專利名稱：成像機構的碳粉清潔方法及使用該方法的成像機構的制作方法
技術領域：
本發明涉及 一 種成像機構的碳粉清潔方法及使用該方法的成 像機構，特別是一種無刮刀的成像機構的碳粉清潔方法及使用該 方法的成像結構。
背景技術：
現今的圖像成像裝置如打印機、傳真機以及復印機的工作原 理是在成像機構中將原稿的影像或資料轉換成光線，使表面布滿 靜電的感光組件曝光，經由感光組件旋轉至碳粉盒，使碳粉附著 到該感光組件上的未曝光的部份，并再經過轉寫以及定影作用， 便可以在紙上打印出圖文資料。在上述圖像成像裝置的工作過程 中，并非所有在感光組件上的碳粉皆會吸附在紙上。由于碳粉的 直徑并不一致，電場力對大顆碳粉及小顆碳粉都不同，使得小顆 碳粉較不易附著于紙上，而殘留在該感光組件上，因此為了確保 下 一次打印的品質，該感光組件必須加以清潔。
請參見圖1,圖1為現今成像機構的示意圖。成像機構100 主要包含成像單元110、清除單元120以及感光元件116。其中， 清除單元120借助一對固定臂126對稱的裝設于成像單元110的 殼體上，該清除單元120具有刮刀122以及一阻擋片124。該成 像單元100在碳粉清潔過程中，該刮刀122接觸感光元件116將 感光元件116上殘余的碳粉刮除，同時阻擋片124阻扭被刮除而 沿感光元件116滑落的碳粉。通過清潔單元120中的刮刀122以 及阻擋片124的配合，實現該成像單元碳粉的清潔
由上述可知，現有的多數成像機構需要具有刮刀的清潔單元 來實現碳粉的清理，成像機構需要增加額外的空間來容納該清除 單元，造成成像機構的體積較大
發明內容
為了解決現今成像機構的清潔碳粉時需要利用具有刮刀的清 潔單元而造成成像機構體積增大的問題，需要提供的一種新的成 像機構的碳粉清潔方法，令到成像機構無需刮刀也能實現碳粉清潔。
為了達到以上目的，本發明提供一種成像機構的碳粉清潔方 法，其特征在于，利用一控制單元，令一感光元件的電壓小于一 成像組件的電壓、該成像組件的電壓小于 一碳粉供應組件的電壓， 使該碳粉從該感光元件流向該碳粉供應組件，進而令-炭粉從該碳 粉供應組件回到 一碳粉儲存盒，實現殘留于感光元件表面上的碳 粉的清潔。
本發明還提供一種成像機構，其包括 一個感光元件； 一充 電輥，用以對該感光元件充電； 一碳粉儲存盒，用以儲存一碳粉； 一個成像組件，用以將該碳粉移轉到該感光元件中具有電子影像 的位置； 一個碳粉供應組件，用以將該碳粉送到成像組件上；以 及一控制單元，用以控制該感光元件、成像組件以及石友粉供應組 件的電壓大小。
本發明提供的成像機構的碳粉清潔方法，其利用 一控制單元， 令一感光元件的電壓小于一成像組件的電壓、該成像組件的電壓 小于 一碳粉供應組件的電壓，令碳粉從感光元件流回到碳粉儲存 盒，實現碳粉清潔過程，無需使用具有刮刀的清潔單元，不僅減 少成像機構占用的體積，也降低了該成像機構的生產成本。
圖1為現今成像機構的示意圖。 圖2為成像機構中碳粉清潔過程的示意圖。 圖3為充電輥、控制感光元件、成像組件以及碳粉供應組件 的電壓時序圖。
圖4為充電輥、感光元件以及成像組件上的點的線速度示意圖。
圖5為成像組件與碳粉供應組件的相對電壓差相對于成像組
5件表面碳粉密度的曲線圖。
圖6為成像機構的成像過程示意圖。
具體實施例方式
成像機構的碳粉清潔方法請參見圖2。成像機構200在碳粉 清潔的過程中，是利用控制單元208令感光元件202的電壓為0V， 成^象組件204的電壓為300V,碳粉供應組件206的電壓為450V, 也就是說令感光元件202的電壓小于成像組件204的電壓、成像 組件204的電壓小于碳粉供應組件206的電壓。感光元件202、 成像組件204以及碳粉供應組件206的電壓被設置成上迷大小后， 則碳粉216會從感光元件202流經成像組件204、碳粉供應組件 206最后到碳粉儲存盒214，最終感光元件202上的碳粉被清潔干 凈，實現成像機構的碳粉清潔過程。
控制感光元件202、成像組件204以及碳粉供應組件206的 電壓時序圖請參見圖3。在本實施例中成像組件204的電壓(+Vdr ) 最大為300V，碳粉供應組件206的電壓(+Vsr)最大為450V。 當成像機構200進行一清潔過程時(Tl時間段)，感光元件202 的電壓小于成像組件204的電壓，成像組件204的電壓小于碳粉 供應組件206的電壓，碳粉216從感光元件202流到成像組件204、 碳粉供應組件206最后到碳粉儲存盒214，實現碳粉清潔。而當 成像機構200進行一成像過程時(T2時間段)，控制單元208令 成像組件204以及碳粉供應組件206的電壓反轉，使得感光組件 202的電壓大于成像組件204的電壓(-Vdr),成像組件204的電 壓大于碳粉供應組件206的電壓(-Vsr ),因此，碳粉216從碳粉 儲存盒214流到碳粉供應組件206、感光組件202、最后到流到成 像組件204，實現一成像動作。
本發明提供的成像機構的碳粉清潔方法，其利用 一控制單元 208,令一感光元件202的電壓小于一成像組件204的電壓、該成 <象組件204的電壓小于一碳粉供應組件206的電壓，令碳粉216 從感光元件202流回到碳粉儲存盒214，實現碳粉清潔過程，無需使用額外的清潔單元，不僅減少成像機構占用的體積，也降低 了該成像機構的生產成本。
請參見圖4，為了增加碳粉的清潔效果，本發明的成像機構 的碳粉清潔方法可擇一增加以下三種方法來提升清潔效果[l]利 用控制單元208 (圖4中未畫出)令感光元件202上與成4象組件 204接觸的點的線速度大于成像組件204上與感光元件202接觸 的點的線速度來刮除刮除感光元件202上堆積的碳粉;，[2]利用控 制單元208令感光元件202上與成像組件204接觸的點的線速度 小于成像組件204上與感光元件202接觸的點的線速度來刮除刮 除感光元件202上堆積的碳粉；[3]利用控制單元208令感光元件 202上與成像組件204接觸的點的線速度與成像組件204上與感 光元件202接觸的點的線速度的方向相反來刮除刮除感光元件 202上堆積的碳粉。圖4中畫的是感光元件202上與成像組件204 接觸的點的線速度226與成像組件204上與感光元件202接觸的 點的線速度226的方向相反。另外兩種刮除碳粉的方法沒有在圖 4中畫出。上述三種方法均能夠將感光元件202上的破粉刮除， 該碳粉被刮除后，結合本發明的清潔碳粉的基本方法，碳粉被引 導回到碳粉儲存盒214，碳粉的清潔效果被提升。
再參見圖4，本發明的成像機構的碳粉清潔方法又可擇一增 加以下三種方法來提升清潔效果[l]利用控制單元208令充電輥 212上與感光元件202接觸的點的線速度大于感光元件202上與 沖電輥212接觸的點的線速度來刮除感光元件202堆積的碳粉； [2]利用控制單元208令充電輥212上與感光元件202接觸的點 的線速度小于于感光元件202上與沖電輥212接觸的點的線速度 來刮除感光元件202堆積的碳粉；[3]利用控制單元208令充電 輥212上與感光元件202接觸的點的線速度與感光元件202上與 沖電輥212接觸的點的線速度的方向相反來刮除感光元:件202堆 積的碳粉。圖4中畫的是充電輥212上與感光元件202接觸的點 的線速度220與感光元件202上與沖電輥212接觸的點的線速度 222的方向相反。另外兩種刮除碳粉的方法沒有在圖4中畫出。同樣感光元件202上的碳粉216被刮除后，碳粉216被引導回到 碳粉儲存盒214,碳粉的清潔效果被提升。
本發明的成像機構的碳粉清潔方法再可利用控制單元208控 制成像組件202與碳粉供應元件204電壓差來提高碳粉回收效率。 圖5為成像組件202與碳粉供應組件204的相對電壓差相對于成 像組件表面碳粉密度的曲線圖。在本發明中，可以在清潔過程中 將成像組件202與碳粉供應組件204的相對電壓差控制在區間a 之內，提高碳粉清潔效果。如圖5所示，在區間a中，成像組件 與石友粉供應組件的相對電壓差在-200V到-150V之間，真對應的成 像組件的碳粉濃度在0.5 mg/cm2到1.5 mg/cm2之間，濃度較低。又 因為在碳粉的清潔過程中，碳粉的流向是從感光元件流到成像組 件、碳粉供應組件最后到碳粉儲存盒，在圖5中的碳粉在成像組 件上的濃度較低，也就是說從感光元件流到成像組件的碳粉被轉 移回碳粉儲存盒中，碳粉回收得到提高。
使用該成像機構的碳粉清潔方法的成像機構的結構請參見圖 6成像機構200包括一感光元件202、 一成像組件204、 一碳粉供 應組件206、 一轉印滾輪210、 一充電輥212以及一碳粉儲存盒 214。其中該成像組件204,用以將碳粉儲存盒214中的一碳粉216 移轉至感光元件202中具有電子影像的位置；該碳粉供應組件 206,設于該碳粉儲存盒214與該成像組件之間204，可將碳粉216 送到成像組件204上或將該碳粉216由該成像組件204上送到該 碳粉儲存盒214內； 一控制單元208,可控制感光元件202、成像 組件204以及碳粉供應組件206的電壓以及感光元件202、成像 組件204和充電輥212的表面速度；該轉印滾輪210,用以將感 光元件202上的碳粉216轉印到紙張218上，轉印滾輪210也起 到傳遞紙張的作用；充電輥212用以對感光元件202充電；碳粉 儲存盒214，用以儲存碳粉。在本發明中，感光元件202為感光 鼓，成像組件204為成像滾軸，碳粉供應組件206為碳粉供應滾 輪。該成像機構為負電成像機構。在成像機構200中，控制單元 208對成像機構200的成像以及清潔過程的切換進行控制。成像機構200的成像過程請參見圖4以及圖6，充電輥212 對感光元件202充電，控制單元208令感光元件202的電壓為0V， 成像組件204的電壓為-300V，碳粉供應組件206的電壓為-450V, 也就是說感光元件202的電壓大于成像組件204的電壓，成像組 件204的電壓大于碳粉供應組件206的電壓，碳粉216從碳粉儲 存盒214流到碳粉供應組件206、成像組件204最后到感光元件 202，在通過轉印滾輪210將將感光元件202上的碳粉216轉印到 紙張218上實現成像過程。在圖4中成像機構200成像過程為T2 時間段。而成像機構200的碳粉清潔過程跟上面描述的碳粉清潔 過程一致。
以上所述僅為本發明的較佳實施例，凡依據本發明作出的均 等變化，均在本發明的權利要求之內。
權利要求
1. 一種成像機構的碳粉清潔方法，其特征在于，利用一控制單元，令一感光元件的電壓小于一成像組件的電壓、該成像組件的電壓小于一碳粉供應組件的電壓，使該碳粉從該感光元件流向該碳粉供應組件，進而令碳粉從該碳粉供應組件回到一碳粉儲存盒，實現殘留于感光元件表面上的碳粉的清潔。
2. 如權利要求1所述的成像機構的碳粉清潔方法，其特征在于， 在清潔殘留于感光元件表面上的碳粉的過程中，所述控制單 元指令感光元件上與成像組件接觸的點的線速度不同于成像 組件上與感光元件接觸的點的線速度。
3. 如權利要求1所述的成像機構的碳粉清潔方法，其特征在于， 在清潔殘留于感光元件表面上的碳粉的過程中，所述控制單 元指令感光元件上與成像組件接觸的點的線速度與:成像組件 上與感光元件接觸的點的線速度的方向相反。
4. 如權利要求1所述的成像機構的碳粉清潔方法，其特征在于， 在清潔殘留于感光元件表面上的碳粉的過程中，該控制單元 指令充電輥上與感光元件接觸的點的線速度不同于感光元件 上與沖電輥接觸的點的線速度。
5. 如權利要求1所述的成像機構的碳粉清潔方法，其特征在于， 在清潔殘留于感光元件表面上的碳粉的過程中，該控制單元 指令充電輥上與感光元件接觸的點的線速度與感光元件上與 沖電輥接觸的點的線速度的方向相反。
6. —種成像機構，其特征在于，包括一個感光元件；一充電輥，用以對該感光元件充電； 一碳粉儲存盒，用以儲存一碳粉；一個成像組件，用以將該碳粉移轉到該感光元件中具有電 子影像的位置；一個碳粉供應組件，設于該碳粉儲存盒與該成像組件之 間，用以將該碳粉由該碳粉儲存盒送到該成像組件上或將 該碳粉由該成像組件上送到該碳粉儲存盒內；以及一控制單元，用以控制該感光元件、成像組件以及碳粉供 應組件的電壓大小，使該碳粉自該碳粉儲存盒轉移到該成 像組件上或使該碳粉自該成像組件轉移到該碳粉儲存盒 內。
7 如權利要求6所述的成像^L構，其特征在于該控制單元還用 以控制該感光元件、成像組件以及充電輥上的點的線速度的 大小以及方向。
全文摘要
一種成像機構的碳粉清潔方法，利用一控制單元，令一感光元件的電壓小于一成像組件的電壓、該成像組件的電壓小于一碳粉供應組件的電壓，使該碳粉從該感光元件流向該碳粉供應組件，進而令碳粉從該碳粉供應組件回到一碳粉儲存盒，實現殘留于感光元件表面上的碳粉的清潔。該成像機構的碳粉清潔方法利用一控制單元，令一感光元件的電壓小于一成像組件的電壓、該成像組件的電壓小于一碳粉供應組件的電壓，令碳粉從感光元件流回到碳粉儲存盒，實現碳粉清潔過程，無需使用具有刮刀的清潔單元，不僅減少成像機構占用的體積，也降低了該成像機構的生產成本。
文檔編號G03G21/00GK101424916SQ200810198380
公開日2009年5月6日 申請日期2008年9月4日 優先權日2008年9月4日
發明者蔡家強 申請人:旭麗電子(廣州)有限公司;光寶科技股份有限公司