用于液晶屏顯示驅動芯片測試的色階測試裝置的制造方法
【專利摘要】本實用新型公開了一種用于液晶屏顯示驅動芯片測試的色階測試裝置，包括用于檢驗IC驅動引腳輸出電壓的電壓檢測裝置，所述檢測裝置入口端還連接有數字采樣器；本實用新型的優點在于：能夠滿足顯示色彩的深度比較高、驅動電壓的測試精度比較高的測試，可以在很短的時間進行繁復的測試，提高了效率。
【專利說明】
用于液晶屏顯示驅動芯片測試的色階測試裝置
技術領域
[0001]本發明涉及一種芯片測試裝置，具體地說是一種用于液晶屏顯示驅動芯片測試的色階測試裝置，屬于芯片測試裝置領域。
【背景技術】
[0002]IXD驅動控制芯片是典型的數-模混合SOC芯片，對于該類型芯片，芯片的管腳數目眾多，且多為模擬管腳，如此大規模的輸入、輸出管腳對任何一個ATE設備來說都是一個不小的挑戰，且模擬管腳測試時容易受到管腳寄生電容的影響，使得測試精度變差。其中，色階測試是LCD Driver IC最重要的測試項目。由液晶器件的顯示原理可知，IXD顯示器件的色彩表現是通過向LCD面板加不同的電壓來實現的，因此測試的方法就是在向IC輸入不同RGB信號組合的同時，檢驗IC驅動引腳的輸出電壓是否是在預期的范圍內來完成測試的。如果LCD Driver輸出的驅動電壓精度要求并不高，為了減少測試時間，通常只需要使用LCD-CP(電壓比較部件)對所有的輸出引腳同時進行測試。此項測試只比較電壓高低，不需要測定具體的電壓數值。假如顯示色彩的深度比較高，那么驅動電壓的測試精度要求就會比較高，那么IXD-CP已經無法滿足測試的要求。
【發明內容】
[0003]為了解決上述問題，本發明設計了一種用于液晶屏顯示驅動芯片測試的色階測試裝置，能夠滿足顯示色彩的深度比較高、驅動電壓的測試精度比較高的測試，可以在很短的時間進行繁復的測試，提高了效率。
[0004]本發明的技術方案為:
[0005]用于液晶屏顯示驅動芯片測試的色階測試裝置，包括用于檢驗IC驅動引腳輸出電壓的電壓檢測裝置，所述檢測裝置入口端還連接有數字采樣器。
[0006]由于LCD顯示器件的色彩表現是通過向LCD面板加不同的電壓來實現的。因此，測試時在向芯片(IC)輸入不同RGB信號組合的同時，檢驗IC驅動引腳的輸出電壓是否是在預期的范圍內來完成測試的。
[0007]本實用新型通過數字采樣器(Digitizer)來連續地進行電壓采樣，這樣就可以在很短的時間進行此項繁復的測試了。在這種情況下，由于LCD輸出引腳數量很大，可以同時進行電壓采樣的數字采樣器的數量與所需的測試時間成反比，增加同步工作的數字采樣器的數量將會節約測試時間，大幅降低IC的相對生產成本。
[0008]本發明的優點在于:能夠滿足顯示色彩的深度比較高、驅動電壓的測試精度比較高的測試，可以在很短的時間進行繁復的測試，提高了效率。
[0009]下面結合附圖和實施例對本發明作進一步說明。
【附圖說明】
[0010]圖1為本發明實施例的結構示意圖。
【具體實施方式】
[0011]以下對本發明的優選實施例進行說明，應當理解，此處所描述的優選實施例僅用于說明和解釋本發明，并不用于限定本發明。
[0012]實施例1
[0013]如圖1所示，一種用于液晶屏顯示驅動芯片測試的色階測試裝置，包括用于檢驗IC驅動引腳輸出電壓的電壓檢測裝置，所述檢測裝置入口端還連接有數字采樣器。
[0014]由于LCD顯示器件的色彩表現是通過向LCD面板加不同的電壓來實現的。因此，測試時在向芯片(IC)輸入不同RGB信號組合的同時，檢驗IC驅動引腳的輸出電壓是否是在預期的范圍內來完成測試的。
[0015]本實用新型通過數字采樣器(Digitizer)來連續地進行電壓采樣，這樣就可以在很短的時間進行此項繁復的測試了。在這種情況下，由于LCD輸出引腳數量很大，可以同時進行電壓采樣的數字采樣器的數量與所需的測試時間成反比，增加同步工作的數字采樣器的數量將會節約測試時間，大幅降低IC的相對生產成本。
[0016]最后應說明的是:以上所述僅為本發明的優選實施例而已，并不用于限制本發明，盡管參照前述實施例對本發明進行了詳細的說明，對于本領域的技術人員來說，其依然可以對前述各實施例所記載的技術方案進行修改，或者對其中部分技術特征進行等同替換。凡在本發明的精神和原則之內，所作的任何修改、等同替換、改進等，均應包含在本發明的保護范圍之內。
【主權項】
1.用于液晶屏顯示驅動芯片測試的色階測試裝置，其特征在于:包括用于檢驗IC驅動引腳輸出電壓的電壓檢測裝置，所述檢測裝置入口端還連接有數字采樣器。
【文檔編號】G09G3/00GK205645200SQ201520969253
【公開日】2016年10月12日
【申請日】2015年12月1日
【發明人】劉春來, 張東
【申請人】北京自動測試技術研究所