專利名稱：一種顯示屏不良點采集裝置及顯示屏短接測試系統的制作方法
技術領域：
本實用新型涉及顯示屏檢測技術領域，特別涉及一種顯示屏不良點采集裝置及顯示屏短接測試系統。
背景技術：
由于當前市場上小尺寸產品越來越多，而顯示屏的精度要求也越來越高，檢查使用原始的Blade (刀片)或者Film Tpye (膜式)已經不能滿足檢查的需求。隨著Shorting Bar (顯示屏短接測試裝置)的出現，解決了顯示屏的點燈問題。如圖1所示，現將顯示屏01內的柵極線和數據線進行分組短接，形成多個短接點，顯示屏短接測試裝置中的探針給這些短接點提供信號，若顯示屏正常，則在顯示屏01上不會現亮點或亮線；若顯示屏不正常，則顯示屏01上會出現亮點或亮線。但是，現有的顯示屏短接測試裝置無法上傳缺陷點坐標，從而導致顯示屏出現點不亮和線不良時，維修困難。
實用新型內容本實用新型提供了一種顯示屏不良點采集裝置，可以將采集到的待測顯示屏上不良點的信息生成具體坐標值。本實用新型還提供了一種顯示屏短接測試系統，可以降低顯示屏的廢棄率。為達到上述目的，本實用新型提供以下技術方案:一種顯示屏不良點采集裝置,包括:支撐所述待測顯示屏的基臺；安裝于所述基臺、且與所述基臺的支撐面平行設置的導軌，所述導軌可在平行于所述基臺的支撐面的一個平面內運動；可沿所述導軌長度方向移動、采集所述待測顯示屏上不良點信息的激光對位模塊；與所述激光對位模塊信號連接、將接收到的所述不良點的信息生成具體坐標值的坐標處理模塊。優選地，上述顯示屏不良點采集裝置，還包括:與所述坐標處理模塊信號連接、儲存所述待測顯示屏上的不良點的坐標值的存儲模塊。優選地，所述激光對位模塊為精密激光探測針。優選地，上述顯示屏不良點采集裝置還包括:驅動所述精密激光探測針和所述導軌移動的驅動裝置。優選地，所述驅動裝置為步進電機。優選地，所述基臺上設有與所述基臺的支撐面垂直、且沿背離所述基臺的支撐面方向延伸的支撐柱，所述導軌通過所述支撐柱安裝于所述基臺。優選地，所述導軌可旋轉的安裝于所述支撐柱。[0019]優選地，所述導軌包括:第一導軌和第二導軌，且所述第一導軌和所述第二導軌相互垂直，所述第一導軌固定于所述支撐柱，所述第二導軌與所述第一導軌滑動連接，所述精密激光探測針可沿所述第二導軌的長度方向移動。優選地，所述導軌沿其長度方向上設有滑槽，所述精密激光探測針可沿所述滑槽滑動；或所述導軌上設有滑塊、且所述滑塊可沿所述導軌的長度方向移動，所述精密激光探測針固定于所述滑塊。本實用新型還提供了一種顯示屏短接測試系統，包括:顯示屏短接測試裝置，還包括:上述顯示屏不良點采集裝置。本實用新型提供的顯示屏不良點采集裝置，包括:支撐所述待測顯示屏的基臺；安裝于所述基臺、且與所述基臺的支撐面平行設置的導軌，所述導軌可在平行于所述基臺的支撐面的一個平面內運動；可沿所述導軌長度方向移動、采集所述待測顯示屏上不良點信息的激光對位模塊；與所述激光對位模塊信號連接、將接收到的所述不良點信息生成具體坐標值的坐標處理模塊。
·[0028]本實用新型提供的顯示屏不良點采集裝置，在使用時，根據待測顯示屏的長和寬以及分辨率，預先將待測顯示屏的長、寬、以及分辨率輸入顯示屏不良點采集裝置中，顯示屏不良點采集裝置將根據接收到的上述信息，生成與實物待測顯示屏形狀相同的虛擬顯示屏，并以虛擬顯示屏相垂直的兩個邊分別為X軸和Y軸、垂直點(X軸Y軸的交點)為原點(0,0)建立平面直角坐標系，并根據待測顯示屏的分辨率將虛擬顯示屏的長、寬平均分成一個個小段，每一小段代表坐標單元格距離(即每個像素點對應一個坐標值)，也就是說可以在虛擬顯示屏上形成網格，這樣便形成一個與實物待測顯示屏形狀和大小相同的標準坐標系區域。這樣便可以通過激光對位模塊采集待測顯示屏上不良點的信息，通過坐標處理模塊便可生成該點的坐標值。另外，由于激光對位模塊相對導軌可滑動，導軌相對基臺可以移動，激光對位模塊便可以采集到待測顯示屏上任意一點的信息。所以，本實用新型提供的顯示屏不良點采集裝置，可以將采集到的待測顯示屏上不良點的信息生成具體坐標值。一種顯示屏短接測試系統，包括:顯示屏短接測試裝置，還包括:上述顯示屏不良點采集裝置。本實用新型提供的顯示屏短接測試系統，可以將顯示屏短接測試裝置測試出的不良點，通過顯示屏不良點采集裝置生成與不良點對應的具體坐標值，并將此坐標值上傳到修復系統，避免上述背景技術中提到的無法上傳缺陷點坐標，從而導致顯示屏出現點不亮和線不良時，無法進行維修的現象。所以，本實用新型提供的顯示屏短接測試系統，降低了顯示屏的廢棄率。
圖1為現有技術下顯示屏短接測試裝置測試原理示意圖；圖2為本實用新型提供的一種顯示屏不良點采集裝置結構示意圖；[0034]圖3為本實用新型提供的顯示屏不良點采集裝置中的標準坐標系示意圖；圖4為本實用新型提供的另一種顯示屏不良點采集裝置結構示意圖。
具體實施方式
下面將結合本實用新型實施例中的附圖，對本實用新型實施例中的技術方案進行清楚、完整地描述，顯然，所描述的實施例僅僅是本實用新型一部分實施例，而不是全部的實施例。基于本實用新型中的實施例，本領域普通技術人員在沒有做出創造性勞動前提下所獲得的所有其他實施例，都屬于本實用新型專利保護的范圍。實施例一本實用新型提供的顯示屏不良點采集裝置，如圖2所示，包括:支撐待測顯示屏2的基臺I ;安裝于基臺1、且可沿導軌3長度方向移動、采集待測顯示屏2上不良點信息的激光對位模塊4 ；與激光對位模塊4信號連接、將接收到的不良點信息成具體坐標值的坐標處理模塊5。本實用新型提供的顯示屏不良點采集裝置，在使用時，如圖3所示，圖3為本實用新型提供的顯示屏不良點采集裝置中的標準坐標系示意圖；此處以圖示(1366*768)的分辨率為例，但本實用新型不限于此分辨率的待測顯示屏。本實用新型提供的顯示屏不良點采集裝置，根據待測顯示屏的長和寬以及分辨率，預先將待測顯示屏的長、寬、以及分辨率輸入顯示屏不良點采集裝置中，顯示屏不良點采集裝置將根據接收到 的上述信息，生成與實物待測顯示屏形狀相同的虛擬顯示屏，并以虛擬顯示屏相垂直的兩個邊分別為X軸和Y軸、垂直點(X軸Y軸的交點)為原點(0，O)建立平面直角坐標系，并根據待測顯示屏的分辨率將虛擬顯示屏的長寬平均分成一個個小段，每一小段代表坐標單元格距離(即每個像素點對應一個坐標值)。如圖3所示，將LI平均分成1366份，L2平均分層768份，也就是說可以在虛擬顯示屏上形成網格(如圖3所示)，這樣便形成一個與實物待測顯示屏2形狀和大小相同的標準坐標系區域21 (圖2中的網格區域)。如圖2所示，將待測顯示屏2放到基臺I上，由于激光對位模塊4相對導軌3可滑動，導軌3相對基臺2可以移動，激光對位模塊4便可以采集到待測顯示屏2上任意一點的信息。用激光對位模塊4對準實物待測顯示屏2上四角處的一點，將此點定位為激光對位模塊4的初始點,將激光對位模塊4從初始點開始,沿該初始點所在對角線方向移動,直至到待測顯示屏2上該對角線方向上的終止點，通過這兩個點之間的距離以及顯示屏分辨率便可以實現激光對位模塊4在待測顯示屏2上移動時與標準坐標系21匹配(這種匹配可以通過移動待測顯示屏進行與標準坐標系對位，也可以是標準坐標系移動去與待測顯示屏對位)。對位完成后，可以用激光對位模塊4從初始點位置移動到不良點所在位置，采集不良點信息，通過坐標處理模塊5便可生成該點的具體坐標值。本實用新型提供的顯示屏不良點采集裝置，可以將采集到的待測顯示屏上不良點的信息生成具體坐標值。[0048]本實用新型提供的顯示屏不良點采集裝置還可以通過其它方法進行對位，例如:根據待測顯示屏的長和寬以及分辨率，預先將待測顯示屏的長、寬、以及分辨率輸入顯示屏不良點采集裝置中，顯示屏不良點采集裝置將根據接收到的上述信息，生成與實物待測顯示屏形狀相同的虛擬顯示屏，并以虛擬顯示屏相垂直的兩個邊分別為X軸和Y軸、垂直點(X軸Y軸的交點)為原點(0，O)建立平面直角坐標系，并根據待測顯示屏的分辨率將虛擬顯示屏的長寬平均分成一個個小段，每一小段代表坐標單元格距離(即每個像素點對應一個坐標值)。如圖3所示，將LI平均分成1366份，L2平均分層768份，也就是說可以在虛擬顯示屏上形成網格(如圖3所示)，這樣便形成一個與實物待測顯示屏形狀和大小相同的標準坐標系區域21 (圖3中的網格區域)。如圖2所示，將待測顯示屏2放到基臺I上，由于激光對位模塊4相對導軌3可滑動，導軌3相對基臺2可以移動，激光對位模塊4便可以采集到待測顯示屏2上任意一點的信息。用激光對位模塊4對準實物待測顯示屏2上四角處的一點，記錄此點的坐標，再將激光對位模塊4沿著Y軸方向平移到某一點，再讀取這一點的坐標，若這兩點所在的邊與Y軸平行，則這兩個點的X軸向的坐標值應該相同，通過這種方法也可以實現激光對位模塊4在待測顯示屏2上移動時與標準坐標系21匹配。同理，這種匹配可以通過移動待測顯示屏進行與標準坐標系對位，也可以是標準坐標系移動去與待測顯示屏對位。
上述顯示屏不良點采集裝置，還包括:與坐標處理模塊信號連接、儲存待測顯示屏上的不良點的坐標值的存儲模塊。由坐標處理模塊生成的坐標值，可以被暫時儲存在存儲模塊中，以方便后續對顯示屏進行修復。優選地，為了便于探測不良點，激光對位模塊為精密激光探測針。為了便于精密激光探測針移動，上述顯示屏不良點采集裝置還包括:驅動精密激光探測針和導軌3移動的驅動裝置(圖中未示出)。當然，這里也可以采用手動驅動精密激光探測針和導軌移動。進一步地，驅動裝置可以為步進電機。當然，驅動裝置也可以其它可以驅動物體移動的裝置，這里就不再一一贅述。如圖2所示，為了支撐導軌3，基臺I上設有與基臺I的支撐面垂直、且沿背離基臺I的支撐面方向延伸的支撐柱6，導軌3通過支撐柱6安裝于基臺2。為了便于精密激光探測針可以移動到待測顯示屏上的任意不良點處，導軌的3的結構可以有多種:結構一如圖2所示，導軌3可旋轉的安裝于支撐柱6，也就是說導軌3可以繞著支撐柱360。旋轉。結構二本實用新型提供的另一種顯示屏不良點采集裝置結構示意圖如圖4所示，導軌3包括:第一導軌31和第二導軌32,且第一導軌31和第二導軌32相互垂直,第一導軌31固定于支撐柱6，第二導軌32與第一導軌31滑動連接，精密激光探測針可沿第二導軌32的長度方向移動。即，第二導軌32可沿著如圖3所示的X軸方向移動，精密激光探測針可沿著如圖3所示的Y軸方向移動，進而實現精密激光探測針可以移動到待測顯示屏上任意不良點處。為了便于精密激光探測針的移動，精密激光探測針可通過多種方式實現沿導軌長度方向移動:方式一如圖3所示，導軌31 (和導軌32)沿其長度方向上設有滑槽311，精密激光探測針可沿滑槽311滑動。方式二導軌上設有滑塊、且滑塊可沿導軌的長度方向移動，精密激光探測針固定于滑塊。實施例二本實施例提供了一種顯示屏短接測試系統，包括:顯示屏短接測試裝置，還包括:上述顯示屏不良點采集裝置。本實用新型提供的顯示屏短接測試系統，可以將顯示屏短接測試裝置測試出的不良點，通過顯示屏不良點采集裝置生成不良點對應的具體坐標值，并將此坐標值上傳到修復系統，避免上述背景技術中提到的無法上傳缺陷點坐標，從而導致顯示屏出現點不亮和線不良時，無法進行維修的現象。所以，本實用新型提供的顯示屏短接測試系統，降低了顯示屏的廢棄率。顯然，本領域的技術人員可以對本實用新型進行各種改動和變型而不脫離本實用新型的精神和范圍。 這樣，倘若本實用新型的這些修改和變型屬于本實用新型權利要求及其等同技術的范圍之內，則本實用新型也意圖包含這些改動和變型在內。
權利要求1.一種顯示屏不良點采集裝置，其特征在于，包括: 支撐待測顯示屏的基臺； 安裝于所述基臺、且與所述基臺的支撐面平行設置的導軌，所述導軌可在平行于所述基臺的支撐面的一個平面內運動； 可沿所述導軌長度方向移動、采集所述待測顯示屏上不良點信息的激光對位模塊； 與所述激光對位模塊信號連接、將接收到的所述不良點信息生成具體坐標值的坐標處理模塊。
2.根據權利要求1所述的顯示屏不良點采集裝置，其特征在于，還包括:與所述坐標處理模塊信號連接、儲存所述待測顯示屏上的不良點的坐標值的存儲模塊。
3.根據權利要求1所述的顯示屏不良點采集裝置，其特征在于，所述激光對位模塊為精密激光探測針。
4.根據權利要求3所述的顯示屏不良點采集裝置，其特征在于，還包括:驅動所述精密激光探測針和所述導軌移動的驅動裝置。
5.根據權利要求4所述的顯示屏不良點采集裝置，其特征在于，所述驅動裝置為步進電機。
6.根據權利要求5所述的顯示屏不良點采集裝置，其特征在于，所述基臺上設有與所述基臺的支撐面垂直、且沿背離所述基臺的支撐面方向延伸的支撐柱，所述導軌通過所述支撐柱安裝于所述基臺。
7.根據權利要求6所述的顯示屏不良點采集裝置，其特征在于，所述導軌可旋轉的安裝于所述支撐柱。
8.根據權利要求6所述的顯示屏不良點采集裝置，其特征在于，所述導軌包括:第一導軌和第二導軌，且所述第一導軌和所述第二導軌相互垂直，所述第一導軌固定于所述支撐柱，所述第二導軌與所述第一導軌滑動連接，所述精密激光探測針可沿所述第二導軌的長度方向移動。
9.根據權利2 8任一項所述的顯示屏不良點采集裝置，其特征在于，所述導軌沿其長度方向上設有滑槽，所述精密激光探測針可沿所述滑槽滑動； 或，所述導軌上設有滑塊、且所述滑塊可沿所述導軌的長度方向移動，所述精密激光探測針固定于所述滑塊。
10.一種顯示屏短接測試系統，包括:顯示屏短接測試裝置，其特征在于，還包括:如權利要求I 9任一項所述的顯示屏不良點采集裝置。
專利摘要本實用新型涉及顯示屏檢測技術領域，公開了一種顯示屏不良點采集裝置，包括支撐待測顯示屏的基臺；安裝于基臺、且與基臺的支撐面平行設置的導軌，導軌可在平行于基臺的支撐面的一個平面內運動；可沿導軌長度方向移動、采集待測顯示屏上不良點信息的激光對位模塊；與激光對位模塊信號連接、將接收到的不良點信息生成具體坐標值的坐標處理模塊。上述顯示屏不良點采集裝置，可以將采集到的待測顯示屏上不良點的信息生成具體坐標值。本實用新型還提供了一種顯示屏短接測試系統，可以降低顯示屏的廢棄率。
文檔編號G09G3/00GK203134320SQ20132014538
公開日2013年8月14日 申請日期2013年3月27日 優先權日2013年3月27日
發明者李明, 金用燮, 劉曉濤, 穆慧慧 申請人:合肥京東方光電科技有限公司, 京東方科技集團股份有限公司