專利名稱：一種液晶顯示裝置發光參數的校正方法及裝置的制作方法
技術領域：
本發明屬于液晶顯示領域，尤其涉及一種液晶顯示裝置發光參數的校正方 法及裝置。
背景技術：
現在采用LED背光模組的液晶顯示裝置已經出現，但是在這種液晶顯示裝 置的生產過程中，由于LED的離散性或者其它的原因可能會導致液晶顯示裝置 的光學參數不能滿足要求，比如亮度不均勻甚至偏色，為了解決這一問題，在 LED裝機之前，廠家會對每個LED進行嚴格的挑選，然后再把合格的LED安 裝到液晶顯示裝置上，但是這樣會導致生產效率低下和成本高，目前還沒有有 效的辦法來解決這個問題。
發明內容
本發明的目的在于提供一種液晶顯示裝置發光參數的校正方法，旨在解決 現有的液晶顯示裝置在生產的過程中存在效率低下和成本高的問題。
本發明是這樣實現的， 一種液晶顯示裝置發光參數的校正方法，所述方法 包括下述步驟
對液晶顯示裝置顯示屏不同區域的光學參數進行測試；
將測得的所述光學參數與標準值進行比較，并通過對光學參數不符合標準 值的相應區域的LED發光參數進行校正，使所述光學參數符合標準值。
本發明的另一目的在于提供一種液晶顯示裝置發光參數的校正裝置，所述 校正裝置包括光學測試設備，用于對液晶顯示裝置顯示屏不同區域的光學參數進行測試；
以及
測試控制單元，用于控制調節光學測試設備的空間位置，對液晶顯示裝置 顯示屏不同區域的光學參數進行測試，將測得的光學參數與標準值進行比較，
并通過對光學參數不符合標準值的相應區域的LED發光參數進行校正，使所述 光學參數符合標準值。
本發明實施例中，在生產液晶顯示裝置的過程中，采用液晶顯示裝置發光
數進行校正，使光學參數符合標準值，從而解決了現有的液晶顯示裝置在生產 的過程中存在效率低下和成本高的問題。
圖1是本發明實施例提供的液晶顯示裝置發光參數的校正方法流程圖； 圖2是本發明實施例提供的液晶顯示裝置發光參數的校正裝置的結構圖； 圖3是本發明實施例提供的測試控制單元的結構圖。
具體實施例方式
為了使本發明的目的、技術方案及優點更加清楚明白，以下結合附圖及實 施例，對本發明進行進一步詳細說明。應當理解，此處所描述的具體實施例僅 僅用以解釋本發明，并不用于限定本發明。
在本發明實施例中，液晶顯示裝置采用LED背光模組，液晶顯示裝置顯示 屏某區域的光學參數與該區域的單顆LED的發光參數或多顆LED的發光參數 相關。
圖1示出了本發明實施例提供的液晶顯示裝置發光參數的校正方法流程， 詳述如下
在步驟S101中，為液晶顯示裝置提供特定顯示圖像；在步驟S102中，對液晶顯示裝置顯示屏不同區域的光學參數進行測試； 在步驟S103中，將測得的光學參數與標準值進行比較，如果光學參數不符 合標準值，則執行S104,如果光學參數符合標準值，則結束；
數進行校正，并對校正后的所述光學參數進行重新測試，以確定所述光學參數 是否符合標準值，如果符合標準值則結束，如果不符合則需要進行重新校正； 校正的過程具體包括
將測得的所述光學參數與標準值進行比較，根據所述光學參數相對于標準 值的超標幅度百分比得到使所述光學參數接近標準值的補償系數；
根據所述補償系^:生成校正所述LED發光參數的發光系數信號，并向液晶 顯示裝置發送發光系數信號，通過對所述LED發光參數進行校正，使所述光學 參數符合標準值。
圖2示出了本發明實施例提供的液晶顯示裝置發光參數的校正裝置的結 構，為了便于說明，^l示出了與本發明相關的部分。
液晶顯示裝置發光參數的校正裝置包括光學測試設備1、測試設備支架2、 測試控制單元3和圖像發生器5,測試控制單元3和圖像發生器5分別與液晶 顯示裝置4連接。
測試控制單元3為運行于計算機等設備的軟件系統，圖3示出了本發明實 施例提供的測試控制單元的結構。
測試之前，在測試控制單元3的測試設備支架控制模塊301里設置多個測 試位置信息，測試進行時，圖像發生器5為液晶顯示裝置4提供特定顯示圖像， 測試控制單元3首先控制光學測試設備1處于測試亮度的工作狀態，作為本發 明的一個示例，測試控制單元3也可以控制光學測試設備1處于測試色坐標的 工作狀態，這樣光學測試設備1可以對液晶顯示裝置顯示屏不同種類的光學參 數進行測試，測試設備支架控制模塊301根據該測試位置信息控制測試設備支 架2調節光學測試設備1的空間位置，使光學測試設備1在所述多個測試位置上對液晶顯示裝置4顯示屏上與之相對應的亮度參數進行測試，作為本發明的
一個示例，測試設備支架控制模塊301控制光學測試設備1只測試液晶顯示裝
置顯示屏上部分區域的亮度參數，作為本發明的另一個示例，測試設備支架控
制模塊301控制光學測試設備1對液晶顯示裝置顯示屏上所有區域的亮度參數 進行測試，然后，光學測試設備1將測試得到的液晶顯示裝置的亮度參數發送 給測試控制單元3，測試某個區域的亮度參數時，可以是只點亮該區域的LED 而關閉其它區域的LED,也可以是不管測試什么區域的亮度參數，都將所有 LED點亮。
測試標準值配置模塊302用于配置光學參數所滿足的標準值，該標準值通 常是所有光學參數采樣值的平均值，測試控制單元3的比較分析模塊303將測 得的液晶顯示裝置顯示屏不同區域的亮度參數與從測試標準值配置模塊302得 到的亮度參數標準值進行比較，如果測得某個區域的亮度參數不符合亮度參數 標舉值，根據該亮度參數相對于標準值的超標幅度百分比得到促使亮度參數接 近標準值的補償系數，然后，發光參數校正模塊304根據所述補償系數生成校 正該區域的LED發光參數的發光系數信號，并向液晶顯示裝置發送發光系數信 號，通過對該區域的LED發光參數進行校正，使該區域的亮度參數符合標準值。
然后，測試控制單元3再控制光學測試設備1對校正后的所述亮度參數進 行重新測試，以確定亮度參數是否符合標準值，如果符合標準值則完成整個工 作，如果不符合則需要進行重新校正。
本發明實施例中，在生產液晶顯示裝置的過程中，采用液晶顯示裝置發光
數進行校正，使光學參數符合標準值，從而解決了現有的液晶顯示裝置在生產 的過程中存在效率低下和成本高的問題。
以上所述僅為本發明的較佳實施例而已，并不用以限制本發明，凡在本發 明的精神和原則之內所作的任何修改、等同替換和改進等，均應包含在本發明 的保護范圍之內。
權利要求
1、一種液晶顯示裝置發光參數的校正方法，其特征在于，所述方法包括下述步驟對液晶顯示裝置顯示屏不同區域的光學參數進行測試；將測得的所述光學參數與標準值進行比較，并通過對光學參數不符合標準值的相應區域的LED發光參數進行校正，使所述光學參數符合標準值。
2、 如權利要求1所述的校正方法，其特征在于，所述將測得的所述光學參參數進行校正，使所述光學參數符合標準值的步驟具體為將測得的所述光學參數與標準值進行比較，根據所述光學參數相對于標準值的超標幅度百分比得到使所述光學參數接近標準值的補償系數；根據所述補償系數生成校正所述LED發光參數的發光系數信號，并向液晶顯示裝置發送發光系數信號，通過對所述LED發光參數進行校正，使所述光學參數符合標準值。
3、 如權利要求1所述的校正方法，其特征在于，所述對液晶顯示裝置顯示屏不同區域的光學參數進行測試的步驟之前，還包括以下步驟為液晶顯示裝更提供特定顯示圖,像。
4、 如權利要求1或2所述的校正方法，其特征在于，所述將測得的所述光學參數與標準值進行比較，并通過對光學參數不符合標準值的相應區域的LED發光參數進行校正，使所述光學參數符合標準值的步驟之后，還包括以下步驟對校正后的所述光學參數進行重新測試，以確定所述光學參數是否符合標準值，如果符合標準值則完成整個工作，如果不符合則需要進行重新校正。
5、 如權利要求4所述的校正方法，其特征在于，所述光學參數包括亮度或色坐標。
6、 如權利要求1所述的校正方法，其特征在于，所述液晶顯示裝置顯示屏不同區域的光學參數與該區域的單顆LED的發光參數或多顆LED的發光參數相關。
7、 一種液晶顯示裝置發光參數的校正裝置，其特征在于，所述校正裝置包括光學測試設備，用于對液晶顯示裝置顯示屏不同區域的光學參數進行測試;以及測試控制單元，用于控制調節光學測試設備的空間位置，對液晶顯示裝置顯示屏不同區域的光學參數進行測試，將測得的光學參數與標準值進行比較，并通過對光學參數不符合標準值的相應區域的LED發光參數進行校正，使所述光學參數符合標準值。
8、 如權利要求7所述的校正裝置，其特征在于，所述校正裝置還包括測試設備支架，用于支撐光學測試設備，接收測試控制單元發送的控制信號，調節光學測試設備的空間位置。
9、 如權利要求7或8所述的校正裝置，其特征在于，所述校正裝置還包括圖像發生器，用于為液晶顯示裝置提供特定顯示圖像。
10、 如權利要求9所述的校正裝置，其特征在于，所述測試控制單元包括測試設備支架控制模塊，用于控制測試設備支架調節光學測試設備的空間位置；測試標準值配置模塊，用于配置光學參數所滿足的標準值；比較分析模塊，用于將測得的所述光學參數與標準值進行比較，根據所述光學參數相對于標準值的超標幅度百分比得到使所述光學參數接近標準值的補償系數；以及發光參數校正模塊，用于根據所述補償系數生成校正所述LED發光參數的發光系數信號，并向液晶顯示裝置發送發光系數信號，通過對所述LED發光參數進行校正，使所述光學參數符合標準值。
全文摘要
本發明適用于液晶顯示領域，提供了一種液晶顯示裝置發光參數的校正方法及裝置，液晶顯示裝置發光參數的校正裝置包括光學測試設備、測試設備支架、測試控制單元和圖像發生器。本發明中，在生產液晶顯示裝置的過程中，采用液晶顯示裝置發光參數的校正裝置，可以通過對光學參數不符合標準值的相應區域的LED發光參數進行校正，使光學參數符合標準值，從而解決了現有的液晶顯示裝置在生產的過程中存在效率低下和成本高的問題。
文檔編號G02F1/13GK101470276SQ20071012553
公開日2009年7月1日 申請日期2007年12月27日 優先權日2007年12月27日
發明者邵詩強 申請人:Tcl集團股份有限公司