塊的測試 系統。 背景技術：
液晶顯示;f莫塊(LCD Module,簡稱LCM)是一種將液晶顯示器件、連接件、 集成件、集成電路、FPC、背光源和結構件裝配在一起的組件，TFT屏的驅動芯 片一般有系統接口工作模式、RGB Interface模式即三原色工作模式和VSYNC Interface模式即高速工作模式；CSTN屏的驅動芯片沒有RGB Interface模式。 一般液晶顯示模塊的測試系統在每次對程序進行調試的時候，改寫后的程序還 必須將保存單片機目標程序代碼的服X文件燒寫入單片機芯片，操作步驟多， 效率低。
實用新型內容
本實用新型的目的在于提供一種釆用JTAG接口以實現全速、非侵入式的在 系統調試的液晶顯示模塊的測試系統。
本實用新型是這樣實現的， 一種液晶顯示模塊測試系統，所述測試系統包
括
PC機、驅動被測試LCM工作的測試控制電路、JTAG接口 、電源模塊和串行 適配器，所述PC^L通過所述串行適配器與所述JTAG"J妄口相連，所述JTAG"J妻口 與所述測試控制電路相連，所述電源模塊與所述測試控制電路和串行適配器相 連，為所述測試控制電路和所述串行適配器提供工作電源。本實用新型提供的液晶顯示模塊測試系統利用串行適配器和HAG接口支 持系統非侵入式(不占用片內資源)、全速、在系統調試。該測試系統支持觀察 和修改存儲器和寄存器，支持斷點、單步、運行和停機命令。在使用JTAG調 試時，所有的模擬和數字外設都可全功能運行。
圖1是本實用新型第一實施例提供的液晶顯示模塊測試系統的結構圖2是本實用新型第一實施例提供的測試控制電路結構圖3是本實用新型第二實施例提供的測試控制電路結構圖4是本實用新型第三實施例提供的測試控制電路結構圖5是圖3和圖4中FLASH存儲器的電路圖6是本實用新型實施例提供的電源轉換電路的電路圖7是圖2、圖3和圖4中的復位電路圖。
具體實施方式
為了使本實用新型的目的、技術方案及優點更加清楚明白，
以下結合附圖 及實施例，對本實用新型進行進一步詳細說明。應當理解，此處所描述的具體 實施例僅僅用以解釋本實用新型，并不用于限定本實用新型。
圖1和圖2示出了本實用新型提供的液晶顯示模塊測試系統的結構圖和測試 控制電路結構圖，為了便于說明，僅示出了與本實用新型相關的部分。
該液晶顯示模塊測試系統包括PC機1、與PC機連接的串行適配器2、電源 模塊3、 JTAG接口 12和與串行適配器連接的測試控制電路4，該PC機1設有 能識別測試控制電路2的驅動程序，并提供應用程序編程接口 API函數給應用 軟件調用，電源模塊3與測試控制電路4連接，由電源模塊3為測試控制電路 4提供電源，JTAG接口 12與串行適配器2的輸出端相連，PC機1輸出的信號 通過串口線與串行適配器相連，串行適配器2將RS-232標準轉化為JTAG標準，
4以便與測試控制電路通信。
測試控制電路4包括微控制器MCU6，以及分別與微控制器MCU6相連的連 接器、時鐘電3各以及復位電路，其中微控制器MCU6 MCU6采用Silicon Laboratories公司的C8051F1系列單片機，
其采用Silicon Lab的是CIP—51微控制器內核,CIP—51與MCS—51TM指 令完全兼容，可以使用標準803x/805x的匯編器和編譯器進行軟件開發，CIP 一51采用流水線結果，其指令執行速度有很大的提高。CIP—51工作在最大系 統時鐘頻率100MHz時，MCU的峰值性能達到IOOMIPS。通過對MCU內部PLL (鎖 相回路)的不同配置，達到LCD驅動芯片的設計要求能夠正常工作速度。
如圖3所示，測試控制電路4還包括FLASH存儲器10，所述FLASH存儲器 IO與所述連接器相連，所述連接器與測試LCM接口相連，FLASH存儲器和電源 模塊相連，由電源模塊3為FLASH存儲器提供電源。對PC機1通過串行適配器 傳送至孩i控制器MCU6的數據進行解碼，對應不同的LCM5以及LCM5的不同工作 模式分別形成相應的數據格式驅動LCM5，在LCD屏上顯示相應格式的圖片，利 用FLASH存儲器來事先存儲大量的圖片數據，可以在LCD屏上進行不同圖片的 顯示，提高了整個系統的內存。
如圖4所示，測試控制電路還包括檢測模塊11，檢測模塊11與微控制器 MCU6相連，實時檢測整個系統的工作情況，檢測模塊ll，控制VDD監視器，當 電源■小于VRST時強制系統復位。
圖5示出了 FLASH存儲器的電路圖，F^ASH存儲器采用了 SUMSAUG公司出品 的型號為K9F1208UOC芯片，它是一款64M*8 Bit NAND FLASH存儲器Memory, 其64M的存儲空間可以存儲多幅圖片的顯示，其可以存儲大量的數據，圖片數 據就可以事先存儲到FLASH存儲器中，通過Silicon Laboratories IDE集成開 發環境，實現對FLASH存儲器的控制，這樣就可以顯示整屏的圖象和顯示多幅 圖象。
由用戶通過PC機1上的應用軟件將被測試LCM6的初始化值輸送至LCM5的LCD驅動芯片的相應寄存器中，使其初始化。
微控制器MCU6通過JTAG接口識別PC機1為默認設備后，自動從IDE集成 開發環境中下載程序，其通過初始化函數完成微控制器MCU6的初始化，還通過
輸出函數建立傳輸方式。
將微控制器MCU6片內包括P0TR 1/0口，將P0TR 1/0口連接到連接器上， 并對I/O腳配置上拉電阻，把POTR I/O 口設置為開漏方式，實現對LCD驅動 I/O 口不同電壓情況的測試，同時，所有的POTR I/O 口都連接到連接器，提供 了足夠的I/O對LCD驅動進行控制。
其中電源模塊3包括電源接口和電源轉換電路，電源接口外接電源，電 源轉換電路與電源接口相連，將外接電源轉換成工作電壓，圖6示出了電源轉 換電路的電路圖。
其中電源轉換電路采用NIKO-SEM公司出品的型號是AZ1117的降壓穩壓， 它將外接的5V電壓降壓為所需要的工作電壓3. 3V。
圖7示出了復位電路的電路圖，微控制器MCU6的復位電路進行低電平復位， 并采用了按鍵復位方式，然后通過向PC機1枚舉，識別PC機1為Silicon Laboratories公司的默認設備，并且從IDE集成開發環境中下載軟件，微控制 器MCU6開始運行軟件，測試控制電路4重新枚舉，是PC機1操作裝置重新識 別為用戶定義的設備，重新加載用戶自定義的驅動程序。
在無數據傳輸時，微控制器MCU6進入掛起狀態，以減少測試控制電路4 的損耗，有數據傳輸時，微控制器MCU6通過時鐘電路經過一段振蕩時間，恢復 到正常的工作狀態，在應用時我們可以選擇使用外部振蕩器，也可以使用內部 振蕩器，外部振蕩器通過使用晶振和電容連接的電路產生時鐘。
微控制器MCU6有64個通用I/O 口，每個I/O 口被配置為推挽或漏極開漏 輸出，通過這些I/O 口直接與FPC端的數據口和控制信號口相連接，實現對LCM5 的控制，實現可測試多種LCM的工作;漠式。微控制器MCU6包括JTAG邊界掃描電路和調試電3各，通過JTAG接口進行 非侵入式、全速的在線系統調試，Silicon Lab的調試系統支持觀察和修改存 儲器和寄存器，支持斷點、觀察點、堆棧指示器和單步執行，不需要額外的目 標RAM、程序存儲器、定時器和通信通道。
本具體實施方式
的工作過程如下
首先將本系統的測試系統中測試控制電路4的數據接口 、控制接口分別與 被測試的LCM5的數據接口、控制接口相連接，再將測試控制電路4通過JTAG 接口接至串行適配器，串行適配器與PC機相連，電源模塊向串行適配器和測試 控制電^各供電，由JTAG接口向測試控制電路傳送數據，測試控制電路4在上電 的瞬間完成設備的枚舉。PC機1上的操作裝置自動識別、加載驅動，完成軟件 與測試控制電路通信的物理連接及通信協議的連接。
接著運行PC機的應用軟件，應用軟件先查找相應的設備，在局部完成對設 備的再識別并獲得設備的句柄，接著由用戶通過PC機上的應用軟件將被測試 LCM5的初始化值輸送至LCM5的LCD驅動芯片的相應寄存器中，使其初始化， 并選擇LCD驅動芯片的工作模式以及待測試的技術參數。
應用軟件將文件轉換成LCM5要求的文件，在PC機上顯示，由用戶決定選 擇是否將數據傳送至LCM5，如果選擇是，數據通過PC機的JTAG接口傳送至測 試控制電路4，再經測試控制電路處理傳送至與LCD驅動器芯片連接的接口， 控制LCM5的LCD驅動芯片，在LCD屏上同步顯示文件，用戶可以與PC機上的 文件進行對比。
以上所述僅為本實用新型的較佳實施例而已，并不用以限制本實用新型， 凡在本實用新型的精神和原則之內所作的任何修改、等同替換和改進等，均應 包含在本實用新型的保護范圍之內。
權利要求1、一種液晶顯示模塊測試系統，其特征在于，包括PC機、驅動被測試LCM工作的測試控制電路、JTAG接口、電源模塊和串行適配器，所述PC機通過所述串行適配器與所述JTAG接口相連，所述JTAG接口與所述測試控制電路相連，所述電源模塊與所述測試控制電路和串行適配器相連，為所述測試控制電路和所述串行適配器提供工作電源。
2、 如權利要求1所述的液晶顯示模塊測試系統，其特征在于，所述測試控制電路包括微控制器以及分別與所述微控制器相連的連接器、時鐘電路以及復位電路，所述連接器與測試LCM相連，所述JTAG接口與所述^f敖控制器相連。
3、 如權利要求2所述的液晶顯示模塊測試系統，其特征在于，所述測試控制電路還包括FLASH存儲器，所述FLASH存儲器與所述連接器相連。
4、 如權利要求3所述的液晶顯示模塊測試系統，其特征在于，所述測試控制電路還包括檢測模塊，所述檢測模塊與所述微控制器相連，實時檢測整個系統的工作狀態。
5、如權利要求1所述的液晶顯示模塊測試系統，其特征在于所述電源模塊包括電源接口和電源轉換電路，所述電源接口外接電源，所述電源轉換電路與所述電源接口相連，將外接電源轉換成工作電壓。
6、 如權利要求1至5任一項所述的液晶顯示模塊測試系統，其特征在于所述微控制器帶有與被測試LCM接口對應相連的I/O 口 ，所述I/O 口為推挽方式或者漏極開漏輸出方式。
7、 如權利要求7所ii的液晶顯示模塊測試系統，其特征在于所迷微控制器包括JTAG邊界掃描電路和調試電路。
專利摘要本實用新型提供了一種液晶顯示模塊測試系統，PC機、驅動被測試LCM工作的測試控制電路、JTAG接口、電源模塊和串行適配器，所述PC機通過所述串行適配器與所述JTAG接口相連，所述JTAG接口與所述測試控制電路相連，所述電源模塊與所述測試控制電路和串行適配器相連，為所述測試控制電路和所述串行適配器提供工作電源，該液晶顯示模塊測試系統利用串行適配器和JTAG接口支持系統非侵入式(不占用片內資源)、全速、在系統調試。該測試系統支持觀察和修改存儲器和寄存器，支持斷點、單步、運行和停機命令。在使用JTAG調試時，所有的模擬和數字外設都可全功能運行。
文檔編號G02F1/13GK201266286SQ200820146930
公開日2009年7月1日 申請日期2008年8月23日 優先權日2008年8月23日
發明者于海濤, 何志強, 衛 馮, 云 楊, 奪 龔 申請人:比亞迪股份有限公司