專利名稱：判定液晶顯示板磨削量的指示符和檢測磨削故障的方法
技術領域：
本發明涉及一種液晶顯示板，尤其涉及一種用來判定液晶顯示板磨削量的指示符和用該指示符檢測磨削故障的方法。雖然本發明適于較寬的應用范圍，不過本發明尤其適于在把較大的母板襯底切割為多個單位液晶板之后，簡化磨削單個液晶顯示板的邊緣部分中的磨削檢測過程。
按照慣例，通過用一切割輪(wheel)在母板襯底的表面上形成一條劃線的方法，進行單位LCD板的切割，該切割輪的硬度大于玻璃并且能在母板襯底上劃出一條劃線。以下將參照附圖描述一種LCD裝置的制造方法。
圖1是一示意性剖視圖，它示出包括薄膜晶體管陣列襯底的第一母板襯底和包括濾色器襯底的第二母板襯底。第一母板襯底和第二母板襯底相互附著在一起，由此形成多個單位LCD板。
參見圖1，形成這些單位LCD板，以使薄膜晶體管陣列襯底1的一側形成得突出于濾色器襯底2。這是因為選通襯墊(gate pad)單元(圖中未示)和數據襯墊(data pad)單元(圖中未示)形成于未與濾色器襯底2交疊的薄膜晶體管陣列襯底1的邊緣部分處。
因此，對于虛擬區31的區域來說，形成于第二母板襯底30上的濾色器襯底2是分開形成的，虛擬區31對應于薄膜晶體管陣列襯底1在第一母板襯底20上伸出的區域。
而且，令各單位LCD板定位于有效利用第一母板襯底20和第二母板襯底30。根據該模型，對于虛擬區32的區域來說，單位LCD板是分開形成的。
包括薄膜晶體管陣列襯底1的第一母板襯底20和包括濾色器襯底2的第二母板襯底30相互附著在一起。之后，將這些LCD板切割成單獨的板。此時，同時去除形成第二母板襯底30的濾色器襯底2的虛擬區31和用來分開單位LCD板的虛擬區32。
在將第二母板襯底30切割成多個單位LCD板之后，去除用來阻止靜電的一條短線，該短線形成于薄膜晶體管陣列襯底1的邊緣部分處。在該方法中，單位LCD板的銳角轉角受到磨削。當在薄膜晶體管陣列襯底1上形成導電膜時，短線上可能發生靜電。而且，通過磨削LCD板的銳角轉角，工件不會因為外力沖撞而與單位LCD板的轉角分開，并且能夠在制造過程中防止操作人員因單位LCD板銳角轉角而受到傷害。
以下將參照附圖描述傳統單位LCD板的磨削方法和磨削量的檢測方法。
圖2是該傳統單位LCD板的示意性平面圖。
參見圖2，一單位LCD板10包括一圖像顯示單元13，液晶盒以一矩陣形式排列；一選通襯墊單元14，它用來將圖像顯示單元13的多條選通線GL1至GLm接至選通驅動集成電路(圖中未示)，該電路加有一選通信號；和一數據襯墊單元15，它用來將圖像顯示單元13的多條數據線DL1至DLn接至數據驅動集成電路(圖中未示)，該電路加有圖像信息。在薄膜晶體管陣列襯底1的邊緣部分上，形成選通襯墊單元14和數據襯墊單元15，與濾色器襯底2相比，該邊緣部分的兩個側邊都是突出的。
在數據線DL1至DLn與選通線GL1至GLm垂直交叉的區域上，其中形成一用來開關液晶盒的薄膜晶體管。形成一象素電極，以使其接至薄膜晶體管，用以驅動液晶盒。在整個表面上形成一鈍化膜，以保護數據線DL1至DLn、選通線GL1至GLm、各薄膜晶體管和各電極。
而且，用來電短路導電膜的短線(圖中未示)形成于薄膜晶體管陣列襯底1的邊緣部分，以去除可能產生于在薄膜晶體管陣列襯底1上形成數據線DL1至DLn、選通線GL1至Glm和電極中的靜電。
在圖像顯示單元13的濾色器襯底2上，通過具有黑色矩陣的液晶盒區涂敷和分開多個濾色器。在薄膜晶體管陣列襯底1上形成與象素電極相對應的公共透明電極。
在薄膜晶體管陣列襯底1與濾色器襯底2之間形成盒間隙，以便兩個襯底相互間隔開并且相互面對。通過一密封單元(圖中未示)連接薄膜晶體管陣列襯底1和濾色器襯底2，該密封單元形成于圖像顯示單元13的外部。在薄膜晶體管陣列襯底1與濾色器襯底2之間的空間形成一液晶層(圖中未示)。
另一方面，形成多個標記50a至50j并且使其相互分開，用以為數據線DL1至DLn、選通線GL1至GLm定位，以接觸選通驅動集成電路和數據驅動集成電路的多個管腳。
必須磨削上面的單位LCD板10，以使其如圖2中擴展區EX1所示，自單位LCD板10的端部到磨削線R1有一斜邊。但是，單位LCD板10的實際磨削線有一自磨削線R1開始的誤差范圍D1。若該誤差在誤差范圍D1之外，則確定該磨削有故障。
為了檢測該故障，操作人員必須使受磨削的單位LCD板10離開生產線達一預定時間段。然后，應當借助位于測量設備中的高放大率照相機或投影儀，用另外的設備檢測單位LCD板10的實際磨削線是否在誤差范圍D1之外。
在傳統液晶顯示板的磨削檢測方法中，使受磨削的單位液晶板10離開生產線達一預定時間段。然后，借助另外的設備檢測該單位LCD板，以用位于測量設備中的高放大率照相機或投影儀確定該單位LCD板10的實際磨削線是否在誤差范圍D1之外。
如前所述，在操作人員將單位液晶板與生產線分開以測量受切割單位LCD板磨削量之后，用測量設備檢驗磨削量的操作很復雜，也很麻煩。這樣，產量降低得如測量單位LCD板磨削量的時間那么多。
由于額外需要一種昂貴的測量設備，所以增加了安裝費用和保養與維修費用，由此提高了產品的成本。
而且，由于在一預定時間段內通過對單位LCD板采樣來進行磨削量的測量，所以降低了檢測的可靠性。還有，完成的單位LCD板可能會受到處理。操作停止，并且包括未采樣板的所有液晶顯示板的磨削量都應在磨削出現故障時受到檢測。因此嚴重地浪費了原材料和時間。
本發明的另一個目的在于提供一種用來判定液晶顯示板磨削量的指示符和用該指示符檢測磨削故障的方法，該方法簡化了在切割裝配在母板襯底上液晶顯示板之后磨削單位LCD板邊緣部分過程中的磨削檢測過程。
本發明的其他特征和優點將在以下的描述中列出，根據該描述，它們一部分將變得很明顯，或者可以通過對本發明的實踐得以學會。通過在以下所寫的說明書及其權利要求書以及附圖中特別指出的結構，可以實現和得到部分的這些目的和其他優點。
為了實現根據本發明目的的這些和其他優點，如所具體實施和概括描述的那樣，一種用來判定一液晶顯示板磨削量的指示符包括至少一個形成于液晶顯示板的一選通襯墊單元和一數據襯墊單元上的定位標記；和至少一個用來檢測選通襯墊單元和定位標記的第一端部與數據襯墊單元和定位標記的第二端部之間磨削量的圖案。
在本發明的另一個方面，一種液晶顯示板磨削量的檢測方法包括磨削一液晶顯示板的邊緣部分，該邊緣部分在一選通襯墊單元和一數據襯墊單元上具有至少一個定位標記，并且該邊緣部分有一用來檢測選通襯墊單元和定位標記的第一端部與數據襯墊單元和定位標記的第二端部之間磨削量的圖案；通過檢驗該圖案，判定液晶顯示板的磨削量。
應理解的是，前面總的描述和以下詳細的描述都是示例和解釋性的，意欲用它們提供如所要求保護的本發明的進一步解釋。
這些附圖中圖1是一示意性剖視圖，它示出將包括薄膜晶體管陣列襯底的第一母板襯底和包括濾色器襯底的第二母板襯底相互附著以形成多個液晶顯示(LCD)板；圖2是一傳統單位LCD板的平面圖和定位標記部分的放大圖；圖3是一示意圖，它示出根據本發明第一實施例用于檢測一LCD板磨削量的指示符；圖4是一示意圖，它示出根據本發明第二實施例用于檢測一LCD板磨削量的指示符。
圖3是一示意圖，它示出根據本發明第一實施例具有用于檢測一LCD板磨削量圖案的指示符。
如圖3所示，一單位LCD板100包括圖像顯示單元113，它具有以矩陣形式排列的液晶盒；選通襯墊單元114，它用來將圖像顯示單元113的多條選通線GL1至GLm接至選通驅動集成電路(圖中未示)，該電路上加有一選通信號；和一數據襯墊單元115，它用來將圖像顯示單元113的多條數據線DL1至DLn接至數據驅動集成電路(圖中未示)，該電路上加有圖像信息。此時，在薄膜晶體管陣列襯底101突出得比濾色器襯底102長的邊緣部分上，形成選通襯墊單元114和數據襯墊單元115。
在數據線DL1至DLn與選通線GL1至GLm垂直相交的區域，形成一用于開關液晶盒的薄膜晶體管。形成一象素電極，以使其接至該薄膜晶體管，用以驅動液晶盒。在整個表面上形成一鈍化膜，以保護數據線DL1至DLn、選通線GL1至GLm、各薄膜晶體管和各電極。
而且，用來電短路導電膜的短線(圖中未示)形成于薄膜晶體管陣列襯底101的邊緣部分，以消除可能產生于在薄膜晶體管陣列襯底101上形成導電膜如一數據線、一選通線和一電極中的靜電。
在圖像顯示單元113的濾色器襯底102上，通過具有黑色矩陣的液晶盒區涂敷和分開多個濾色器。在薄膜晶體管陣列襯底101上形成與象素電極相對應的公共透明電極。
在薄膜晶體管陣列襯底101與濾色器襯底102之間形成盒間隙，以便兩個襯底相互間隔開并且相互面對。通過一密封層(圖中未示)連接薄膜晶體管陣列襯底101和濾色器襯底102，該密封層形成于圖像顯示單元113的外部。在薄膜晶體管陣列襯底101與濾色器襯底102之間的空間形成一液晶層(圖中未示)。
另一方面，形成預定數目的敲制標記(tap mark)150a至150j并且使其相互分開，用以為數據線DL1至DLn、選通線GL1至GLm定位，以接觸選通驅動集成電路和數據驅動集成電路的多個管腳。例如，如圖3所示，在選通襯墊單元114上形成三個敲制標記150a至150c并且使其相互分開，在數據襯墊單元115上形成7個敲制標記150d至150j以使其相互分開。
必須磨削上面的單位LCD板100，以使其如圖3中擴展區EX1所示，自單位LCD板100的端部到磨削線R1有一斜邊。但是，單位LCD板100的實際磨削線有一自磨削線R1開始的誤差范圍D1。這樣，若該誤差在誤差范圍D1之外，則確定該磨削有故障。
按照慣例，操作人員必須從生產線上取出受磨削的單位液晶顯示板100達一預定時間段。用另外的設備檢測所選的單位液晶顯示板，以用位于該檢測設備上的高放大率照相機或投影儀確定該單位LCD板100的實際磨削線是否在誤差范圍D1之外。
但是，在本發明的實施例中，如圖3所示，在與誤差范圍D1相對應的區上形成判斷磨削量的圖案120。在誤差范圍D1的中間形成磨削線R1。此時，將誤差范圍D1設定為從磨削線R1起約±100□。理想的是，當在選通襯墊單元114上形成判斷磨削量120的圖案時，同時形成該圖案和選通線GL1至GLm。當在數據襯墊單元115上形成判斷磨削量120的圖案時，同時形成該圖案和數據線DL1至DLn。
所以，用裸眼確定單位液晶顯示板100的實際磨削線是否在誤差范圍D1之外。
也就是說，如果用來判定完成的單位LCD板100磨削量120的所觀察的圖案根本沒有受到磨削，那么應當進行更進一步的磨削。如果所觀察的圖案彎曲受到了磨削以致沒有留下圖案的任何一部分，那么磨削得過度了。
采用根據本發明第一實施例用來判定LCD板磨削量的圖案和用該圖案檢測磨削故障的方法，無需另外的測量儀器，并且與傳統的LCD及其方法不同，對所有的單位LCD板100確定磨削故障。
圖4是一示意圖，它示出了具有根據本發明第二實施例用來檢測LCD板磨削量的圖案的指示符。
圖4中的單位LCD板100包括圖像顯示單元113，它具有以矩陣形式排列的液晶盒；選通襯墊單元114，它用來將圖像顯示單元113的多條選通線GL1至GLm接至選通驅動集成電路(圖中未示)，該電路上加有一選通信號；和一數據襯墊單元115，它用來將圖像顯示單元113的多條數據線DL1至DLn接至數據驅動集成電路(圖中未示)，該電路上加有圖像信息。在薄膜晶體管陣列襯底101從濾色器襯底102伸出的垂直和水平邊構成的邊緣部分上，形成選通襯墊單元114和數據襯墊單元115。
在數據線DL1至DLn與選通線GL1至GLm垂直相交的區域，形成一用于開關液晶盒的薄膜晶體管。形成一象素電極，以使其接至該薄膜晶體管，用以驅動液晶盒。在整個表面上形成一鈍化膜，以保護數據線DL1至DLn、選通線GL1至GLm、各薄膜晶體管和各電極。
而且，用來電短路導電膜的短線(圖中未示)形成于薄膜晶體管陣列襯底101的邊緣部分，以去除可能產生于在薄膜晶體管陣列襯底101上形成導電膜如一數據線、一選通線和一電極中的靜電。
在圖像顯示單元113的濾色器襯底102上，形成通過具有黑色矩陣的液晶盒區分開的多個濾色器，并且在薄膜晶體管陣列襯底101上形成與象素電極相對應的公共透明電極。
在薄膜晶體管陣列襯底101與濾色器襯底102之間形成盒間隙，以便兩個襯底相互間隔開并且相互面對。通過一密封層(圖中未示)連接薄膜晶體管陣列襯底101和濾色器襯底102，該密封層形成于圖像顯示單元113的外部。在薄膜晶體管陣列襯底101與濾色器襯底102之間的空間形成一液晶層(圖中未示)。
形成多個敲制標記150a至150j并且使其相互分開，用以為數據線DL1至DLn、選通線GL1至GLm定位，以接觸選通驅動集成電路和數據驅動集成電路的多個管腳。例如，如圖4所示，在選通襯墊單元114上形成三個敲制標記150a至150c并且使其相互分開，在數據襯墊單元115上均勻地分開形成7個敲制標記150d至150j。
必須磨削上面的單位LCD板100，以使其如圖3中擴展區EX1所示，自單位LCD板100的端部END1到磨削線R1有一斜邊。單位LCD板100的實際磨削線可以有一自磨削線R1開始的誤差范圍D1。若該實際磨削線在誤差范圍D1之外，則確定該磨削有故障。
在本發明的第二實施例中，在誤差范圍D1的區上分開形成判斷磨削量的多個圖案220a至220o，該誤差范圍D1包括在誤差范圍區中間的磨削線R1。
通過將一距離劃分成一恒定的標度，用裸眼檢驗用來檢測一磨削量的圖案220a至220o，該距離例如是從誤差范圍D1的中間部分內磨削線R1起約±100□。這樣，這些圖案可以有約200□的寬度。
例如，如圖4所示，當在中央部分形成用來檢測一磨削量的三個圖案220g至220i時，第一區處于向單位LCD板100的端部END1的方向上，第二區處于向敲制標記150j的方向上。用磨削線R1分開第一區和第二區。
具有用來檢測一磨削量的圖案220b至220f的第一區形成得更靠近敲制標記150j。與圖案220b相同的圖案220a形成于距中央圖案220g至220i最遠處。
具有用來檢測一磨削量的圖案220j至220n的第二區在一恒定距離水平上形成得更靠近單位LCD板100的端部END1。類似地，與圖案220n相同的圖案220o形成于距中央圖案220g至220i最遠處。
形成在最遠處外側形成的圖案220a和220o，用以可靠地判斷磨削故障，同時形成于中央部分上的三個圖案220g至220i用來確定單位LCD板100的實際受磨削的線和磨削線R1是否彼此相同。
可以用多個顯示標記檢測單位LCD板100的實際磨削量。例如，可以在對應于圖案220a至220o形成敲制標記150j的區的邊緣部分以一恒定的標度采用數字符號如(-10，-8，-6，-4，-2，-0，2，4，6，8，10)。如果誤差范圍D1是從磨削線R1起約±100□，則數字(-10，-8，-6，-4，-2，-0，2，4，6，8，10)的標度約為10□。
根據本發明的第二實施例，可以通過裸眼的檢驗確定單位LCD板100的實際磨削線是否在誤差范圍D1之外。
例如，當沒有觀察到側邊緣部分處的圖案220a和220b而觀察到完成的單位LCD板100的圖案220a至220o時，確定發生故障，因為磨削過量。相反，若另一個側邊緣部分處的圖案220a和220o根本沒有受到磨削，則確定發生故障，因為需要進一步磨削。
可以通過用裸眼檢驗來檢測單位LCD板100實際受到磨削的線和磨削線R1。此外，可以通過用高放大率的照相機檢測與圖案220a至220o相對應的數字(-10，-8，-6，-4，-2，-0，2，4，6，8，10)，在約20□的誤差范圍內檢測單位LCD板100的實際磨削量。
當形成劃分區以具有更多的圖案200a至200o從而形成更細小的標度時，可以減小約20□的誤差范圍。
因此，當開始將誤差范圍D1設定到從磨削線R1起約±100，然后變至約±80□時，根據本發明第二實施例，仍然可以通過用高放大率的照相機檢測與圖案220a至220o相對應的數字(-10，-8，-6，-4，-2，-0，2，4，6，8，10)來進行操作。
所以，根據本發明，提高了產量，因為操作人員不必從生產線上取出單位LCD板以檢驗所切割單位LCD板的磨削量，從而測量磨削量。而且，由于無需測量設備，所以降低了安裝費用和保養與維修費用。
此外，由于可以通過用裸眼簡單地檢驗來確定所有單位LCD板的磨削故障，所以與需要取出單位LCD板達一時間段的傳統方法不同，它提高了檢驗的可靠性。
按照慣例，當發生磨削故障時，必須停止制造過程以檢驗包括采樣和未采樣板的整個板。因此，可能會因磨削故障不得不處理某些已經完成的單位板。所以，大大浪費了原材料和時間。但是，本發明通過在生產線上檢查整個單位產品，避免了以上的問題。
借助用來判定LCD板磨削量的圖案和用該圖案檢測磨削故障的方法，在誤差范圍變窄時也不難執行檢測過程，因為用與判斷磨削量的圖案相對應的數字檢測單位LCD板的實際磨削量。
對本領域普通技術人員來說很明顯的是，在不脫離本發明實質或范圍的情況下，可以在用來判定一液晶顯示板磨削量的指示符和用本發明的該指示符檢測磨削故障的方法中作各種修改和變換。這樣，假定本發明的這些修改和變換落在所附權利要求書的范圍內，則意欲使本發明覆蓋它們及其等同物。
權利要求
1.一種用來判定一液晶顯示板磨削量的指示符，包括至少一個形成于液晶顯示板的一選通襯墊單元和一數據襯墊單元上的定位標記；和至少一個用來判定選通襯墊單元和定位標記的第一端部與數據襯墊單元和定位標記的第二端部之間磨削量的圖案。
2.權利要求1的指示符，其中定位標記是一敲制標記(tap mark)。
3.權利要求1的指示符，其中磨削量最佳位于該圖案在磨削方向上的中部。
4.權利要求3的指示符，其中該圖案的寬度在磨削量誤差范圍之內。
5.權利要求4的指示符，其中該誤差范圍是從圖案的中部起約±100□。
6.權利要求1的指示符，其中該圖案形成為具有一不連續形狀。
7.權利要求1的指示符，其中該圖案沿一最佳磨削線分為第一區和第二區。
8.權利要求7的指示符，其中第一區自最佳磨削線起比第二區更靠近液晶顯示板的端部。
9.權利要求7的指示符，其中第二區自最佳磨削線起比第一區更靠近定位標記。
10.權利要求7的指示符，還包括對應于每一個圖案顯示在第二區以下的一個標記，以表示一磨削量。
11.一種液晶顯示板磨削量的判定方法，包括磨削一液晶顯示板的邊緣部分，該邊緣部分在一選通襯墊單元和一數據襯墊單元上具有至少一個定位標記，并且該邊緣部分有一用來判定選通襯墊單元和定位標記的第一端部與數據襯墊單元和定位標記的第二端部之間磨削量的圖案；以及通過檢驗該圖案，判定液晶顯示板的磨削量。
12.權利要求11的方法，其中液晶顯示板具有多條選通線和數據線。
13.權利要求11的方法，其中同時形成其選通襯墊單元和選通線中的圖形。
14.權利要求11的方法，其中同時形成在數據襯墊單元和數據線中的圖形。
15.權利要求11的方法，其中定位標記是一敲制標記。
16.權利要求11的方法，其中磨削量最佳位于該圖案在磨削方向上的中部。
17.權利要求16的方法，其中該圖案的寬度在磨削量誤差范圍之內。
18.權利要求17的方法，其中該誤差范圍是從圖案的中部起約±100□。
19.權利要求11的方法，其中該圖案形成為具有一不連續形狀。
20.權利要求11的方法，其中該圖案沿一最佳磨削線分為第一區和第二區。
21.權利要求20的方法，其中第一區自最佳磨削線起比第二區更靠近液晶顯示板的端部。
22.權利要求20的方法，其中第二區自最佳磨削線起比第一區更靠近定位標記。
23.權利要求20的方法，其中通過顯示在第二區以下的一個標記區分該圖案。
全文摘要
本發明中公開了一種用來判定一液晶顯示板磨削量的指示符和采用該指示符的磨削量故障判定方法。該指示符包括至少一個形成于液晶顯示板的一選通襯墊單元和一數據襯墊單元上的定位標記；和至少一個用來檢測選通襯墊單元和定位標記的第一端部與數據襯墊單元和定位標記的第二端部之間磨削量的圖案。
文檔編號G02F1/1333GK1443628SQ0211894
公開日2003年9月24日 申請日期2002年4月30日 優先權日2002年3月13日
發明者蔡景洙, 秋憲銓, 林種高 申請人:Lg.菲利浦Lcd株式會社