液晶驅動芯片測試方法及使用這種測試方法的液晶驅動芯片的制作方法
【技術領域】
[0001]本發明涉及液晶芯片的測試技術，尤其涉及高分辨率液晶驅動芯片的測試方法及使用這種測試方法的液晶驅動芯片。
【背景技術】
[0002]屏幕顯示效果很大程度上取決于液晶驅動芯片的質量。為了使液晶驅動芯片達到預期效果，每一款驅動芯片在量產之前，都會經過反復的調試，以保證各項設置符合設計的要求，并且達到較好的顯示效果。
[0003]目前液晶驅動芯片的測試需要藉助探針卡的探針將駁動芯片內驅動電路的電壓信號經由輸出管腳送到液晶驅動測試機臺的測試通道。驅動芯片的每個管腳需要有一探針卡的探針與之相對應。
[0004]隨著液晶面板分辨率不斷提高，液晶驅動芯片的輸出驅動電路也越來越多，以手機的1280*800的分辨率為例，驅動芯片中至少有2400個輸出驅動。而現有的大部分測試機臺的測試通道數量尚不能達到這個數量。例如advantest公司提供的型號為T6372的測試機臺，只有1536個測試通道，不能滿足1280*800分辨率的驅動芯片的測試需求。
[0005]現有的解決方法是在探針卡上加裝切換開關。圖1示出了加裝了切換開關的探針卡及其測試方法。如圖1所示，探針卡101在原有一根探針SlA的基礎上，增加一根探針S1B，在探針卡101的測試通道Dl與兩探針SlA和SlB之間增加一個切換開關X。兩根探針SlA和SlB分別連接到液晶驅動芯片ICI的管腳1 2A和1 2B上，探針卡1I的輸出端口 DI (測試通道)連接到液晶驅動芯片測試機臺103上。
[0006]液晶驅動芯片內與管腳1 2A連接的驅動電路Dr A的輸出經過管腳1 2A輸出到探針SlA上;與管腳102B連接的驅動電路DrB的輸出經過管腳102B輸出到探針SlB上。
[0007]測試時，首先切換開關X狀態設為端口Dl與第一探針SlA導通，和第二探針SlB斷開。此時，驅動電路DrA的輸出電壓可以通過管腳102A、第一探針S1A、端口Dl到達液晶驅動芯片測試機臺103的測試通道進行測試。測試完成后，將切換開關X的狀態設為端口 Dl與第二探針SlB導通，和第一探針SlA斷開。此時，驅動電路DrB的輸出電壓可以通過管腳102B、第二探針S1B、端口 Dl到達液晶驅動芯片測試機臺103的測試通道進行測試。從而實現I個探針卡的輸出端口(測試通道)可以實現兩個驅動電路(管腳)的測試。
[0008]但是，這種測試方法和裝置顯示增加了探針卡的探針數量，為適應分辨率不斷提尚的液晶驅動芯片，探針卡制作復雜度也不斷提尚，制造成本難以控制。
【發明內容】
[0009]鑒于現有技術的狀態，本發明的目的在于提供一種適應于高分辨率的液晶驅動芯片的測試方法，可以降低探針卡的制造難度，有效地控制成本的上升。
[0010]同時，本發明的另一個目的在于還提供一種使用這種測試方法的液晶驅動芯片。[0011 ]根據上述目的，在本發明的液晶驅動芯片測試方法中，液晶驅動芯片包括N個驅動電路和N個管腳，所述方法包括:
[0012]在所述液晶驅動芯片的每M個驅動電路與每M個管腳之間增設一切換電路；
[0013]將所述每M個管腳中的第一管腳連接到一探針卡的探針上；
[0014]將所述探針卡連接到一液晶驅動芯片測試機臺上；以及
[0015]控制該切換電路，使所述M個驅動電路的每個按序連接到所述M個管腳的第一管腳上；
[0016]其中N和M為自然數，且N2 2;2<MSN。
[0017]在上述液晶驅動芯片測試方法中，所述M = 2。
[0018]在上述液晶驅動芯片測試方法中，所述切換電路包括四個開關，以交叉方式連接在2個輸驅動電路和2個管腳之間。
[0019]本發明提供的使用上述液晶驅動芯片測試方法的液晶驅動芯片，包括N個驅動電路和N個管腳，還包括:
[0020]多個切換電路，分別設置在所述液晶驅動芯片的每M個驅動電路與每M個管腳之間；以及
[0021]控制電路，與所述切換電路相連，控制該切換電路，使所述M個驅動電路的每個按序連接到所述M個管腳的第一管腳上；
[0022]其中N和M為自然數，且N2 2;2<MSN。
[0023]在上述液晶驅動芯片中，所述M = 2。
[0024]在上述的液晶驅動芯片中，所述切換電路包括四個開關，以交叉方式連接在2個驅動電路和2個管腳之間。
【附圖說明】
[0025]圖1示出了現有的加裝了切換開關的探針卡及其測試方法。
[0026]圖2示出了本發明液晶驅動芯片的結構示意圖；
[0027]圖3示出了本發明液晶驅動芯片的測試方法示意圖。
【具體實施方式】
[0028]請參見圖2，圖2示出了本發明液晶驅動芯片的結構示意圖。如圖2所示，液晶驅動芯片IC2內包括有多個驅動電路，驅動電路的數量與需驅動的屏幕的分辨率有關。在圖2所示的實施例中，為了方便描述和理解，僅示出了與本發明有關的部件或單元，其它與本發明無關的部件或單元雖然示出。
[0029]繼續參見圖2，在本實施例中，在每兩個驅動電路Drl和Dr2以及管腳201和202(為方便描述，以分別稱為第一驅動電路和第二驅動電路以及第一管腳與第二管腳)之間設置一個切換電路203。該切換電路203包括四個開關K1-K4，四個開關以交叉方式連接在第一驅動電路Drl和第二驅動電路Dr2與第一管腳201和第二管腳202之間。即，開關Kl連接在第一驅動電路Drl與第一管腳201之間，開關K2連接在第一驅動電路Drl與第二管腳202之間，開關K3連接在第二驅動電路Dr2與第一管腳201之間，開關K4連接在第二驅動電路Dr2與第二管腳202之間。
[0030]在液晶驅動芯片中，還包括一個控制單元204。控制單元204用于控制切換電路203中各個開關的狀態。
[0031]請同時參見圖3，圖3示出了本發明液晶驅動芯片的測試方法示意圖。下面將結合圖3描述本發明的測試方法。首先將液晶驅動芯片200中的第一管腳201連接到探針卡205中的探針上，探針卡205按常規方式與液晶驅動芯片測試機臺連接。由控制單元204控制切換電路203中各個開關的閉合和斷開狀態。此時，控制單元204使第一開關Kl和第四開關K4閉合，第二開關K2和第三開關K3斷開。即將第一驅動電路Drl連接到第一管腳201，將第二驅動電路Dr2連接到第二管腳202上。液晶驅動芯片測試機臺207工作，對第一驅動電路Drl進行測試。測試完成后，控制單元204使第二開關K2和第三開關K3閉合，第一開關Kl和第四開關K4斷開。即將第一驅動電路Drl連接到第二管腳202，將第二驅動電路Dr2連接到第一管腳202上。液晶驅動芯片測試機臺207工作，對第二驅動電路Drl進行測試。
[0032]從上述測試過程中可以看出，測試機臺207的一個測試通道以及探針卡205的一根探針就可以對液晶驅動芯片中的兩個輸出驅動電路進行測試。以【背景技術】中面板1280*800的分辨率為例，按照傳統的方法，使用愛德萬公司(ad van t e s t) T6 3 7 2液晶驅動芯片測試機臺測試其所有的輸出驅動電路，探針卡需要2400根探針，同時探針卡上需要864個切換開關。
[0033]但是使用本發明的方法后，探針卡只需要1200根探針，對應的探針卡的探針數量只有舊方法的一半。同時探針卡不再需要切換開關。極大的降低了探針卡的制作難度和成本。
[0034]在圖2的實施例中，是以兩個驅動電路使用一個切換電路為例進行說明。但可以理解，三個驅動電路使用一個切換電路或者更多個驅動電路使用一個切換電路都是本發明預期的變化和實施例。更多個驅動電路使用一個切換電路可以更多地減少探針卡的探針數量。當然具體多少個驅動電路使用一個切換電路應視實際情況而定。切換電路的作用是使多個驅動電路的每個按序連接到第一管腳上，以便于測試機臺進行測試。切換電路具體是使用如圖2實施例中的開關，擬或是其它電路形式，例如開關矩陣，本發明均不作限定，只要能實現上述的按序連接功能即可。本領域技術人員根據這一功能要求，可以設計出多種不同的切換電路，均應包含在本發明的范圍內。
[0035]本發明的液晶驅動芯片在正常使用時，由控制電路204將切換電路中的第一開關Kl和第四開關K4導閉合，第二開關K2和第三開關K3斷線。驅動電路Drl的輸出電壓就能正常送到管腳201，驅動電路Dr2的輸出電壓就能正常送到管腳202。
[0036]雖然本發明的實施例如上所述，然而該些實施例并非用來限定本發明，本技術領域具有通常知識者可依據本發明的明示或隱含的內容對本發明的技術特征施以變化，凡此種種變化均可能屬于本發明所尋求的專利保護范疇，換言之，本發明的專利保護范圍須視本說明書的申請專利范圍所界定為準。
【主權項】
1.一種液晶驅動芯片測試方法，該液晶驅動芯片包括N個驅動電路和N個管腳，所述方法包括: 在所述液晶驅動芯片的每M個驅動電路與每M個管腳之間增設一切換電路； 將所述每M個管腳中的第一管腳連接到一探針卡的探針上； 將所述探針卡連接到一液晶驅動芯片測試機臺上；以及 控制該切換電路，使所述M個驅動電路的每個按序連接到所述M個管腳的第一管腳上； 其中N和M為自然數，且N2 2;2<MSN。2.根據權利要求1所述的方法，其特征在于，所述M=2。3.根據權利要求2所述的方法，其特征在于，所述切換電路包括四個開關，以交叉方式連接在2個輸驅動電路和2個管腳之間。4.一種使用如權利要求1至3之一所述的測試方法的液晶驅動芯片，包括N個驅動電路和N個管腳，其特征在于，還包括: 多個切換電路，分別設置在所述液晶驅動芯片的每M個驅動電路與每M個管腳之間；以及 控制電路，與所述切換電路相連，控制該切換電路，使所述M個驅動電路的每個按序連接到所述M個管腳的第一管腳上； 其中N和M為自然數，且N2 2;2<MSN。5.根據權利要求4所述的液晶驅動芯片，其特征在于，所述M=2。6.根據權利要求5所述的液晶驅動芯片，其特征在于，所述切換電路包括四個開關，以交叉方式連接在2個輸驅動電路和2個管腳之間。
【專利摘要】本發明涉及一種液晶驅動芯片測試方法及使用這種測試方法的液晶驅動芯片，該液晶驅動芯片包括N個驅動電路和N個管腳，測試方法包括：在所述液晶驅動芯片的每M個驅動電路與每M個管腳之間增設一切換電路；將所述每M個管腳中的第一管腳連接到一探針卡的探針上；將所述探針卡連接到一液晶驅動芯片測試機臺上；以及控制該切換電路，使所述M個驅動電路的每個按序連接到所述M個管腳的第一管腳上；其中N和M為自然數，且N≥2；2≤M≤N。
【IPC分類】G09G3/00
【公開號】CN105575303
【申請號】CN201510982857
【發明人】高志強, 王非
【申請人】中穎電子股份有限公司
【公開日】2016年5月11日
【申請日】2015年12月24日