專利名稱：一種改進結構的電檢夾具的制作方法
技術領域：
本實用新型涉及一種電檢夾具，特別涉及一種液晶面板驅動電路 板的電檢夾具。
背景技術：
液晶面板驅動電路板的電性指標關系著液晶面板的質量，但此電
路板是PCB貼裝電路板，用肉眼是無法判斷其質量，需借用檢測設備 對電路板的電性指示進行測試。目前，檢測夾具本體中只設置一片夾 具用檢測電路板，如圖2所示，單片檢測平均時間為45秒，生產效 率低。
發明內容
本實用新型的技術問題是要提供一種提高產率的液晶面板驅動 電路板的電檢夾具。
為解決以上的技術問題，本實用新型提供一種改進結構的電檢夾 具，包括一夾具本體和電路板，其中，在夾具本體內平行固設有多片 電路板，可對多片電路板的電性指標進行同步檢測。
所述的電路板，其平行相向放置。
所述的電路板，其數量為兩片。
本實用新型的優越功效在于可同時對兩片電路板進行檢測，檢 測平均時間為57秒，單位作業效率提高了 37%，日產量提高了30%， 有效地提高了生產效率。
圖1為本實用新型的結構示意圖2為本實用新型改進前的結構示意圖； 圖3為本實用新型的檢測程序流程圖。 附圖中標號說明
l一夾具本體； 2—電路板。
具體實施方式
請參閱附圖1所示，對本實用新型作進一步地描述。
本實用新型提供一種改進結構的電檢夾具，在一夾具本體1內設
有平行放置的多片電路板2，可對多片電路板2的電性指標進行同步 檢測。
所述的電路板2，其平行相向放置。 所述的電路板2，其數量為兩片。
電檢夾具接受兩片電路板發出的兩路信號，送入主程序處理，主 程序同時對兩路信號的電性指標進行檢測分析，檢測出良品和不合格 品，并對不良數據進行采集和存儲。
權利要求1、一種改進結構的電檢夾具，包括一夾具本體和電路板，其特征在于在一夾具本體上固設有多片電路板。
2、 根據權利要求1所述的一種改進結構的電檢夾具，其特征在于 所述的電路板，其平行相向放置。
3、 根據權利要求1所述的一種改進結構的電檢夾具，其特征在于-所述的電路板，其數量為兩片。
專利摘要本實用新型提供一種改進結構的電檢夾具，在一夾具本體內設有平行放置的多片電路板，可對多片電路板的電性指標進行同步檢測，所述的電路板平行相向放置。本實用新型的優點為可同時對兩片電路板進行檢測，檢測平均時間為57秒，提高了日產量，有效地提高了生產效率。
文檔編號G02F1/13GK201060339SQ20062004758
公開日2008年5月14日 申請日期2006年11月8日 優先權日2006年11月8日
發明者董偉杰 申請人:上海廣電住金微電子有限公司