陣列基板、信號線不良的檢測方法、顯示面板及顯示裝置制造方法
【專利摘要】本發明提供一種陣列基板、信號線不良的檢測方法、顯示面板及顯示裝置，屬于顯示【技術領域】，其可解決現有的陣列基板在進行Array&Cell Test不良檢測時，信號線與修復線由于ESD短接在一起導致顯示不良不容易被檢測出來的問題。本發明的陣列基板，其包括信號線，與信號線交叉且絕緣設置的修復線，以及檢測單元和外加電源電壓輸入端；其中，所述修復線與所述檢測單元電性連接，所述檢測單元用于在所述修復線與所述信號線短接時，在信號線的控制下將所述外加電源電壓輸入端所輸入的外加電源電壓引入到該修復線中。
【專利說明】陣列基板、信號線不良的檢測方法、顯示面板及顯示裝置
【技術領域】
[0001]本發明屬于顯示【技術領域】，具體涉及一種陣列基板、信號線不良的檢測方法、顯示面板及顯示裝置。
【背景技術】
[0002]在薄膜晶體管液晶顯不器(ThinFilm Transistor Liquid Crystal Display,簡稱TFT-1XD)制造過程中，Array&Cell Test過程中通常采用短路條(Shorting Bar)檢測方式。如圖1所示，陣列基板上形成有公共電極線4和分別與紅色子像素、綠色子像素、藍色子像素對應的三條短路條(即，紅色短路條1、綠色短路條2、藍色短路條3);其中，每條短路條連接與其對應的子像素(紅色子像素、綠色子像素、藍色子像素)所連接的數據線5、6、7。通過分別給短路條施加電壓，可以檢測與短路條連接的數據線是是否存在破損。
[0003]為了避免數據線破損而導致顯示面板報廢，故在陣列基板的周邊區域上還形成有與數據線交叉設置的修復線8，但是在液晶面板生產過程中，很容易在修復線8與數據線交叉的位置產生靜電(ESD)(圖1中標號9即發生ESD的位置)，從而導致數據線被擊穿與修復線8短路，進而導致數據線上的數據電壓被拉低(數據線上的電壓通常為正，而修復線8電壓為零，即無電壓)，造成顯示不良。然而在通過短路條檢測方式檢測顯示面板上的數據線時，此時與修復線8短路的數據線同時還是與其他數據線連接的，故修復線8將這些數據線上的電壓拉低較少部分，也就是說與修復線8短路的數據線相對于為短路的數據線被拉低的電壓差異很小，從而被短路的數據線與其他數據線驅動的像素電極的電壓差距很小，液晶偏轉的差異不明顯，顯示的顏色的差異也不明顯，因此這種短路不良是不容易檢測出來的。
[0004]發明人發現現有技術中至少存在如下問題:模組(Module)階段時為全接觸(FullContact)檢測方式，該數據線不與其他數據線連接，修復線8可以拉低這條數據線的電壓，電壓會導致液晶偏轉的不同于正常的區域，檢測表現為兩線。此時檢測出來該數據線存在問題，若問題嚴重的將導致整個面板報廢，不嚴重也將會增加額外修復流程。
【發明內容】
[0005]本發明所要解決的技術問題包括，針對現有的陣列基板存在的上述的問題，提供一種可以檢測信號線與修復線短接而導致顯示不良的陣列基板、信號下不良的檢測方法、顯示面板及顯示裝置。
[0006]解決本發明技術問題所采用的技術方案是一種陣列基板，其包括信號線，與信號線交叉且絕緣設置的修復線，以及檢測單元和外加電源電壓輸入端；其中，
[0007]所述修復線與所述檢測單元電性連接，所述檢測單元用于在所述修復線與所述信號線短接時，在信號線的控制下將所述外加電源電壓輸入端所輸入的外加電源電壓引入到該修復線中。
[0008]在本發明的陣列基板中，當信號線與修復線由于ESD短接在一起時，檢測單元可以將所述外加電源電壓輸入端所輸入的外加電源電壓引入到該修復線中，因此根據外加電源電壓的大小將與該修復線短接的信號線上的電壓拉低或者拉高，以使得該信號線上的電壓與其他線號線上的電壓有明顯的差別，也就說與該信號線對應的像素單元的顯示將會明顯與其他信號線對應的像素單元的顯示不同，從而可以判斷是哪一根信號線與修復線發生了短接，進而可以將該短接位置兩側的修復線切斷，避免由于修復線拉低信號線的電壓，同時解決了信號線于修復線由于ESD短接在一起不容易檢測的問題。
[0009]優選的是，所述檢測單元包括開關模塊，
[0010]所述開關模塊的控制端連接信號線，一端與所述外加電源電壓的輸入端，另一端連接修復線。
[0011]進一步優選的是，所述開關模塊為開關晶體管，
[0012]所述開關晶體管的控制極連接信號線，第一極連接外加電源電壓的輸入端，第二極連接修復線。
[0013]優選的是，所述修復線與所述信號線短接時，給所述外加電源電壓輸入端所輸入的外加電源電壓為負向電壓。
[0014]進一步優選地是，給所述外加電源電壓輸入端所輸入的外加電源電壓的電壓值為-20V。
[0015]優選的是，所述信號線為數據線和/或柵線。
[0016]優選的是，所述陣列基板包括用于顯示的顯示區和將所述顯示區包圍的周邊區，所述檢測單元和所述外加電源電壓輸入端均設置在所述陣列基板的周邊區。
[0017]解決本發明技術問題所采用的技術方案是一種信號線不良的檢測方法，其包括:
[0018]給檢測單元一端施加一外加電源電壓，以及給信號線施加一驅動電壓，當信號線與修復線短接在一起時，外加電源電壓通過檢測單元拉低與修復線短路的信號線上的電壓，以判斷出發生不良的信號線。
[0019]解決本發明技術問題所采用的技術方案是一種顯示面板，其包括上述陣列基板。
[0020]解決本發明技術問題所采用的技術方案是一種顯示裝置，其包括上述顯示面板。
【專利附圖】
【附圖說明】
[0021]圖1為現有的陣列基板的Shorting bar不良檢測的示意圖；
[0022]圖2為本發明的實施例1的陣列基板的示意圖；
[0023]圖3為本發明的實施例1的陣列基板上的檢測單元為開關晶體管時的示意圖。
[0024]其中附圖標記為:1、紅色短路條；2、綠色短路條；3、藍色短路條；4、公共電極線；5、與紅色子像素連接的數據線；6、與綠色子像素連接的數據線；7、與藍色子像素連接的數據線；8、修復線；9、發生ESD的位置；10、信號線；11、檢測單元部；11_1、第一極；11_2、第二極；11_3、控制極；12、外加電源電壓輸入端；13、檢測信號線；Q1、顯示區；Q2、周邊區。
【具體實施方式】
[0025]為使本領域技術人員更好地理解本發明的技術方案，下面結合附圖和【具體實施方式】對本發明作進一步詳細描述。
[0026]實施例1:
[0027]如圖2所示，本實施例提供一種陣列基板，其包括信號線10，與信號線10交叉且絕緣設置的修復線8，以及檢測單元11和外加電源電壓輸入端12 ;其中，所述修復線8與所述檢測單元11電性連接，所述檢測單元11用于在所述修復線8與所述信號線10短接時，在信號線10的控制下將所述外加電源電壓輸入端12所輸入的外加電源電壓引入到該修復線8中。
[0028]本領域技術人員可以理解的是，陣列基板通常包括用于顯示的顯示區Ql和將所述顯示區Ql包圍的周邊區Q2，其中為了不影響陣列基板的開口率，修復線8通常是設置在陣列基板的周邊區Q2的。同時需要說明的是，在本實施例中主要是解決信號線10不良檢測時，也就是Shorting bar不良檢測時，當信號線10與修復線8由于ESD而短接在一起不容易檢測的問題。
[0029]在本實施例中，當信號線10與修復線8由于ESD短接在一起時，檢測單元11可以將所述外加電源電壓輸入端12所輸入的外加電源電壓引入到該修復線8中，因此根據外加電源電壓的大小將與該修復線8短接的信號線10上的電壓拉低或者拉高，以使得該信號線10上的電壓與其他信號線上的電壓有明顯的差別，也就說與該信號線10對應的像素單元的顯示將會明顯與其他信號線10對應的像素單元的顯示不同，從而可以判斷是哪一根信號線10與修復線8發生了短接，進而可以將該短接位置兩側的修復線8切斷，避免由于修復線8拉低信號線10的電壓，同時解決了信號線10與修復線8由于ESD短接在一起不容易檢測的問題。
[0030]優選地，所述檢測單元11包括開關模塊，所述開關模塊的控制端連接信號線10，一端與所述外加電源電壓的輸入端，另一端連接修復線8。也就是說，信號線10所施加的電壓信號可以作為開關模塊的控制信號，與開關模塊的控制端連接，控制開關模塊的開啟與關斷。具體的，當信號線10上被施加電壓時，開關模塊被開啟，此時外加電源輸入端所述輸入的電壓，可以通過開關模塊進入到修復線8中，此時一旦信號線10與修復線8發生短路，那么必然修復線8上的電源電壓將同時施加到信號線10上，將信號線10上的電壓拉低或者拉高。因此可以判斷出哪一根信號線10與修復線8發生了短接。
[0031]進一步優選地，所述開關模塊為開關晶體管，所述開關晶體管的控制極11-3連接信號線10，第一極11-1連接外加電源電壓的輸入端，第二極11-2連接修復線8。開關模塊之所以采用開關晶體管是因為，開關晶體管的結構簡單，易于控制。特別是，因為陣列基板的顯示區Ql上的像素單元中同樣包括開關晶體管，此時該開關晶體管可以和像素單元中的開關晶體管采用一次構圖工藝形成，因此節省工藝時間，提高生產效率。具體的，開關晶體管的控制極11-3與信號線10連接，因此，信號線10上所施加的電壓信號，則作為開關晶體管的導通信號。當開管晶體管導通時，外加電源輸入端輸入的電壓，可以通過開關晶體管引入到修復線8中，此時一旦信號線10與修復線8發生短路，那么必然修復線8上的電源電壓將同時施加到信號線10上，將信號線10上的電壓拉低或者拉高。因此可以判斷出哪一根信號線10與修復線8發生了短接。
[0032]具體的，當檢測單元11為開關晶體管時，具體連接方式如圖3所示，其中，開關晶體管的第一極11-1連接檢測信號線，檢測信號線13的另一端連接外加電源電壓信號端，開關晶體管的第二極11-2連接修復線8，控制極11-3連接信號線10。
[0033]在本實施例中，優選地，所述修復線8與所述信號線10短接時，為所述外加電源電壓輸入端12所輸入的外加電源電壓為負向電壓。由于通常信號線10上通常所施加的電壓為正向電壓，此時在修復線8與所述信號線10短接時，為所述外加電源電壓輸入端12所輸入的外加電源電壓為負向電壓，因此將信號線10上的電壓拉低，且很容易的檢測到是否有信號線10與修復線8短接。進一步優選地，給所述外加電源電壓輸入端12所輸入的外加電源電壓的電壓值為-20V。主要是因為當信號線10為數據線時，數據線上所施加的電壓通常為15V，此時若某一個數據線與修復線8由于ESD短接在一起，該數據線上的電壓將會被拉低為負值，因此很容易檢測到發生短路的數據線。需要說明的是，為外加電源電壓輸入端12所輸入的外加電源電壓也可以是一個正向電壓，只要將該被短接的信號線上的電壓拉至一個與其他信號線上的電壓有明顯區別的一個值即可。其中，為外加電源電壓輸入端12所輸入的外加電源電壓為負向電壓的電壓值為-20V，也可以根據具體情況具體限定。
[0034]優選地，在本實施例中的信號線10為數據線和/或柵線。當信號線10為數據線時，正如【背景技術】中所言，在Shorting bar不良檢測時，與信號線10由于ESD發生短接的數據線不容易檢測出來，此時由于設置了檢測單元11和外加電源電壓輸入端12，因此可以解決現有技術中存在的問題。可以理解的是，該設置同樣可以應用于柵線與其修復線8發生有ESD發生短接的不良檢測。
[0035]為了進一步的提高陣列基板的開口率，因此優選地，所述檢測單元11和所述外加電源電壓輸入端12均設置在所述陣列基板的周邊區Q2。
[0036]需要說明的是，當對陣列基板上的信號線10是否存在不良進行檢測完成以后，可以將檢測單元11和外加電源電壓輸入端12與修復線8切斷，以避免信號線10上的信號流失到外加電源電壓輸入端12，造成陣列基板不良。
[0037]相應的本實施例的一種信號線不良的檢測的方法，其包括:給檢測單元11 一端施加一外加電源電壓，以及給信號線施加一驅動電壓，當信號線10與修復線8短接在一起時，外加電源電壓通過檢測單元11拉低與修復線8短路的信號線10上的電壓，以判斷出發生不良的信號線10。也就是，當修復線8和信號線10之間由于ESD短接在一起時，信號線10上施加的驅動電壓同時將檢測單元11開啟，將外加電源電壓引入該短接的修復線8上，通過修復線8拉低信號線10上的電壓，使得該信號線10與其他信號線上的電壓明顯不同，因此可以直接觀察出發生不良信號線10的位置。
[0038]具體的，以檢測單元為開關晶體管為例進行說明，開關晶體管的控制極11-3與信號線10連接，第一極ll-ι連接外加電源電壓輸入端12，第二極11-2連接修復線8，因此，信號線10上所施加的電壓信號，則作為開關晶體管的導通信號。當開管晶體管導通時，外力口電源輸入端所述輸入的電壓，可以通過開關晶體管引入到修復線8中，此時一旦信號線10與修復線8發生短路，那么必然修復線8上的電源電壓將同時施加到信號線10上，將信號線10上的電壓拉低或者拉高。因此可以判斷出哪一根信號線10與修復線8發生了短接。
[0039]相應的本實施例中提供了一種顯示面板，其包括上述陣列基板，因此，該顯示面板具有較聞的良品率。
[0040]相應的本實施例還提供了一種顯示裝置，其包括上述顯示面板。該顯示裝置可以為:手機、平板電腦、電視機、顯示器、筆記本電腦、數碼相框、導航儀等任何具有顯示功能的產品或部件。
[0041]當然，本實施例的顯示裝置中還可以包括其他常規結構，如顯示驅動單元等。
[0042]可以理解的是，以上實施方式僅僅是為了說明本發明的原理而采用的示例性實施方式，然而本發明并不局限于此。對于本領域內的普通技術人員而言，在不脫離本發明的精神和實質的情況下，可以做出各種變型和改進，這些變型和改進也視為本發明的保護范圍。
【權利要求】
1.一種陣列基板，其包括信號線，以及與信號線交叉且絕緣設置的修復線，其特征在于，所述陣列基板還包括:檢測單元和外加電源電壓輸入端；其中， 所述修復線與所述檢測單元電性連接，所述檢測單元用于在所述修復線與所述信號線短接時，在信號線的控制下將所述外加電源電壓輸入端所輸入的外加電源電壓引入到該修復線中。
2.根據權利要求1所述的陣列基板，其特征在于，所述檢測單元包括開關模塊， 所述開關模塊的控制端連接信號線，一端與所述外加電源電壓的輸入端，另一端連接修復線。
3.根據權利要求2所述的陣列基板，其特征在于，所述開關模塊為開關晶體管， 所述開關晶體管的控制極連接信號線，第一極連接外加電源電壓的輸入端，第二極連接修復線。
4.根據權利要求1所述的陣列基板，其特征在于，所述修復線與所述信號線短接時，給所述外加電源電壓輸入端所輸入的外加電源電壓為負向電壓。
5.根據權利要求4所述的陣列基板，其特征在于，給所述外加電源電壓輸入端所輸入的外加電源電壓的電壓值為-20V。
6.根據權利要求1-5中任意一項所述的陣列基板，其特征在于，所述信號線為數據線和/或柵線。
7.根據權利要求1-5中任意一項所述的陣列基板，其特征在于，所述陣列基板包括用于顯示的顯示區和將所述顯示區包圍的周邊區，所述檢測單元和所述外加電源電壓輸入端均設置在所述陣列基板的周邊區。
8.一種信號線不良的檢測方法，其特征在于，包括: 給檢測單元一端施加一外加電源電壓，以及給信號線施加一驅動電壓，當信號線與修復線短接在一起時，外加電源電壓通過檢測單元拉低與修復線短路的信號線上的電壓，以判斷出發生不良的信號線。
9.一種顯示面板，其特征在于，所述顯示面板包括權利要求1至7中任意一項所述的陣列基板。
10.一種顯示裝置，其特征在于，所述顯示面板權利要求9所述的顯示面板。
【文檔編號】G09G3/00GK104407481SQ201410748651
【公開日】2015年3月11日 申請日期:2014年12月9日 優先權日:2014年12月9日
【發明者】黃小平 申請人:京東方科技集團股份有限公司, 北京京東方顯示技術有限公司