數據補償器以及包括其的顯示裝置的制造方法

數據補償器以及包括其的顯示裝置的制造方法
【專利摘要】提供了一種數據補償器以及包括其的顯示裝置。所述數據補償器包括參考壓降產生器、壓降測量器、補償數據產生器和輸出塊。參考壓降產生器產生與多個像素當中的第一像素的R、G和B數據對應的參考壓降。壓降測量器基于像素的R、G和B數據來計算像素的像素壓降并且輸出第一像素的第一像素壓降。補償數據產生器基于第一像素壓降與參考壓降之間的差來產生補償第一像素的亮度失真和第一像素的色坐標失真的R、G和B補償數據。輸出塊通過分別將第一像素的R、G和B數據和R、G與B補償數據相加來產生補償的R、G和B數據。
【專利說明】
數據補償器w及包括其的顯示裝置
技術領域
[0001] 運里描述的一個或更多個實施例設及一種數據補償器W及一種包括數據補償器 的顯示裝置。
【背景技術】
[0002] 有機發光顯示裝置使用有機發光二極管產生圖像。每個二極管基于電子和空穴在 有源層中的復合而發光。發射的光基于來自驅動晶體管的電流而具有灰階值。電流是按照 與圖像數據對應的量來提供的。
[0003] 在操作中，可能橫跨向像素提供電源電壓和數據信號的布線出現壓降（IR-化op)。 壓降會對圖像質量產生不利的影響。例如，壓降可造成向像素提供的電源電壓比所施加的 電源電壓低。低電壓影響流動通過像素的驅動TFT的電流量，由此使顯示裝置的長距離均 勻性（long range uniformity, LRU)下降。

【發明內容】

[0004] 根據一個或更多個實施例，一種數據補償器包括：參考壓降產生器，產生與顯示面 板中的多個像素當中的第一像素的R、G和B數據對應的R、G和B參考壓降；壓降測量器， 基于像素的R、G和B數據來計算像素的像素壓降，所述像素的R、G和B數據被順序地輸入 作為第一像素的R、G和B數據，壓降測量器用于輸出第一像素的第一像素壓降；補償數據產 生器，基于第一像素壓降與R、G和B參考壓降之間的差來產生補償第一像素的亮度失真和 第一像素的色坐標失真的R、G和B補償數據，亮度失真和色坐標失真與第一像素壓降對應； 輸出塊，通過分別將第一像素的R、G和B數據與R、G和B補償數據相加來產生補償的R、G 和B數據。
[0005] 參考壓降產生器可基于灰度級與參考壓降之間的預定義關系來產生與第一像素 的R、G和B數據對應的R、G和B參考壓降。
[0006] 參考壓降產生器可存儲表示預定義關系的公式，參考壓降產生器可通過將第一像 素的R、G和B數據的灰度級分配為預定義關系的灰度級來產生R、G和B參考壓降。
[0007] 參考壓降產生器可存儲表示預定義關系的查找表，參考壓降產生器可基于查找表 來產生與第一像素的R、G和B數據的灰度級對應的R、G和B參考壓降。
[0008] 補償數據產生器可產生R、G和B補償數據，R、G和B補償數據中的每個可與第一 像素壓降與R、G和B參考壓降之間的差成比例。
[0009] 當第一像素壓降大于R、G和B參考壓降中的每個時，補償數據產生器可產生具有 正值的R、G和B補償數據。
[0010] 當第一像素壓降基本上等于R、G和B參考壓降中的每個時，補償數據產生器可產 生值為0的R、G和B補償數據。當第一像素壓降小于R、G和B參考壓降中的每個時，補償 數據產生器可產生具有負值的R、G和B補償數據。壓降測量器可二維方式計算第一像 素壓降。
[0011] 像素可被劃分成第一塊至第（腳塊，壓降測量器可包括：塊壓降測量器，基于像素 的R、G和B數據來計算與測量塊對應的塊壓降；塊壓降存儲器，存儲塊壓降；像素壓降計算 器，通過內插存儲在塊壓降存儲器中的多個塊壓降來產生第一像素壓降。
[0012] 塊壓降測量器可包括：系數表，輸出與電流阱塊坐標和測量塊坐標對應的X軸壓 降分布系數和Y軸壓降分布系數，電流阱塊坐標用于指向電流阱塊，測量塊坐標用于指向 測量塊；塊電流計算器，用于基于像素的R、G和B數據和電流阱塊坐標來輸出電流阱塊的電 流；坐標產生器，產生測量塊坐標并產生移動通過第一塊至第（腳塊的所有坐標的電流阱 塊坐標；塊壓降計算器，基于X軸壓降分布系數、Y軸壓降分布系數和電流阱塊的電流來計 算測量塊的塊壓降，所述測量塊的塊壓降通過第一塊至第（腳塊的電流產生，塊壓降計算 器用于輸出測量塊的塊壓降作為塊壓降。
[0013] 塊電流計算器可包括：電流轉換器，將像素的R、G和B數據轉換成多個像素電流； 塊電流加法器，存儲與包括在第一塊至第（腳塊當中的第（K)塊中的像素對應的像素電流 的和作為第（K)塊的電流化是小于或等于N的自然數）；多路復用器，輸出與第一塊至第 (腳塊的電流當中的電流阱塊坐標對應的塊的電流作為電流阱塊的電流。
[0014] 第一 X軸壓降分布系數在第一矢量和第二矢量關于X軸對稱時可等于第二X軸壓 降分布系數，第一 X軸壓降分布系數可與第一電流阱塊坐標和第一測量塊坐標對應，第二X 軸壓降分布系數可與第二電流阱塊坐標和第二測量塊坐標對應，第一矢量可從第一電流阱 塊坐標到第一測量塊坐標，第二矢量可從第二電流阱塊坐標到第二測量塊坐標。
[0015] 系數表可僅存儲第一 X軸壓降分布系數和第二X軸壓降分布系數當中的第一 X軸 壓降分布系數，系數表可響應于第二電流阱塊坐標和第二測量塊坐標而輸出第一 X軸壓降 分布系數。
[0016] 第一 X軸壓降分布系數在第一矢量和第二矢量關于Y軸對稱時可等于第二X軸壓 降分布系數，第一 X軸壓降分布系數可與第一電流阱塊坐標和第一測量塊坐標對應，第二X 軸壓降分布系數可與第二電流阱塊坐標和第二測量塊坐標對應，第一矢量可從第一電流阱 塊坐標到第一測量塊坐標，第二矢量可從第二電流阱塊坐標到第二測量塊坐標。
[0017] 系數表可僅存儲第一 X軸壓降分布系數和第二X軸壓降分布系數當中的第一 X軸 壓降分布系數，系數表可響應于第二電流阱塊坐標和第二測量塊坐標而輸出第一 X軸壓降 分布系數。
[0018] 根據一個或更多個其他實施例，一種顯示裝置包括：顯示面板，包括多個像素；數 據補償器，基于像素當中的第一像素的R、G和B數據來產生補償的R、G和B數據；時序控 制器，基于補償的R、G和B數據來產生數據驅動器控制信號和掃描驅動器控制信號；數據驅 動器，基于數據驅動器控制信號來產生多個數據信號，數據驅動器用于通過多條數據信號 線而將數據信號提供到像素；W及掃描驅動器，用于基于掃描驅動器控制信號而產生多個 掃描信號，掃描驅動器用于通過多條掃描信號線而將掃描信號提供到像素。
[0019] 數據補償器可包括：參考壓降產生器，產生與第一像素的R、G和B數據對應的R、G 和B參考壓降；壓降測量器，基于像素的R、G和B數據來計算像素的像素壓降，所述像素的 R、G和B數據被順序地輸入作為第一像素的R、G和B數據，壓降測量器用于輸出第一像素 的第一像素壓降；補償數據產生器，基于第一像素壓降和R、G和B參考壓降來產生R、G和B 補償數據W補償第一像素的失真，失真由第一像素壓降產生；化及輸出塊，通過分別將第一 像素的R、G與B數據和R、G和B補償數據相加來產生補償的R、G和B數據。
[0020] 當顯示裝置按照第一模式操作W減少第一像素的亮度失真和第一像素的色坐標 失真時，補償數據產生器可基于第一像素壓降與R、G和B參考壓降之間的差來產生R、G和 B補償數據W同時減少亮度失真和色坐標失真，當顯示裝置按照第二模式操作W減少功耗 時，補償數據產生器可基于第一像素壓降來產生R、G和B補償數據W減少亮度失真。
[0021] 根據一個或更多個其他實施例，一種非暫時性計算機可讀介質存儲用于控制顯示 裝置的操作的代碼，所述代碼包括：第一代碼，用于產生與多個像素當中的第一像素的R、G 和B數據對應的R、G和B參考壓降；第二代碼，用于基于作為第一像素的R、G和B數據順序 地輸入的像素的R、G和B數據來計算像素的像素壓降，并且用于輸出第一像素的第一像素 壓降；第Ξ代碼，用于基于第一像素壓降與R、G和B參考壓降之間的差來產生R、G和B補 償數據W補償第一像素的亮度失真和第一像素的色坐標失真，亮度失真和色坐標失真與第 一像素壓降對應；第四代碼，用于通過分別將第一像素的R、G和B數據與R、G和B補償數 據相加來產生補償的R、G和B數據。第一代碼可基于灰度級與參考壓降之間的預定義關系 來產生與第一像素的R、G和B數據對應的R、G和B參考壓降。
【附圖說明】
[0022] 通過參照附圖詳細地描述示例性實施例，對于本領域技術人員來說特征將變得明 顯，在附圖中：
[0023] 圖1示出數據補償器的實施例；
[0024] 圖2示出灰度級與參考壓降之間的關系的示例；
[00巧]圖3示出指示灰度級與參考壓降之間的關系的查找表的示例；
[0026] 圖4和圖5示出通過補償數據產生器執行的操作的示例；
[0027] 圖6示出顯示面板的實施例；
[002引圖7示出壓降測量器的實施例；
[0029] 圖8示出壓降測量器的X軸壓降分布系數和Y軸壓降分布系數的示例；
[0030] 圖9示出用于存儲X軸壓降分布系數和Y軸壓降分布系數的系數表的示例；
[0031] 圖10至圖15示出系數表可如何重復使用X軸壓降分布系數和Y軸壓降分布系數 的實施例；
[0032] 圖16示出塊電流計算器的實施例；
[0033] 圖17示出塊壓降存儲器的實施例；
[0034] 圖18示出像素壓降計算器的實施例；
[0035] 圖19示出顯示裝置的實施例；W及
[0036] 圖20示出電子裝置的實施例。
【具體實施方式】
[0037] W下參照附圖來描述示例實施例；然而，它們可不同的形式來實施并且不應 該被解釋為局限于運里闡述的實施例。相反，運些實施例被提供為使得本公開將是徹底的 和完整的，并且將向本領域技術人員充分地傳達示例性實施方式。實施例可W組合W形成 另外的實施例。同樣的附圖標記始終表示同樣的元件。
[003引將理解的是，當元件被稱為"連接"或"結合"到另一元件時，它可直接連接或結合 到所述另一元件，或者可W存在中間元件。相反，當元件被稱為"直接連接"或"直接結合" 到另一元件時，不存在中間元件。用于描述元件之間的關系的其他詞語應該W同樣的方式 (例如，"在……之間"與"直接在……之間"，"鄰近"與"直接鄰近"等）來解讀。
[0039] 圖1示出包括參考壓降產生器RVDG 130、壓降測量器VDMU 140、補償數據產生器 CDG 120和輸出塊0G 110的數據補償器100的實施例。
[0040] 參考壓降產生器130產生與顯示面板中的多個像素當中的第一像素的R、G和B數 據RGB對應的R、G和B參考壓降RVD。壓降測量器140基于像素的R、G和B數據計算像素 的像素壓降，所述像素的R、G和B數據被順序地輸出作為第一像素的R、G和B數據RGB。
[0041] 壓降測量器140輸出第一像素的第一像素壓降PVD。補償數據產生器120基于第 一像素壓降PVD與R、G和B參考壓降RVD之間的差而產生補償第一像素的亮度失真和第一 像素的色坐標失真的R、G和B補償數據CD。亮度失真和色坐標失真由第一像素壓降PVD產 生。輸出塊110通過分別將第一像素的R、G和B數據RGB與R、G和B補償數據CD相加而 產生補償的R、G和B數據CRGB。
[0042] 參考壓降產生器130可基于灰度級與參考壓降之間的預定義關系而產生與第一 像素的R、G和B數據RGB對應的R、G和B參考壓降RVD。參照圖2和圖3來描述參考壓降 產生器130的實施例。
[0043] 壓降測量器140可二維地計算第一像素壓降PVD。參照圖7來描述壓降測量器140 的實施例。
[0044] 補償數據產生器120產生R、G和B補償數據CD，R、G和B補償數據CD中的每個 同第一像素壓降PVD與R、G和B參考壓降RVD之間的差成比例。參照圖4和圖5來描述描 述補償數據產生器120的操作的實施例。
[0045] 圖2是示出灰度級與參考壓降之間的關系的示例的曲線圖。指示運種關系的信息 可存儲在圖1的數據補償器中的參考壓降產生器中。
[0046] 參照圖2,參考壓降產生器130可存儲表示灰度級RGB GRAY SCALE和參考壓降RVD 之間的預定義關系的公式。圖2示出預定義關系的示例。根據運個示例，當第一像素的R、 G和B數據RGB之中的R數據的灰度級為108時，參考壓降產生器130產生與108對應的 15mV作為R參考壓降。當第一像素的R、G和B數據RGB之中的G數據的灰度級為108時， 參考壓降產生器130產生與108對應的15mV作為G參考壓降。當第一像素的R、G和B數 據RGB之中的B數據的灰度級為108時，參考壓降產生器130產生與108對應的15mV作為 B參考壓降。
[0047] 圖3示出指示灰度級與參考壓降之間的關系的查找表的示例。查找表可存儲在圖 1的數據補償器中的參考壓降產生器中。
[0048] 參照圖3,參考壓降產生器130存儲表示灰度級RGB GRAY SCALE與參考壓降RVD 之間的預定義關系的查找表。圖3示出查找表的示例。參考壓降產生器130基于查找表產 生分別與第一像素的R、G和B數據RGB的灰度級RGB GRAY SCALE對應的R、G和B參考壓 降RVD。可基于圖2的曲線圖來理解圖3的查找表。
[0049] 圖4和圖5示出在圖1的數據補償器中的補償數據產生器120的操作的示例。當 第一像素壓降PVD大于R、G和B參考壓降RVD中的每個時，補償數據產生器120產生具有 正值的R、G和B補償數據CD。當第一像素壓降PVD與R、G和B參考壓降RVD中的每個相 同時，補償數據產生器120產生為0的R、G和B補償數據CD。當第一像素壓降PVD小于R、 G和B參考壓降RVD中的每個時，補償數據產生器120產生具有負值的R、G和B補償數據 CD。
[0050] 參照圖4,顯示面板200A可被劃分成用相對高的亮度顯示的第一區210A和用相對 低的亮度顯示的第二區220A。第一像素 PA在第一區210A中，第二像素 PB在第二區220A 中。第一像素 PA的R數據的值為231，第一像素 PA的G數據的值為148,第一像素 PA的B 數據的值為108。第二像素 PB的R、G和B數據與第一像素 PA的R、G和B數據相同。在圖 4中，示出壓降測量器140測量出第一像素 PA的第一像素壓降為80mV且測量出第二像素 PB的第二像素壓降為30mV的情況。
[0051] 參考壓降產生器130可輸出與第一像素 PA的R數據（231)對應的第一 R參考壓 降（80mV)，可輸出與第一像素 PA的G數據（148)對應的第一 G參考壓降（30mV)，并且可輸 出與第一像素 PA的B數據（108)對應的第一 B參考壓降（15mV)。
[0052] 因為第一像素 PA的第一像素壓降（80mV)與第一 R參考壓降（80mV)相同，所W 補償數據產生器120可產生值為0的第一 R補償數據。因為第一像素 PA的第一像素壓降 (80mV)大于第一 G參考壓降（30mV)，所W補償數據產生器120可產生值為+11的第一 G補 償數據，該值同第一像素壓降（80mV)與第一 G參考壓降（30mV)之間的差巧OmV)成比例。 因為第一像素 PA的第一像素壓降（80mV)大于第一 B參考壓降（15mV)，所W補償數據產生 器120可產生值為+11的第一 B補償數據，該值同第一像素壓降（80mV)與第一 B參考壓降 (15mV)之間的差化5mV)成比例。因此，補償數據產生器120可產生與第一像素 PA的第一 像素壓降（80mV)對應的第一 R、G和B補償數據化+11，+11)。
[0053] 輸出塊110可通過分別將第一像素 PA的R、G和B數據（231，148, 108)與第一 R、 G和B補償數據化+11，+11)相加來產生第一補償R、G和B數據（231，159, 119)。
[0054] 參考壓降產生器130輸出與第二像素 PB的R數據（231)對應的第二R參考壓降 (80mV)，輸出與第二像素 PB的G數據（148)對應的第二G參考壓降（30mV)，并且輸出與第 二像素 PB的B數據（108)對應的第二B參考壓降（15mV)。
[00巧]因為第二像素 PB的第二像素壓降（30mV)小于第二R參考壓降（80mV)，所W補償 數據產生器120可產生值為-12的第二R補償數據，該值同第二像素壓降（30mV)與第二R 參考壓降（80mV)之間的差（-50mV)成比例。因為第二像素 PB的第二像素壓降（30mV)與 第二G參考壓降（30mV)相同，所W補償數據產生器120可產生值為0的第二G補償數據。 因為第二像素 PB的第二像素壓降（30mV)大于第二B參考壓降（15mV)，所W補償數據產生 器120可產生值為巧的第二B補償數據，該值同第二像素壓降（30mV)與第二B參考壓降 (15mV)之間的差（15mV)成比例。因此，補償數據產生器120可產生與第二像素 PB的第二 像素壓降（30mV)對應的第二R、G和B補償數據（-12, 0, +2)。
[0056] 輸出塊110可通過分別將第二像素 PB的R、G和B數據（231，148, 108)與第二R、 G和B補償數據（-12, 0, +2)相加而產生第二補償R、G和B數據（219, 148, 110)。
[0057] 如上所述，數據補償器100基于第一像素壓降和第二像素壓降（80mV，30mV)與第 一 R、G、B參考壓降和第二R、G、B參考壓降之間的差來補償第一像素 PA和第二像素 PB的 亮度失真和色坐標失真，其中，第一 R、G、B參考壓降和第二R、G、B參考壓降與第一像素 PA 的R、G和B數據和第二像素 PB的R、G和B數據對應。
[005引參照圖5,顯示面板200B可被劃分成用相對高的亮度顯示的第一區210B和用相對 低的亮度顯示的第二區220B。第Ξ像素 PC在第一區210B的上部中，第四像素 PD在第一 區210B的下部中。第Ξ像素 PC的R數據、G數據和B數據為255。第四像素 PD的R、G和 B數據與第Ξ像素 PC的R、G和B數據相同。在圖5中，示出壓降測量器140測量出第Ξ像 素 PC的第Ξ像素壓降為30mV且測量出第四像素 PD的第四像素壓降為90mV的情況。
[0059] 參考壓降產生器130輸出與第Ξ像素 PC的R數據（255)對應的第Ξ R參考壓降 (lOOmV)，輸出與第Ξ像素 PC的G數據（255)對應的第Ξ G參考壓降（lOOmV)，并且輸出與 第；像素 PC的B數據（255)對應的第S B參考壓降（lOOmV)。
[0060] 因為第Ξ像素 PC的第Ξ像素壓降（30mV)小于第Ξ R參考壓降（lOOmV)，所W補 償數據產生器120可產生值為-17的第SR補償數據，該值同第Ξ像素壓降（30mV)與第Ξ R參考壓降（lOOmV)之間的差（-70mV)成比例。因為第Ξ像素 PC的第Ξ像素壓降（30mV) 小于第Ξ G參考壓降（lOOmV)，所W補償數據產生器120可產生值為-17的第Ξ G補償數 據，該值同第Ξ像素壓降（30mV)與第SG參考壓降（lOOmV)之間的差（-70mV)成比例。因 為第Ξ像素 PC的第Ξ像素壓降（30mV)小于第ΞΒ參考壓降（lOOmV)，所W補償數據產生 器120可產生值為-17的第Ξ B補償數據，該值同第Ξ像素壓降（30mV)與第Ξ B參考壓降 (lOOmV)之間的差（-70mV)成比例。因此，補償數據產生器120可產生與第Ξ像素 PC的第 Ξ像素壓降（30mV)對應的第Ξ R、G和B補償數據（-17, -17, -17)。
[0061] 輸出塊110可通過分別將第Ξ像素 PC的R、G和B數據（255, 255, 255)與第Ξ R、 G和B補償數據（-17, -17, -17)相加而產生第Ξ補償R、G和B數據（238, 238, 238)。
[0062] 參考壓降產生器130可輸出與第四像素 PD的R數據（255)對應的第四R參考壓 降（lOOmV)，可輸出與第四像素 PD的G數據（255)對應的第四G參考壓降（lOOmV)，并且可 輸出與第四像素 PD的B數據（255)對應的第四B參考壓降（lOOmV)。
[006引因為第四像素 PD的第四像素壓降巧OmV)小于第四R參考壓降（lOOmV)，所W補償 數據產生器120可產生值為-3的第四R補償數據，該值同第四像素壓降巧OmV)與第四R 參考壓降（lOOmV)之間的差（-lOmV)成比例。因為第四像素 PD的第四像素壓降（90mV)小 于第四G參考壓降（lOOmV)，所W補償數據產生器120可產生值為-3的第四G補償數據，該 值同第四像素壓降巧OmV)與第四G參考壓降（lOOmV)之間的差HOmV)成比例。因為第 四像素 PD的第四像素壓降巧OmV)小于第四B參考壓降（lOOmV)，所W補償數據產生器120 可產生值為-3的第四B補償數據，該值同第四像素壓降巧OmV)與第四B參考壓降（lOOmV) 之間的差HOmV)成比例。因此，補償數據產生器120可產生與第四像素 PD的第四像素壓 降（90mV)對應的第四R、G和B補償數據（-3, -3, -3)。
[0064] 輸出塊110可通過分別將第四像素 PD的R、G和B數據（255, 255, 255)與第四R、 G和B補償數據（-3, -3, -3)相加而產生第四補償R、G和B數據（252, 252, 252)。
[0065] 圖6示出具有多個塊的顯示面板的實施例，所述多個塊中的每個塊包括多個像 素。參照圖6,顯示面板300包括第一塊至第（腳塊B11、B12、B13至6謹、821、822、823至 B2M、BN1、BN2、BN3 至 BNM。第一塊至第（腳塊 B11、B12、B13 至 B1M、B21、B22、B23 至 B2M、 BN1、BN2、BN3至B醒中的每個包括多個像素。
[006引圖7示出壓降測量器140的實施例，例如，壓降測量器140可在圖1的數據補償器 中。參照圖7,壓降測量器140包括塊壓降測量器160、塊壓降存儲器141和像素壓降計算 器142。塊壓降測量器160可包括系數表PT 162、塊電流計算器BCC 163、坐標產生器CSG 161和塊壓降計算器BVDC 164。
[0067] 塊壓降測量器160可基于圖6的顯示面板300中的像素的R、G和B數據來計算 與測量塊對應的塊壓降BVD。塊壓降存儲器BVDR 141可存儲塊壓降BVD。像素壓降計算器 PVDC 142可通過對存儲在塊壓降存儲器141中的多個塊壓降BVDS進行內插而產生第一像 素壓降PVD。參照圖17描述塊壓降存儲器141的實施例，參照圖18描述像素壓降計算器 142的實施例。
[0068] 系數表162輸出與電流阱（州rrent sink)塊坐標（m, η)和測量塊坐標（X, y)對 應的X軸壓降分布系數（Smn(x，y))和Y軸壓降分布系數燈η)。電流阱塊坐標（m，n)可指 向電流阱塊。測量塊坐標（x，y)可指向測量塊。
[0069] 塊電流計算器163可基于像素的R、G和B數據和電流阱塊坐標（m，η)而輸出電 流阱塊的電流（I皿）。坐標產生器161可產生移動通過第一塊至第（腳塊Β11、Β12、Β13至 Β1Μ、Β21、Β22、Β23至Β2Μ、ΒΝ1、ΒΝ2、ΒΝ3至ΒΝΜ的所有坐標的電流阱塊坐標（m, η)和測量 塊坐標（X，y)。塊壓降計算器164可基于X軸壓降分布系數（Smn (X，y))、Υ軸壓降分布系數 (Υη)和電流阱塊的電流（Imn)來計算測量塊的塊壓降，所述測量塊的塊壓降通過第一塊至 第㈱塊B11、B12、B13至6謹、821、822、823至821、8化、8肥、8^至8醒的電流而產生。 塊壓降計算器164可輸出測量塊的塊壓降作為塊壓降BVD。
[0070] 在一個示例實施例中，塊壓降計算器164可基于等式1來計算與測量塊坐標（X，y) 對應的塊壓降BVD。
[0071]
M)
[0072] 其中，Rs是阻抗系數，X和m分別是小于或等于Μ的自然數，y和η分別是小于或 等于Ν的自然數。每個塊可具有例如120X120個像素。另外，在一個示例中，Μ可W是9， Ν可W是16。
[0073] Υ軸壓降分布系數燈η)是當將供電電壓施加到y = 0的點處時沿Υ軸方向的壓降 比例。塊壓降計算器164可基于等式2來計算Y軸壓降分布系數燈η)。
[0074]
(2)
[0075] X軸壓降分布系數（Smn (X，y))是當將單元電流提供到與電流阱塊坐標（m, η)對應 的電流阱塊時測量塊的壓降同包括與測量塊坐標（x，y)對應的測量塊的行塊的壓降的和 之比。因此，與行塊（例如，B11、B12、B13至B1M)對應的X軸壓降分布系數之和變成1。
[0076] 圖8示出圖7的壓降測量器的X軸壓降分布系數和Y軸壓降分布系數的示例。在 圖8中，示出供電電壓施加到描述為y = 0的線且電流流到與電流阱塊坐標（m = 5, η = 8) 對應的電流阱塊CSB的情況。
[0077] Y軸壓降分布系數燈η)根據y值而增大直到值8為止，該值8是電流阱塊（CSB) 的Y軸坐標（η)。當y >8時，將Y軸壓降分布系數燈η)固定為8。與第屯行塊對應的X 軸壓降分布系數（Sw(x，7))的和變成1。與測量塊坐標化7)對應的X軸壓降分布系數 松,8巧，7))是 0.070。
[0078] 圖9示出存儲圖8的X軸壓降分布系數和Y軸壓降分布系數并且可被包括在圖7 的壓降測量器中的系數表的示例。參照圖9,系數表162包括與所有電流阱塊坐標對應的多 個查找表LUT1至LUTk W及LUTy。
[0079] 在系數表162中，根據電流阱塊坐標（m，η)來選擇查找表LUT1至Link中的一個。 系數表162輸出所選擇的查找表中的X軸壓降分布系數當中的與測量塊坐標（x，y)對應的 X軸壓降分布系數作為第一像素的X軸壓降分布系數（Smn (X，y))。
[0080] 系數表162可基于實施等式2的查找表LUTy來輸出與測量塊坐標（X，y)對應的 Y軸壓降分布系數作為第一像素的Y軸壓降分布系數燈η)。
[0081] 圖10至圖15示出圖9的系數表可如何重復使用X軸壓降分布系數和Υ軸壓降 分布系數的示例。參照圖10和圖11，因為第一矢量VEC1和第Ξ矢量VEC3關于X軸對 稱，同第一電流阱塊坐標（2, 16)和第一測量塊坐標（1，16)對應的第一 X軸壓降分布系數 位,16(1，16))可與同第二電流阱塊坐標（1，16)和第3則量塊坐標化16)對應的第立乂軸 壓降分布系數（Si,ie(2, 16))相同。第一矢量VEC1在圖10中是從第一電流阱塊坐標（2, 16) 到第一測量塊坐標（1，16)。第Ξ矢量VEC3在圖11中是從第二電流阱塊坐標（1，16)到第 Ξ測量塊坐標（2, 16)。
[0082] 系數表162可僅存儲第一 X軸壓降分布系數和第ΞΧ軸壓降分布系數 位,16 (1，16)，Si, 16 (2, 16))當中的第一 X軸壓降分布系數位,16 (1，16))。系數表162基 于第二電流阱塊坐標（1，16)和第Ξ測量塊坐標（2, 16)而輸出第一 X軸壓降分布系數 位,16 (1, 16))。
[0083] 參照圖10和圖11，因為第二矢量VEC2和第四矢量VEC4關于X軸對稱，所W 同第一電流阱塊坐標（2, 16)和第二測量塊坐標（1，14)對應的第二X軸壓降分布系數 位,16(1，！4))可與同第二電流阱塊坐標（1，1的和第四測量塊坐標化！4)對應的第四X軸 壓降分布系數（Si,ie(2, 14))相同。第二矢量VEC2在圖10中是從第一電流阱塊坐標（2, 16) 到第二測量塊坐標（1，14)。第四矢量VEC4在圖11中是從第二電流阱塊坐標（1，16)到第 四測量塊坐標（2, 14)。
[0084] 系數表162可僅存儲第二X軸壓降分布系數和第四X軸壓降分布系數 位,16 (1，14)，Si, 16 (2, 14))當中的第二X軸壓降分布系數位,16 (1，14))。系數表162基 于第二電流阱塊坐標（1，16)和第四測量塊坐標（2, 14)而輸出第二X軸壓降分布系數 (S2,ie(l，14))。可基于前面的描述來理解圖10和圖11的剩余部分。
[0085] 參照圖12和圖13,因為第五矢量VE巧和第屯矢量VEC7關于Y軸對稱，所W 同第Ξ電流阱塊坐標（1，15)和第五測量塊坐標（1，16)對應的第五X軸壓降分布系數 (Si,u(l，16))可與同第四電流阱塊坐標（1，16)和第屯測量塊坐標（1，15)對應的第屯X軸 壓降分布系數（Si,ie(l，15))相同。第五矢量VE巧在圖12中是從第Ξ電流阱塊坐標（1，15) 到第五測量塊坐標（1，16)。第屯矢量VEC7在圖13中是從第四電流阱塊坐標（1，16)到第 屯測量塊坐標（1，15)。
[0086] 系數表162可僅存儲第五X軸壓降分布系數和第屯X軸壓降分布系數 咕,15(1，16)，Si,16(1，15))當中的第五X軸壓降分布系數咕,15(1，16))。系數表162基 于第四電流阱塊坐標（1，16)和第屯測量塊坐標（1，15)而輸出第五X軸壓降分布系數 咕'巧(1，16))。
[0087] 參照圖12和圖13,因為第六矢量VEC6和第八矢量VEC8關于Y軸對稱，所W 同第Ξ電流阱塊坐標（1，15)和第六測量塊坐標（3, 16)對應的第六X軸壓降分布系數 咕,15化16))可與同第四電流阱塊坐標（1，16)和第八測量塊坐標（3, 15)對應的第八X軸 壓降分布系數（Si,ie(3, 15))相同。第六矢量VEC6在圖12中是從第Ξ電流阱塊坐標（1，15) 到第六測量塊坐標（3, 16)。第八矢量VEC8在圖13中是從第四電流阱塊坐標（1，16)到第 八測量塊坐標（3, 15)。
[0088] 系數表162可僅存儲第六X軸壓降分布系數和第八X軸壓降分布系數 咕,15(3, 16)，Si,ie(3, 15))當中的第六X軸壓降分布系數咕,15(3, 16))。系數表162基 于第四電流阱塊坐標（1，16)和第八測量塊坐標（3, 15)而輸出第六X軸壓降分布系數 (Si, 15 (3, 16))。可基于前面的描述來理解圖12和圖13的剩余部分，可基于與圖10和圖13 有關的前面的描述來理解圖14和圖15。
[0089] 圖16示出在圖7的壓降測量器中的塊電流計算器163的實施例。參照圖16,塊 電流計算器163包括電流轉換器171、塊電流加法器172和多路復用器173。塊電流加法器 172包括與在圖6的顯示面板300中的第一塊至第（腳塊B11、B12、B13至B1M、B21、B22、 623至821、8化、8肥、8^至8醒對應的第一塊電流寄存器至第（腳塊電流寄存器1?11、1?12、 R13 至 R1M、R21、R22、R23 至 R2M、RN1、RN2、RN3 至 RNM。
[0090] 電流轉換器171將作為第一像素的R、G和B數據RGB順序地輸入的像素的R、G和 B數據轉換成多個像素電流CUR。
[0091] 塊電流加法器172將與第一塊B11中的像素對應的像素電流的和存儲到第一塊電 流寄存器R11作為第一塊的電流。塊電流加法器172將與包括在第二塊B12中的像素對應 的像素電流的和存儲到第二塊電流寄存器R12作為第二塊的電流。可基于前面的描述來理 解剩余的塊電流寄存器R13至R1M、R21、R22、R23至R2M、RN1、RN2、RN3至RNM。
[0092] 多路復用器173輸出與電流阱塊坐標（m，η)對應的塊的電流作為電流阱塊的電流 (Imn) 〇
[0093] 圖17示出在圖7的壓降測量器中的塊壓降存儲器141的實施例。參照圖17,塊壓 降存儲器141包括第一塊壓降寄存器BVDRS1、第二塊壓降寄存器BVDRS2和第Ξ塊壓降寄 存器BVDRS3。第一塊壓降寄存器BVDRS1包括多個塊壓降寄存器BVDR11、BVDR12、BVDR13 至BVDR1M。第二塊壓降寄存器BVDRS2包括多個塊壓降寄存器BVDR21、BVDR22、BVDR23至 BVDR2M。第Ξ塊壓降寄存器BVDRS3包括多個塊壓降寄存器BVDR31、BVDR32、BVDR33至 BVDR3M。
[0094] 在示例實施例中，當Μ為9且測量塊坐標（X，y)從（1，1)順序地移動到（1，9)時， 塊壓降存儲器141將與測量塊坐標對應的測量塊的塊壓降BVD順序地存儲到化1)塊壓降 寄存器BVDR31至化M)塊壓降寄存器BVDR3M(第一存儲過程）。
[0095] 在第一存儲過程之后，塊壓降存儲器141可將第Ξ塊壓降寄存器BVDRS3的存儲值 移位甜IFT1到第二塊壓降寄存器BVDRS2,并且可將第二塊壓降寄存器BVDRS2的存儲值移 位甜IFT2到第一塊壓降寄存器BVDRS1。然后，測量塊坐標（x，y)從化1)順序地移動到 (2, 9)，塊壓降存儲器141可W將與測量塊坐標對應的測量塊的塊壓降BVD順序地存儲到 (3, 1)塊壓降寄存器BVDR31至化Μ)塊壓降寄存器BVDR3M(第二存儲過程）。
[0096] 在第二存儲過程之后，塊壓降存儲器141可將第Ξ塊壓降寄存器BVDRS3的存儲值 移位甜IFT1到第二塊壓降寄存器BVDRS2,并且可將第二塊壓降寄存器BVDRS2的存儲值移 位甜IFT2到第一塊壓降寄存器BVDRS1。然后，測量塊坐標（x，y)從化1)順序地移動到 (3, 9)，塊壓降存儲器141可W將與測量塊坐標對應的測量塊的塊壓降BVD順序地存儲到 (3, 1)塊壓降寄存器BVDR31至化M)塊壓降寄存器BVDR3M(第Ξ存儲過程）。
[0097] 圖18示出圖7的像素壓降計算器的操作的示例。在圖18中，示出塊包括120X120 個像素的情況。在參照圖17描述的第Ξ存儲過程之后，像素壓降計算器142計算與坐標 (80, 80)對應并且包括在第一塊B11中的第一像素 P1的像素壓降PVD。
[009引在第Ξ存儲過程之后，（1，1)塊壓降寄存器BVDR11的存儲值是第一塊B11的第 一塊壓降BVD1，（1，2)塊壓降寄存器BVDR12的存儲值是第二塊B12的第二塊壓降BVD2， (2, 1)塊壓降寄存器BVDR21的存儲值是第Ξ塊B21的第Ξ塊壓降BVD3,化2)塊壓降寄存 器BVDR22的存儲值是第四塊B22的第四塊壓降BVD4。
[0099] 當第一塊壓降BVD1的值為A，第二塊壓降BVD2的值為B，第Ξ塊壓降BVD3的值為 C，并且第四塊壓降BVD4的值為D時，像素壓降計算器142通過使用80:40的比例對第一塊 壓降BVD1和第Ξ塊壓降BVD3進行內插來生成值為（A+20/3的第一內插壓降IVD1。像素 壓降計算器142通過使用80:40的比例對第二塊壓降BVD2和第四塊壓降BVD4進行內插來 生成值為度巧D)/3的第二內插壓降IVD2。像素壓降計算器142通過使用80:40的比例對 第一內插壓降IVD1和第二內插壓降IVD2進行內插來生成值為（A巧B+2C+4D)/9的第一像 素 P1的第一像素壓降PVD。
[0100] 圖19示出包括顯示面板520、數據補償器（C0MP)550、時序控制器540、數據驅動器 510和掃描驅動器530的顯示裝置500的實施例。顯示面板520包括多個像素521。
[0101] 數據補償器550基于像素521當中的第一像素的R、G和B數據RGB來產生補償的 R、G和B數據CRGB。時序控制器540基于補償的R、G和B數據CRGB來產生數據驅動器控 制信號DCS和掃描驅動器控制信號SCS。數據驅動器510基于數據驅動器控制信號DCS來 產生多個數據信號，并且通過多條數據信號線D1、D2至DN將數據信號提供到像素521。掃 描驅動器530基于掃描驅動器控制信號SCS來產生多個掃描信號，并且通過多條掃描信號 線S1、S2至SM將掃描信號提供到像素521。
[0102] 根據前述實施例中的任一個，數據補償器550包括參考壓降產生器、壓降測量器、 補償數據產生器和輸出塊。參考壓降產生器產生與第一像素的R、G和B數據RGB對應的 R、G和B參考壓降。壓降測量器基于作為第一像素的R、G和B數據RGB順序地輸入的像素 521的R、G和B數據來計算像素521的像素壓降。壓降測量器輸出第一像素的第一像素壓 降。補償數據產生器基于第一像素壓降和R、G、B參考壓降來產生補償第一像素的失真的 R、G和B補償數據。失真由第一像素壓降產生。輸出塊通過分別將第一像素的R、G和B數 據與R、G和B補償數據相加來產生補償的R、G和B數據CRGB。數據補償器550可例如與 圖1的數據補償器100對應。
[0103] 當顯示裝置500 W第一模式操作W使第一像素的亮度失真和色坐標失真最小化 時，補償數據產生器可基于第一像素壓降與R、G和B參考壓降之間的差來產生同時使亮度 失真和色坐標失真減小或最小化的R、G和B補償數據。當顯示裝置500 W第二模式操作W 使功耗最小化時，補償數據產生器可基于第一像素壓降來產生使亮度失真減小或最小化的 R、G和B補償數據。
[0104] 圖20示出包括處理器610、存儲器裝置620、存儲裝置630、輸入/輸出（I/O)裝置 640、電源650和顯不裝置660的電子裝置600的實施例。電子裝置600還可包括用于與視 頻卡、聲卡、存儲卡、通用串行總線扣SB)裝置、其他電子裝置等進行通信的多個端口。
[0105] 處理器610可執行各種計算功能。處理器610可W是微處理器、中央處理單元 (CPU)等。處理器610可通過地址總線、控制總線、數據總線等結合到其他元件。此外，處理 器610可結合到諸如外圍元件互連（PCI)總線的擴展總線。
[0106] 存儲器裝置620可存儲用于電子裝置600的操作的數據。例如，存儲器裝置620可 包括諸如可擦除可編程只讀存儲巧PROM)裝置、電可擦除可編程只讀存儲巧EPROM)裝置、 閃存裝置、相變隨機存取存儲（PRAM)裝置、電阻隨機存取存儲（RRAM)裝置、納米浮置柵存 儲（NFGM)裝置、聚合物隨機存取存儲（PoRAM)裝置、磁性隨機存取存儲（MRAM)裝置、鐵電 隨機存取存儲（FRAM)裝置等的至少一種非易失性存儲裝置和/或諸如動態隨機存取存儲 值RAM)裝置、靜態隨機存取存儲（SRAM)裝置、移動DRAM裝置等的至少一種易失性存儲裝 置。
[0107] 存儲裝置630可W是固態驅動（SSD)裝置、硬盤驅動（皿D)裝置、CD-ROM裝置等。 I/O裝置640可W是諸如鍵盤、小型鍵盤、觸摸板、觸摸屏、鼠標等的輸入裝置W及諸如打印 機、揚聲器等的輸出裝置。電源650可W為電子裝置600的操作供電。顯示裝置660可通 過總線或其他通信鏈路與其他元件通信。顯示裝置660可W是例如圖19的顯示裝置500。 [010引電子裝置600可W是智能電話、數字或3D電視、計算機監視器、家用電器、膝上型 電腦、數碼相機、蜂窩電話、個人數字助理、便攜式多媒體播放器、MP3播放器、便攜式游戲控 制臺、導航系統、視頻電話或其他類型的裝配有顯示器的電子裝置。
[0109] 根據另一實施例，非暫時性計算機可讀介質存儲用于控制顯示裝置的操作的代 碼。代碼可控制計算機、控制器、處理器、微處理器或其他電路中的一種或更多種W執行任 何的上述實施例的操作。計算機可讀介質可W是能夠可移動或固定地結合到將要運行用來 執行運里描述的方法實施例的代碼或指令的計算機、處理器、控制器或其他電路的易失性 存儲器或非易失性存儲器或者其他存儲裝置。
[0110] 例如，代碼可包括：第一代碼，用于產生與多個像素當中的第一像素的R、G和B數 據對應的R、G和B參考壓降；第二代碼，用于基于作為第一像素的R、G和B數據順序地輸 入的像素的R、G和B數據來計算像素的像素壓降，并且用于輸出第一像素的第一像素壓降； 第Ξ代碼，用于基于第一像素壓降與R、G和B參考壓降之間的差來產生用W補償第一像素 的亮度失真和第一像素的色坐標失真的R、G和B補償數據，亮度失真和色坐標失真與第一 像素壓降對應；第四代碼，用于通過分別將第一像素的R、G和B數據與R、G和B補償數據 相加來產生補償的R、G和B數據。
[0111] 所公開的實施例的補償器與其他控制和處理特征可例如可包括硬件、軟件或 兩者的邏輯來實施。當至少部分地W硬件來實施時，補償器和其他控制和處理特征可W是 例如包括但不限于專用集成電路、場可編程口陣列、邏輯口的組合、片上系統、微處理器或 者另外類型的處理或控制電路的各種集成電路中的任何一種。
[0112] 運里描述的方法、過程和/或操作可通過將由計算機、處理器、控制器或其他信號 處理裝置來運行的代碼或指令來執行。計算機、處理器、控制器或其他信號處理裝置可w是 運里描述的那些或者是除了運里描述的元件之外的一種。因為詳細地描述了形成方法（或 計算機、處理器、控制器或其他信號處理裝置的操作）的基礎的算法，所W用于實施方法實 施例的操作的代碼或指令可將計算機、處理器、控制器或其他信號處理裝置轉換成用于執 行運里描述的方法的特定用途的處理器。
[0113] 當至少部分地W軟件來實施時補償器和其他控制和處理特征可包括例如如上所 述的用于存儲將例如通過計算機、處理器、微處理器、控制器或其他信號處理裝置來運行的 代碼或指令的存儲器或其他存儲裝置。計算機、處理器、微處理器、控制器或其他信號處理 裝置可W是運里描述的那些或者是除了運里描述的元件之外的一種。因為詳細地描述了形 成方法（或計算機、處理器、微處理器、控制器或其他信號處理裝置的操作）的基礎的算法， 所W用于實施方法實施例的操作的代碼或指令可將計算機、處理器、控制器或其他信號處 理裝置轉換成用于執行運里描述的方法的特定用途的處理器。
[0114] 運里已經公開了示例實施例，雖然采用了特定術語，但是它們將僅W-般性的和 描述性的意義來使用和解釋而不是出于限制的目的。在某些情況下，除非另外指示，否則如 到提交本申請為止對本領域技術人員來說將明顯的是，結合具體實施例描述的特征、特性 和/或元件可W單獨使用或者與結合其他實施例描述的特征、特性和/或元件來組合使用。 因此，本領域技術人員將理解的是，在不脫離如權利要求所闡述的發明的精神和范圍的情 況下，可作出形式上和細節上的各種改變。
【主權項】
1. 一種數據補償器，其特征在于，所述數據補償器包括： 參考壓降產生器，構造成產生與顯示面板中的多個像素當中的第一像素的R、G和B數 據對應的R、G和B參考壓降； 壓降測量器，構造成基于所述多個像素的R、G和B數據來計算所述多個像素的像素壓 降，所述多個像素的R、G和B數據被順序地輸入作為所述第一像素的所述R、G和B數據，所 述壓降測量器還被構造成輸出所述第一像素的第一像素壓降； 補償數據產生器，構造成基于所述第一像素壓降與所述R、G和B參考壓降之間的差來 產生補償所述第一像素的亮度失真和所述第一像素的色坐標失真的R、G和B補償數據，所 述亮度失真和所述色坐標失真與所述第一像素壓降對應；以及 輸出塊，構造成通過分別將所述第一像素的所述R、G和B數據與所述R、G和B補償數 據相加來產生補償的R、G和B數據。2. 如權利要求1所述的數據補償器，其特征在于，所述參考壓降產生器用于基于灰度 級與參考壓降之間的預定義關系來產生與所述第一像素的所述R、G和B數據對應的所述R、 G和B參考壓降。3. 如權利要求2所述的數據補償器，其特征在于： 所述參考壓降產生器用于存儲表示所述預定義關系的公式， 所述參考壓降產生器用于通過將所述第一像素的所述R、G和B數據的灰度級分配為所 述預定義關系的所述灰度級來產生所述R、G和B參考壓降。4. 如權利要求2所述的數據補償器，其特征在于： 所述參考壓降產生器用于存儲表示所述預定義關系的查找表， 所述參考壓降產生器用于基于所述查找表來產生與所述第一像素的所述R、G和B數據 的灰度級對應的所述R、G和B參考壓降。5. 如權利要求1所述的數據補償器，其特征在于： 所述補償數據產生器用于產生所述R、G和B補償數據， 所述R、G和B補償數據中的每個同所述第一像素壓降與所述R、G和B參考壓降之間的 差成比例。6. 如權利要求1所述的數據補償器，其特征在于，所述補償數據產生器用于在所述第 一像素壓降大于所述R、G和B參考壓降中的每個時產生具有正值的R、G和B補償數據。7. 如權利要求1所述的數據補償器，其特征在于，所述補償數據產生器用于在所述第 一像素壓降等于所述R、G和B參考壓降中的每個時產生值為0的R、G和B補償數據。8. 如權利要求1所述的數據補償器，其特征在于，所述補償數據產生器用于在所述第 一像素壓降小于所述R、G和B參考壓降中的每個時產生具有負值的R、G和B補償數據。9. 如權利要求1所述的數據補償器，其特征在于，所述壓降測量器用于二維地計算所 述第一像素壓降。10. 如權利要求1所述的數據補償器，其特征在于： 所述多個像素被劃分成第一塊至第N塊，N是自然數， 所述壓降測量器包括： 塊壓降測量器，構造成基于所述多個像素的所述R、G和B數據來計算與測量塊對應的 塊壓降； 塊壓降存儲器，構造成存儲所述塊壓降；以及 像素壓降計算器，構造成通過對存儲在所述塊壓降存儲器中的多個塊壓降進行內插來 產生所述第一像素壓降。11. 如權利要求10所述的數據補償器，其特征在于，所述塊壓降測量器包括： 系數表，構造成輸出與電流阱塊坐標和測量塊坐標對應的X軸壓降分布系數和Y軸 壓降分布系數，所述電流阱塊坐標用于指向電流阱塊，所述測量塊坐標用于指向所述測量 塊； 塊電流計算器，構造成基于所述多個像素的所述R、G和B數據和所述電流阱塊坐標來 輸出所述電流阱塊的電流； 坐標產生器，構造成產生所述測量塊坐標并產生移動通過所述第一塊至所述第N塊的 所有坐標的所述電流阱塊坐標；以及 塊壓降計算器，構造成基于所述X軸壓降分布系數、所述Y軸壓降分布系數和所述電流 阱塊的所述電流來計算所述測量塊的塊壓降，所述測量塊的所述塊壓降通過所述第一塊至 所述第N塊的電流產生，所述塊壓降計算器還構造成輸出所述測量塊的所述塊壓降作為所 述塊壓降。12. 如權利要求11所述的數據補償器，其特征在于，所述塊電流計算器包括： 電流轉換器，構造成將所述多個像素的所述R、G和B數據轉換成多個像素電流； 塊電流加法器，構造成存儲與包括在所述第一塊至所述第N塊當中的第K塊中的像素 對應的像素電流的和作為所述第K塊的電流，K是小于或等于N的自然數；以及 多路復用器，構造成輸出所述第一塊至所述第N塊的電流當中的與所述電流阱塊坐標 對應的塊的電流作為所述電流阱塊的電流。13. 如權利要求11所述的數據補償器，其特征在于： 第一 X軸壓降分布系數在第一矢量和第二矢量關于X軸對稱時等于第二X軸壓降分布 系數， 所述第一 X軸壓降分布系數與第一電流講塊坐標和第一測量塊坐標對應， 所述第二X軸壓降分布系數與第二電流阱塊坐標和第二測量塊坐標對應， 所述第一矢量從所述第一電流阱塊坐標到所述第一測量塊坐標， 所述第二矢量從所述第二電流阱塊坐標到所述第二測量塊坐標。14. 如權利要求13所述的數據補償器，其特征在于： 所述系數表僅用于存儲所述第一 X軸壓降分布系數和所述第二X軸壓降分布系數當中 的所述第一 X軸壓降分布系數， 所述系數表用于響應于所述第二電流阱塊坐標和所述第二測量塊坐標來輸出所述第 一 X軸壓降分布系數。15. 如權利要求11所述的數據補償器，其特征在于： 第一 X軸壓降分布系數在第一矢量和第二矢量關于Y軸對稱時等于第二X軸壓降分布 系數， 所述第一 X軸壓降分布系數與第一電流講塊坐標和第一測量塊坐標對應， 所述第二X軸壓降分布系數與第二電流阱塊坐標和第二測量塊坐標對應， 所述第一矢量從所述第一電流阱塊坐標到所述第一測量塊坐標， 所述第二矢量從所述第二電流阱塊坐標到所述第二測量塊坐標。16. 如權利要求15所述的數據補償器，其特征在于： 所述系數表僅用于存儲所述第一 X軸壓降分布系數和所述第二X軸壓降分布系數當中 的所述第一 X軸壓降分布系數， 所述系數表用于響應于所述第二電流阱塊坐標和所述第二測量塊坐標來輸出所述第 一 X軸壓降分布系數。17. -種顯示裝置，其特征在于，所述顯示裝置包括： 顯示面板，包括多個像素； 數據補償器，構造成基于所述多個像素當中的第一像素的R、G和B數據來產生補償的 R、G和B數據； 時序控制器，構造成基于所述補償的R、G和B數據來產生數據驅動器控制信號和掃描 驅動器控制信號； 數據驅動器，構造成基于所述數據驅動器控制信號來產生多個數據信號，所述數據驅 動器還構造成通過多條數據信號線將所述數據信號提供到所述多個像素；以及 掃描驅動器，構造成基于所述掃描驅動器控制信號來產生多個掃描信號，所述掃描驅 動器還構造成通過多條掃描信號線將所述掃描信號提供到所述多個像素，其中，所述數據 補償器包括： 參考壓降產生器，構造成產生與所述第一像素的R、G和B數據對應的R、G和B參考壓 降； 壓降測量器，構造成基于所述多個像素的R、G和B數據來計算所述多個像素的像素壓 降，所述多個像素的R、G和B數據被順序地輸入作為所述第一像素的R、G和B數據，所述壓 降測量器還構造成輸出所述第一像素的第一像素壓降； 補償數據產生器，構造成基于所述第一像素壓降和所述R、G和B參考壓降來產生R、G 和B補償數據以補償所述第一像素的失真，所述失真由所述第一像素壓降產生；以及 輸出塊，構造成通過分別將所述第一像素的所述R、G和B數據與所述R、G和B補償數 據相加來產生所述補償的R、G和B數據。18. 如權利要求17所述的顯示裝置，其特征在于： 當所述顯示裝置按照第一模式操作以減少所述第一像素的亮度失真和所述第一像素 的色坐標失真時，所述補償數據產生器用于基于所述第一像素壓降與所述R、G和B參考壓 降之間的差來產生所述R、G和B補償數據以同時減少所述亮度失真和所述色坐標失真， 當所述顯示裝置按照第二模式操作以減少功耗時，所述補償數據產生器用于基于所述 第一像素壓降來產生所述R、G和B補償數據以減少所述亮度失真。
【文檔編號】G09G3/3233GK105825816SQ201510726612
【公開日】2016年8月3日
【申請日】2015年10月30日
【發明人】藤井充
【申請人】三星顯示有限公司