顯示面板及用于測試顯示面板的方法

顯示面板及用于測試顯示面板的方法
【專利摘要】本發明公開一種顯示面板及用于測試顯示面板的方法，所述顯示面板包括：顯示部，所述顯示部包括用于顯示多種顏色的多個子像素、以及與所述子像素連接的多條數據線；第一測試部，所述第一測試部用于按照所述子像素的每種顏色向所述多條數據線中的第（2K-1）條數據線提供測試信號，其中K是大于0的整數；以及第二測試部，所述第二測試部用于在所述第一測試部提供所述測試信號時，按照所述子像素的每種顏色向所述多條數據線中的第2K條數據線提供測試信號，其中由所述第二測試部提供的測試信號的極性與由所述第一測試部提供的測試信號的極性相反。
【專利說明】顯示面板及用于測試顯示面板的方法
[0001]本申請要求2012年11月23日提交的韓國專利申請N0.10_2012_0133434的優先權，在此援引該專利申請作為參考，如同在這里完全闡述一樣。
【技術領域】
[0002]本發明的實施方式涉及一種顯示面板以及用于測試顯示面板是否正常操作的方法。
【背景技術】
[0003]可通過包括顯示面板的照明測試工藝在內的各種工藝來制造諸如液晶顯示器(IXD)、有機照明二極管(0LED)、等離子體顯示面板(PDP)和電泳顯示器(EPD)這樣的顯示裝置。更詳細地說，在顯示裝置中包含的顯示面板上顯示圖像。可通過向顯示面板提供預定的測試信號并測試顯示面板是否根據預定的測試信號正常操作，進行照明測試工藝。
[0004]例如，圖1是圖解現有技術的顯示面板的示意圖，圖2是圖解當進行照明測試工藝時顯示面板的示意圖。
[0005]參照圖1，現有技術的顯示面板10包括顯示部11和測試部12。顯示部11包括由多條柵極線GLl到GLn和多條數據線DLl到DLm限定的多個子像素SP，其中柵極線和數據線彼此交叉。多條數據線DLl到DLm還與測試部12連接。
[0006]此外，測試部12向數據線DLl到DLm相對于公共電壓Vcom交替提供正極性(+ )測試信號和負極性(_)測試信號。也就是說，測試部12向數據線DLl到DLm傳送從測試裝置提供的正極性(+ )測試信號和負極性(_)測試信號，由此正極性(+ )測試信號和負極性(_)測試信號被交替提供給數據線DLl到DLm。數據線DLl到DLm通過一條連接線還與測試部12連接。
[0007]在測試部12向數據線DLl到DLm交替提供正極性(+ )測試信號和負極性(_)測試信號時，根據現有技術的顯示面板10中包含的子像素SP以幀為單位被驅動并發光，由此進行照明測試。例如，根據現有技術的顯示面板10的所有子像素SP在第一幀期間根據正極性(+)測試信號被驅動，然后在第二幀期間根據負極性(-)測試信號被驅動。
[0008]根據這些反復的驅動操作進行照明測試。也就是說，在根據現有技術的顯示面板10的所有子像素SP中，通過以幀為單位反復反轉電壓極性，實施幀反轉方式。
[0009]然而，因為以幀反轉方式進行照明測試，所以由于測試信號的低頻率會導致閃爍，這會在照明測試中產生問題。為了克服此閃爍問題，已提出了增加測試信號頻率的方法。然而，如果測試信號頻率增加，則向數據線DLl到DLm施加正極性(+ )測試信號和負極性(_)測試信號的時間變短。因而，如圖2中所示，顯示面板10中包含的一些子像素SP以未完全充電的狀態被驅動，由此，以未完全充電的狀態被驅動的一些子像素SP中的照明等級相對較低。因此，根據測試結果，即使子像素SP具有優良的質量，此子像素SP中的照明等級也會被分類標注為具有較差的質量。
【發明內容】

[0010]因此，本發明的一個目的是提供一種基本上克服了由于現有技術的限制和缺點而導致的一個或多個問題的顯示面板和用于測試顯示面板的方法。
[0011]本發明的另一個目的是提供一種用于防止以未完全充電的狀態被驅動的具有優良質量的子像素被分類為較差或較壞質量的顯示面板和用于測試顯示面板的方法。
[0012]本發明的再一個目的是提供一種顯示面板和用于使用行反轉測試方式及相應的測試裝置測試顯示面板的方法。
[0013]為了實現這些和其他優點并根據本發明的目的，如在此具體化和概括描述的，在一個方面中，本發明提供了一種用于測試顯示面板的方法，所述顯示面板包括用于顯示第一顏色的多個第一子像素、用于顯示第二顏色的多個第二子像素以及用于顯示第三顏色的多個第三子像素，所述方法包括如下步驟:向與所述第一子像素連接的多條第一數據線中的第(2K-1)條第一數據線提供第一測試信號，其中K是大于O的整數；以及在向第(2K-1)條第一數據線提供所述第一測試信號時，向所述多條第一數據線中的第2K條第一數據線提供與所述第一測試信號具有相反極性的第二測試信號，以交替地照明與第(2K-1)條第一數據線連接的第一子像素和與第2K條第一數據線連接的第一子像素。
[0014]在另一個方面中，本發明提供了一種用于測試顯示面板的方法，所述方法包括如下步驟:第一提供步驟，用于向在所述顯示面板中包含的多條數據線中的第(2K-1)條數據線提供正極性測試信號，并同時向第2K條數據線提供負極性測試信號，其中K是大于O的整數；以及第二提供步驟，用于向第(2K-1)條數據線提供所述負極性測試信號，并同時向第2K條數據線提供所述正極性測試信號。
[0015]在再一個方面中，本發明提供了一種顯示面板，包括:顯示部，所述顯示部包括用于顯示多種顏色的多個子像素、以及與所述子像素連接的多條數據線；第一測試部，所述第一測試部用于按照所述子像素的每種顏色向所述多條數據線中的第(2K-1)條數據線提供測試信號，其中K是大于O的整數；以及第二測試部，所述第二測試部用于在所述第一測試部提供所述測試信號時，按照所述子像素的每種顏色向所述多條數據線中的第2K條數據線提供測試信號，其中由所述第二測試部提供的測試信號的極性與由所述第一測試部提供的測試信號的極性相反。
[0016]本發明進一步的應用范圍將從下文給出的詳細描述變得顯而易見。然而，應當理解，因為在本發明的精神和范圍內的各種變化和修改對于所屬領域技術人員來說通過下文的詳細描述將是顯而易見的，所以僅通過舉例說明的方式給出了表示本發明優選實施方式的詳細描述和具體例子。
【專利附圖】

【附圖說明】
[0017]給本發明提供進一步理解并且并入在本申請中組成本申請一部分的附圖圖解了本發明的實施方式，并與說明書一起用于說明本發明的原理。在附圖中:
[0018]圖1是圖解現有技術的顯示面板的示意圖；
[0019]圖2是圖解當進行照明測試工藝時現有技術的顯示面板的示意圖；
[0020]圖3和4是圖解根據本發明實施方式的顯示面板的示意圖；
[0021]圖5和6是圖解根據本發明實施方式的用于測試顯示面板的工藝的示意圖；以及[0022]圖7是圖解根據本發明實施方式的用于將測試裝置與顯示面板接觸的工藝的側視圖。
【具體實施方式】
[0023]下文，將參照附圖詳細描述根據本發明實施方式的顯示面板。
[0024]參照圖3，根據本發明實施方式的顯示面板I在諸如IXD、0LED、PDP和ETO這樣的顯示裝置中顯示圖像。此外，根據本發明的實施方式對顯示面板I進行照明測試，以通過使用諸如自動探測裝置(Auto-Probe Apparatus)這樣的測試裝置檢查顯示面板I是否被正常驅動。
[0025]如圖3中所示，顯示面板I包括顯示部2、用于照明測試的第一測試部3和第二測試部4。第一測試部3和第二測試部4位于與顯示部2的周邊區域對應的非顯示部5中。
[0026]此外，在顯示部2中形成有多條數據線Dl到Dm、多條柵極線Gl到Gn以及多個子像素SP，其中每個子像素SP由彼此交叉的柵極線和數據線限定。此外，數據線Dl到Dm與子像素SP連接。在柵極線Gl到Gn和數據線Dl到Dm的每個交叉區域處還形成有用于切換子像素SP的薄膜晶體管TFT。
[0027]參照圖4，多個子像素SPl，SP2和SP3形成單位像素P，顯示部2包括多個單位像素P。每個單位像素P都包括用于顯示第一顏色的第一子像素SP1、用于顯示第二顏色的第二子像素SP2和用于顯示第三顏色的第三子像素SP3。在此情形中，第一、第二和第三顏色彼此不同。
[0028]例如，每個單位像素P可包括用于顯示紅色的第一子像素SP1、用于顯示綠色的第二子像素SP2和用于顯示藍色的第三子像素SP3。然而，第一顏色可以是青色，第二顏色可以是品紅色，第三顏色可以是黃色。每個單位像素P也可以包括用于顯示不同顏色的四個或更多個(如圖3中所示的)子像素SP。
[0029]下文，將更詳細地描述根據本發明實施方式的包括單位像素P的顯示面板1，其中每個單位像素P都包括用于顯示紅色的第一子像素SP1、用于顯示綠色的第二子像素SP2和用于顯示藍色的第三子像素SP3。
[0030]參照圖4，顯示部2包括與第一子像素SPl連接的第一數據線RDl到RDm、與第二子像素SP2連接的第二數據線⑶I到GDm、以及與第三子像素SP3連接的第三數據線BDl到BDm0數據線還按照第一數據線RDl到RDm、第二數據線⑶I到GDm和第三數據線BDl到BDm的依次順序(sequential order)重復排列。
[0031]參照圖3，第一測試部3與一些數據線Dl到Dm連接，并向相應數據線提供測試信號。測試信號也是從測試裝置提供。因為測試裝置與第一測試部3接觸，所以測試信號通過第一測試部3提供給一些數據線Dl到Dm。
[0032]此外，測試裝置可提供第一和第二測試信號，其中第一測試信號相對于公共電壓Vcom依次交替地施加正極性(+ )測試信號和負極性(_)測試信號；第二測試信號相對于公共電壓Vcom依次交替地施加負極性(_)測試信號和正極性(+ )測試信號。
[0033]此外，第二測試部4與一些數據線Dl到Dm連接，并向相應數據線提供測試信號。因為測試裝置與第二測試部4接觸，所以測試信號通過第二測試部4提供給一些數據線Dl到Dm。測試裝置也可通過第二測試部4提供第一測試信號和第二測試信號。[0034]參照圖4，第二測試部4按照子像素SP1，SP2和SP3的每種顏色而向第2K條數據線(“K”是大于O的整數)提供測試信號。此外，第一測試部3按照子像素SP1，SP2和SP3的每種顏色而向第(2K-1)條數據線提供測試信號。在此情形中，當第一測試部3提供測試信號時，第二測試部4提供與第一測試部3提供的測試信號具有相反極性的測試信號，這將在下面詳細描述。
[0035]此外，當第一數據線RDl到RDm與第一子像素SPl連接時，第一數據線RDl到RDm中的第(2K-1)條第一數據線與第一測試部3連接。此外，第一數據線RDl到RDm中的第2K條第一數據線與第二測試部4連接。在此情形中，第一測試部3和第二測試部4同時分別向第(2K-1)條第一數據線和第2K條第一數據線提供具有相反極性的測試信號。
[0036]例如，如果第一測試部3向第(2K-1)條第一數據線提供正極性(+ )測試信號，則第二測試部4向第2K條第一數據線提供負極性(-)測試信號。如果第一測試部3向第(2K-1)條第一數據線提供負極性(_)測試信號，則第二測試部4向第2K條第一數據線提供正極性(+ )測試信號。也就是說，如果第一測試部3向第(2K-1)條第一數據線提供第一測試信號，則第二測試部4向第2K條第一數據線提供第二測試信號。
[0037]更詳細地說，第一測試部3在第一提供步驟中向奇數編號的紅色子像素(1，3，5，7等)提供具有正極性的測試信號，第二測試部4以行反轉方式向偶數編號的紅色子像素(2，4，6，8等)提供具有負極性的測試信號。然后對其他顏色子像素繼續進行此工藝。優選地，在第二提供步驟中向第(2K-1)條數據線提供負極性測試信號，并同時向第2K條數據線提供正極性測試信號。
[0038]因此，第一測試部3和第二測試部4在照明測試期間交替驅動并照明與第(2K-1)條第一數據線連接的第一子像素SPl以及與第2K條第一數據線連接的第一子像素SPl。因而，在與第一子像素SPl相關的照明測試期間，根據本發明實施方式的顯示面板I防止了閃爍的發生，從而便于照明測試工藝的實施。
[0039]此外，根據本發明實施方式的顯示面板I防止了閃爍的發生，由此使得測試信號的頻率降低。因而，根據本發明實施方式的顯示面板I增加了向第一子像素SPl施加正極性(+)測試信號和負極性(-)測試信號的時間，由此增加了向第一子像素SPl充入像素電壓的時間。如前面所述，當具有優良質量的一些第一子像素SPl以未完全充電的狀態被驅動時，它們會被分類為較差的質量。然而，在根據本發明實施方式的顯示面板I中，可防止以未完全充電的狀態被驅動的具有優良質量的一些第一子像素SPl被錯誤地分類為較差的質量，由此提高了照明測試的精度和可靠性。
[0040]之后，當第二數據線⑶I到GDm與第二子像素SP2連接時，第二數據線⑶I到GDm中的第(2K-1)條第二數據線與第一測試部3連接。此外，第二數據線⑶I到GDm中的第2K條第二數據線與第二測試部4連接。在此情形中，第一測試部3和第二測試部4同時分別向第(2K-1)條第二數據線和第2K條第二數據線提供具有相反極性的測試信號。
[0041]例如，如果第一測試部3向第(2K-1)條第二數據線提供負極性(_)測試信號，則第二測試部4向第2K條第二數據線提供正極性(+ )測試信號。如果第一測試部3向第(2K-1)條第二數據線提供正極性(+ )測試信號，則第二測試部4向第2K條第二數據線提供負極性(_)測試信號。也就是說，如果第一測試部3向第(2K-1)條第二數據線提供第二測試信號，則第二測試部4向第2K條第二數據線提供第一測試信號。[0042]更詳細地說，第一測試部3在第一提供步驟中向奇數編號的綠色子像素(1，3，5，7等)提供具有正極性的測試信號，第二測試部4以行反轉方式向偶數編號的綠色子像素(2，4，6，8等)提供具有負極性的測試信號。也可使用相反極性。例如，第一測試部3在第一提供步驟中向奇數編號的綠色子像素(1，3，5，7等)提供具有負極性的測試信號，第二測試部4以行反轉方式向偶數編號的綠色子像素(2，4，6，8等)提供具有正極性的測試信號。在此第二個例子中，極性與用于紅色子像素的極性相反。
[0043]因此，第一測試部3和第二測試部4在照明測試期間交替驅動并照明與第(2K-1)條第二數據線連接的第二子像素SP2以及與第2K條第二數據線連接的第二子像素SP2。因而，在與第二子像素SP2相關的照明測試期間，根據本發明實施方式的顯示面板I防止了閃爍的發生，同時增加了向第二子像素SP2充入像素電壓的時間，由此提高了照明測試的精度和可靠性。
[0044]之后，當第三數據線BDl到BDm與第三子像素SP3連接時，第三數據線BDl到BDm中的第(2K-1)條第三數據線與第一測試部3連接。此外，第三數據線BDl到BDm中的第2K條第三數據線與第二測試部4連接。在此情形中，第一測試部3和第二測試部4同時分別向第(2K-1)條第三數據線和第2K條第三數據線提供具有相反極性的測試信號。
[0045]例如，如果第一測試部3向第(2K-1)條第三數據線提供正極性(+ )測試信號，則第二測試部4向第2K條第三數據線提供負極性(-)測試信號。如果第一測試部3向第(2K-1)條第三數據線提供負極性(-)測試信號，則第二測試部4向第2K條第三數據線提供正極性(+ )測試信號。也就是說，如果第一測試部3向第(2K-1)條第三數據線提供第一測試信號，則第二測試部4向第2K條第三數據線提供第二測試信號。
[0046]因此，第一測試部3和第二測試部4在照明測試期間交替驅動并照明與第(2K-1)條第三數據線連接的第三子像素SP3以及與第2K條第三數據線連接的第三子像素SP3。因而，在與第三子像素SP3相關的照明測試期間，根據本發明實施方式的顯示面板I防止了閃爍的發生，同時增加了向第三子像素SP3充入像素電壓的時間，由此提高了照明測試的精度和可靠性。
[0047]如上所述，根據本發明實施方式的顯示面板I防止了閃爍的發生并降低了測試信號的頻率。因而，根據本發明實施方式的顯示面板I可通過使用與在實際驅動顯示裝置時使用的驅動信號具有相同頻率的測試信號進行照明測試。例如，假定通過60Hz頻率的驅動信號驅動顯示裝置，則即使在顯示面板I中使用60Hz頻率的測試信號進行照明測試，也可防止閃爍的發生。因此，可在與顯示裝置的實際驅動環境相同的條件下進行顯示面板I的照明測試，由此實現照明測試的更為卓越的精度和可靠性。
[0048]在上述照明測試的工藝期間，測試裝置可改變通過第一測試部3和第二測試部4施加給第一數據線RDl到RDm、第二數據線GDl到GDm和第三數據線BDl到BDm的測試信號的電壓電平。因為灰度級根據測試信號的電壓電平而變化，所以可依據每個灰度級進行顯示面板I的照明測試。
[0049]參照圖4到6，無論顏色如何，第一測試部3和第二測試部4都可同時向第(2K_1)條數據線和第2Κ條數據線提供具有相反極性的測試信號。也就是說，可以以列反轉方式進行顯示面板I的照明測試，這將在下面詳細描述。
[0050]首先，可在數據線RDl到RDm、⑶I到GDm和BDl到BDm的排列方向上形成多個單位像素P，其中每個單位像素P都包括依次設置的第一子像素SP1、第二子像素SP2和第三子像素SP3。此外，第二子像素SP2緊鄰第一子像素SPl設置，第三子像素SP3緊鄰第二子像素SP2設置。也就是說，第二子像素SP2位于第一子像素SPl與第三子像素SP3之間。
[0051]之后，如圖5中所示，第一測試部3向與第一子像素SPl連接的第一數據線RDl到RDm中的第(2K-1)條第一數據線提供正極性(+ )測試信號。第一測試部3還向與第二子像素SP2連接的第二數據線GDl到GDm中的第(2K-1)條第二數據線提供負極性(_)測試信號。
[0052]之后，第一測試部3向與第三子像素SP3連接的第三數據線BDl到BDm中的第(2K-1)條第三數據線提供正極性(+ )測試信號。因此，第(2K-1)個單位像素P的第一子像素SPl被提供正極性(+ )測試信號，第(2K-1)個單位像素P的第二子像素SP2被提供負極性(_)測試信號，第(2K-1)個單位像素P的第三子像素SP3被提供正極性(+ )測試信號。
[0053]同時，第二測試部4向第一數據線RDl到RDm中的第2K條第一數據線提供負極性(_)測試信號，向第二數據線GDl到GDm中的第2K條第二數據線提供正極性(+ )測試信號，并向第三數據線BDl到BDm中的第2K條第三數據線提供負極性(_)測試信號。因而，第2K個單位像素P的第一子像素SPl被提供負極性(_)測試信號，第2K個單位像素P的第二子像素SP2被提供正極性(+ )測試信號，第2K個單位像素P的第三子像素SP3被提供負極性(_)測試信號。
[0054]結果，隨著沿數據線RDl到RDm、⑶I到GDm和BDl到BDm的排列方向按照正極性、
負極性、正極性、負極性、正極性和負極性的順序依次提供測試信號，可以以列反轉方式進行顯示面板I的照明測試。因此，可在與顯示裝置的實際驅動環境相同的條件下進行顯示面板I的照明測試，由此實現照明測試的更為卓越的精度和可靠性。
[0055]接下來，如圖6中所示，第一測試部3向第(2K-1)條第一數據線提供負極性(_)測試信號，向第(2K-1)條第二數據線提供正極性(+ )測試信號，并向第(2K-1)條第三數據線提供負極性(_)測試信號。因此，第(2K-1)個單位像素P的第一子像素SPl被提供負極性(_)測試信號，第(2K-1)個單位像素P的第二子像素SP2被提供正極性(+ )測試信號，第(2K-1)個單位像素P的第三子像素SP3被提供負極性(_)測試信號。
[0056]同時，第二測試部4向第2K條第一數據線提供正極性(+ )測試信號，向第2K條第二數據線提供負極性(_)測試信號，并向第2K條第三數據線提供正極性(+ )測試信號。因而，第2K個單位像素P的第一子像素SPl被提供正極性(+ )測試信號，第2K個單位像素P的第二子像素SP2被提供負極性(_)測試信號，第2K個單位像素P的第三子像素SP3被提供正極性(+ )測試信號。
[0057]結果，隨著如圖5中所示沿數據線RDl到RDm、⑶I到GDm和BDl到BDm的排列方向按照正極性、負極性、正極性、負極性、正極性和負極性的順序依次提供測試信號，然后如圖6中所示沿數據線RDl到RDm、GDl到GDm和BDl到BDm的排列方向按照負極性、正極性、負極性、正極性、負極性和正極性的順序依次提供測試信號，可以以列反轉方式進行顯示面板I的照明測試。
[0058]之后，可重復進行如圖5中所示按照正極性、負極性、正極性、負極性、正極性和負極性的順序依次提供測試信號的工藝以及隨后的如圖6中所示按照負極性、正極性、負極性、正極性、負極性和正極性的順序依次提供測試信號的工藝。也就是說，第一測試部3向第(2K-1)條第一數據線提供第一測試信號，向第(2K-1)條第二數據線提供第二測試信號，并向第(2K-1)條第三數據線提供第一測試信號。
[0059]然后，第二測試部4向第2K條第一數據線提供第二測試信號，向第2K條第二數據線提供第一測試信號，并向第2K條第三數據線提供第二測試信號。在顯示面板I中的照明測試的工藝期間，隨著通過第一測試部3和第二測試部4提供的測試信號的電壓電平變化，灰度級也變化，由此可按照每個灰度級進行照明測試。此外，在照明測試的上述工藝期間向柵極線GLl到GLn提供掃描信號。
[0060]參照圖4到7，非顯示部(見圖4的“5”)位于顯示部2的周邊。在非顯示部5中還設置有驅動器1C。在非顯示部5中還包括多個驅動焊盤100，當實際驅動顯示裝置時，驅動焊盤100向數據線RDl到RDm、GDl到GDm和BDl到BDm提供數據信號。驅動焊盤100與各數據線RDl到RDm、GDI到GDm和BDl到BDm連接。
[0061]此外，第一測試部3和第二測試部4形成在非顯示部5中。如圖4中所示，第一測試部3包括第一測試焊盤31、第二測試焊盤32、第三測試焊盤33、第一連接線35、第二連接線36和第三連接線37。在此情形中，第一測試焊盤31、第二測試焊盤32和第三測試焊盤33與測試裝置(見圖7的“200”)接觸，并被提供來自測試裝置200的測試信號。
[0062]此外，第一連接線35與第一測試焊盤31連接，第二連接線36與第二測試焊盤32連接，第三連接線37與第三測試焊盤33連接。測試裝置200還包括主體(見圖7的“210”)、以及用于提供測試信號的測試信號供給器(見圖7的“220”)。主體210與第一接觸部件(見圖7的“211”)連接，第一接觸部件將要與第一測試焊盤31、第二測試焊盤32和第三測試焊盤33接觸。
[0063]當第一接觸部件211與第一測試焊盤31、第二測試焊盤32和第三測試焊盤33接觸時，測試信號供給器220通過第一接觸部件211提供測試信號，由此對根據本發明實施方式的顯示面板I進行照明測試。
[0064]此外，第一測試焊盤31位于非顯示部5中，更特別地，第一測試焊盤31位于驅動焊盤100的一側。隨著測試裝置200與第一測試焊盤31接觸，測試裝置200與第一連接線35以及和第一連接線35連接的數據線電連接。因而，第一測試焊盤31可被提供來自測試裝置200的第一測試信號。
[0065]另外，第二測試焊盤32位于非顯示部5中，更特別地，第二測試焊盤32位于驅動焊盤100的一側。第二測試焊盤32還位于第一測試焊盤31與第三測試焊盤33之間。隨著測試裝置200與第二測試焊盤32接觸，測試裝置200與第二連接線36以及和第二連接線36連接的數據線電連接。因而，第二測試焊盤32可被提供來自測試裝置200的第二測試信號。
[0066]此外，第三測試焊盤33位于非顯示部5中，更特別地，第三測試焊盤33位于驅動焊盤100的一側。隨著測試裝置200與第三測試焊盤33接觸，測試裝置200與第三連接線37以及和第三連接線37連接的數據線電連接。因而，第三測試焊盤33可被提供來自測試裝置200的第一測試信號。
[0067]另外，第一連接線35連接第一測試焊盤31和與第一子像素SPl連接的第一數據線RDl到RDm中的第(2K-1)條第一數據線。隨著測試裝置200與第一測試焊盤31接觸，第一測試信號通過第一連接線35提供給第(2K-1)條第一數據線。第一連接線35也可通過開關元件與第(2K-1)條第一數據線連接。例如，開關元件可以為薄膜晶體管TFT。
[0068]此外，第二連接線36連接第二測試焊盤32和與第二子像素SP2連接的第二數據線⑶I到GDm中的第(2K-1)條第二數據線。隨著測試裝置200與第二測試焊盤32接觸，第二測試信號通過第二連接線36提供給第(2K-1)條第二數據線。第二連接線36也可通過開關元件與第(2K-1)條第二數據線連接。例如，開關元件可以為薄膜晶體管TFT。
[0069]此外，第三連接線37連接第三測試焊盤33和與第三子像素SP3連接的第三數據線BDl到BDm中的第(2K-1)條第三數據線。隨著測試裝置200與第三測試焊盤33接觸，第一測試信號通過第三連接線37提供給第(2K-1)條第三數據線。第三連接線37也可通過開關元件與第(2K-1)條第三數據線連接。例如，開關元件可以為薄膜晶體管TFT。
[0070]參照圖4和7，第一測試部3可進一步包括第一使能焊盤34和第一使能連接線38。第一使能焊盤34位于非顯示部5中，更特別地，第一使能焊盤34位于驅動焊盤100的一側。第一使能焊盤34緊鄰第一測試焊盤31設置。另外，第一測試焊盤31位于第一使能焊盤34與第二測試焊盤32之間。
[0071]此外，第一使能連接線38連接第一使能焊盤34與在第一連接線35、第二連接線36及第三連接線37中包含的各個開關元件。隨著測試裝置(見圖7的“200”)與第一使能焊盤34接觸，測試裝置200與第一使能連接線38以及和第一使能連接線38連接的開關元件電連接。測試裝置200可通過第一使能焊盤34提供使能測試信號。
[0072]在此情形中，主體(見圖7的“210”)可與第一接觸部件(見圖7的“211”)連接，第一接觸部件將要與第一測試焊盤31、第二測試焊盤32、第三測試焊盤33和第一使能焊盤34接觸。當第一接觸部件211與第一測試焊盤31、第二測試焊盤32、第三測試焊盤33和第一使能焊盤34接觸時，測試信號供給器(見圖7的“220”)通過第一接觸部件211提供測試信號，由此對根據本發明實施方式的顯示面板I進行照明測試。
[0073]參照圖4和7，第二測試部4可包括第四測試焊盤41、第五測試焊盤42、第六測試焊盤43、第四連接線45、第五連接線46和第六連接線47。在此情形中，第四測試焊盤41、第五測試焊盤42和第六測試焊盤43將要與測試裝置200接觸，并被提供來自測試裝置200的測試信號。此外，第四連接線45與第四測試焊盤41連接，第五連接線46與第五測試焊盤42連接，第六連接線47與第六測試焊盤43連接。
[0074]此外，主體(見圖7的“210”)可包括第二接觸部件(見圖7的“212”)，第二接觸部件將要與第四測試焊盤41、第五測試焊盤42和第六測試焊盤43接觸。當第二接觸部件212與第四測試焊盤41、第五測試焊盤42和第六測試焊盤43接觸時，測試信號供給器(見圖7的“220”)通過第二接觸部件212提供測試信號，由此對根據本發明實施方式的顯示面板I進行照明測試。第二接觸部件212以與第一接觸部件211相距預定間隔的方式設置。
[0075]另外，第四測試焊盤41位于非顯示部5中，更特別地，第四測試焊盤41位于驅動焊盤100的另一側。隨著測試裝置200與第四測試焊盤41接觸，測試裝置200與第四連接線45以及和第四連接線45連接的數據線電連接。第四測試焊盤41可被提供來自測試裝置200的第二測試信號。
[0076]此外，第五測試焊盤42位于非顯示部5中，更特別地，第五測試焊盤42位于驅動焊盤100的另一側。第五測試焊盤42位于第四測試焊盤41與第六測試焊盤43之間。隨著測試裝置200與第五測試焊盤42接觸，測試裝置200與第五連接線46以及和第五連接線46連接的數據線電連接。因而，第五測試焊盤42可被提供來自測試裝置200的第一測試信號。
[0077]另外，第六測試焊盤43位于非顯示部5中，更特別地，第六測試焊盤43位于驅動焊盤100的另一側。隨著測試裝置200與第六測試焊盤43接觸，測試裝置200與第六連接線47以及和第六連接線47連接的數據線電連接。因而，第六測試焊盤43可被提供來自測試裝置200的第二測試信號。
[0078]此外，第四連接線45連接第四測試焊盤41和與第一子像素SPl連接的第一數據線RDl到RDm中的第2K條第一數據線。隨著測試裝置200與第四測試焊盤41接觸，第二測試信號通過第四連接線45提供給第2K條第一數據線。第四連接線45也可通過開關元件與第2K條第一數據線連接。例如，開關元件可以為薄膜晶體管TFT。
[0079]另外，第五連接線46連接第五測試焊盤42和與第二子像素SP2連接的第二數據線GDl到GDm中的第2K條第二數據線。隨著測試裝置200與第五測試焊盤42接觸，第一測試信號通過第五連接線46提供給第2K條第二數據線。第五連接線46也可通過開關元件與第2K條第二數據線連接。例如，如上所述，開關元件可以為薄膜晶體管TFT。
[0080]此外，第六連接線47連接第六測試焊盤43和與第三子像素SP3連接的第三數據線BDl到BDm中的第2K條第三數據線。隨著測試裝置200與第六測試焊盤43接觸，第二測試信號通過第六連接線47提供給第2K條第三數據線。第六連接線47也可通過諸如薄膜晶體管TFT這樣的開關元件與第2K條第三數據線連接。
[0081]參照圖4和7，第二測試部4可進一步包括第二使能焊盤44。第二使能焊盤44位于非顯示部5中，更特別地，第二使能焊盤44位于驅動焊盤100的另一側。第二使能焊盤44還緊鄰第四測試焊盤41設置，第四測試焊盤41位于第二使能焊盤44與第五測試焊盤42之間。另外，第二使能焊盤44可通過第一使能連接線38與在第四連接線45、第五連接線46及第六連接線47中包含的開關元件連接。
[0082]因此，測試裝置200可通過第二使能焊盤44提供使能測試信號。在此情形中，主體(見圖7的“210”)可與第二接觸部件(見圖7的“212”)連接，第二接觸部件將要與第四測試焊盤41、第五測試焊盤42、第六測試焊盤43和第二使能焊盤44接觸。當第二接觸部件212與第四測試焊盤41、第五測試焊盤42、第六測試焊盤43和第二使能焊盤44接觸時，測試信號供給器(見圖7的“220”)通過第二接觸部件212提供測試信號，由此對根據本發明實施方式的顯示面板I進行照明測試。
[0083]此外，第二測試部4可進一步包括第二使能連接線。更詳細地說，第二使能連接線可連接第二使能焊盤44與在第四連接線45、第五連接線46及第六連接線47中包含的開關元件。隨著測試裝置200與第二使能焊盤44接觸，測試裝置200可與第二使能連接線以及和第二使能連接線連接的開關元件電連接。
[0084]下文，將參照附圖詳細描述根據本發明實施方式的用于測試顯示面板的方法。
[0085]首先，向顯示面板I中包含的多條數據線Dl到Dm (如圖3中所示)中的第(2K-1)條數據線提供第一測試信號。可通過經第一測試部3和第二測試部4向第(2K-1)條數據線提供第一測試信號進行此工藝，其中第一測試信號相對于公共電壓Vcom依次交替地施加正極性(+ )測試信號和負極性(_)測試信號。向第(2K-1)條數據線提供第一測試信號的工藝包括使測試裝置(見圖7的“200”)與第一測試部3和第二測試部4接觸、以及通過第一測試部3和第二測試部4從測試裝置200向第(2K-1)條數據線提供第一測試信號。
[0086]然后，向顯示面板I中包含的多條數據線Dl到Dm中的第2K條數據線提供與第一測試信號具有相反極性的第二測試信號。可通過經第一測試部3和第二測試部4向第2K條數據線提供第二測試信號進行此工藝，其中第二測試信號相對于公共電壓Vcom依次交替地施加負極性(_)測試信號和正極性(+ )測試信號。向第2K條數據線提供第二測試信號的工藝包括:在測試裝置(見圖7的“200”)與第一測試部3和第二測試部4接觸的條件下，通過第一測試部3和第二測試部4從測試裝置200向第2K條數據線提供第二測試信號。
[0087]可同時進行向第2K條數據線提供第二測試信號的工藝和向第(2K-1)條數據線提供第一測試信號的工藝。因此，用于測試顯示面板I的方法可依次進行向第(2K-1)條數據線提供正極性(+ )測試信號并同時向第2K條數據線提供負極性(_)測試信號的第一測試步驟、以及向第(2K-1)條數據線提供負極性(-)測試信號并同時向第2K條數據線提供正極性(+ )測試信號的第二測試步驟。
[0088]因而，對于根據本發明實施方式的用于測試顯示面板的方法，在第一測試步驟期間，沿數據線Dl到Dm的排列方向如圖5中所示按照正極性、負極性、正極性、負極性、正極性和負極性的順序依次提供測試信號，然后在第二測試步驟期間，如圖6中所示按照負極性、正極性、負極性、正極性、負極性和正極性的順序依次提供測試信號，由此以列反轉方式進行照明測試。因此，可在與顯示裝置的實際驅動環境相同的條件下進行用于測試顯示面板I的方法，由此實現照明測試的更為卓越的精度和可靠性。
[0089]更詳細地說，參照圖4和5，本發明的測試方法包括從第一測試部3的第一測試焊盤31向奇數編號的紅色子像素提供具有正極性的測試信號、以及從第二測試部4的第四測試焊盤41向偶數編號的紅色子像素提供具有負極性的測試信號。該方法還包括從第一測試部3的第二測試焊盤32向奇數編號的藍色子像素提供具有負極性的測試信號、以及從第二測試部4的第五測試焊盤42向偶數編號的藍色子像素提供具有正極性的測試信號。該方法包括從第一測試部3的第三測試焊盤33向奇數編號的綠色子像素提供具有正極性的測試信號、以及從第二測試部4的第六測試焊盤43向偶數編號的綠色子像素提供具有負極性的測試信號。圖5中圖解了負極性和正極性。圖6圖解了正極性和負極性的另一種布置。
[0090]根據本發明實施方式的用于測試顯示面板的方法可進一步包括在改變測試信號的電壓電平之后重復進行第一測試步驟和第二測試步驟的工藝。也就是說，在改變第一測試信號和第二測試信號的電壓電平之后，測試裝置200通過使用第一測試部3和第二測試部4，向第(2K-1)條數據線提供具有改變的電壓電平的第一測試信號，并向第2K條數據線提供具有改變的電壓電平的第二測試信號。因此，根據本發明實施方式的用于測試顯示面板的方法能夠根據用于照明測試的相應灰度級來改變測試信號的電壓電平，由此可按照顯示面板I的每個灰度級進行照明測試。
[0091]在改變測試信號的電壓電平之后重復進行第一測試步驟和第二測試步驟的上述工藝可按照如下方式進行:重復進行第一測試步驟和第二測試步驟，直到完成第一灰度級的照明測試為止，然后在完成第一灰度級的照明測試之后，當基于與第一灰度級不同的第二灰度級改變測試信號的電壓電平時，重復進行第一測試步驟和第二測試步驟。在施加具有改變的電壓電平的測試信號之后重復進行第一和第二測試步驟的工藝可反復進行，直到完成顯示面板I的所有期望灰度級的照明測試為止。在此情形中，可由用戶預設與顯示面板I的照明測試相關的灰度級的數量和順序。
[0092]參照圖4到7，如果對包括與第一子像素SPl連接的第一數據線RDl到RDm、與第二子像素SP2連接的第二數據線⑶I到GDm以及與第三子像素SP3連接的第三數據線BDl到BDm的顯示面板I進行照明測試，則用于測試顯示面板的方法可包括下述工藝。
[0093]首先，向第一數據線RDl到RDm中的第(2K-1)條第一數據線提供第一測試信號。可通過經第一測試部3和第二測試部4向第(2K-1)條第一數據線提供第一測試信號進行此工藝，其中第一測試信號相對于公共電壓Vcom依次交替地施加正極性(+ )測試信號和負極性(_)測試信號。可在測試裝置(見圖7的“200”)與第一測試焊盤31接觸的條件下，通過經第一測試焊盤31和第一連接線35向第(2K-1)條第一數據線提供第一測試信號，來進行向第(2K-1)條第一數據線提供第一測試信號的工藝。
[0094]然后，向第一數據線RDl到RDm中的第2K條第一數據線提供第二測試信號。可通過經第一測試部3和第二測試部4向第2K條第一數據線提供第二測試信號進行此工藝，其中第二測試信號相對于公共電壓Vcom依次交替地施加負極性(_)測試信號和正極性(+ )測試信號。可在測試裝置200與第四測試焊盤41接觸的條件下，通過經第四測試焊盤41和第四連接線45向第2K條第一數據線提供第二測試信號，來進行向第2K條第一數據線提供第二測試信號的工藝。
[0095]可同時進行向第2K條第一數據線提供第二測試信號的工藝和向第(2K-1)條第一數據線提供第一測試信號的工藝。因而，根據本發明實施方式的用于測試顯示面板的方法可同時向第(2K-1)條第一數據線和第2K條第一數據線提供具有相反極性的測試信號。
[0096]因此，根據本發明實施方式的用于測試顯示面板的方法在照明測試期間可交替地照明與第(2K-1)條第一數據線連接的第一子像素SPl以及與第2K條第一數據線連接的第一子像素SP1。因而，根據本發明實施方式的用于測試顯示面板的方法可在照明測試期間防止閃爍的發生，由此便于照明測試工藝的實施。
[0097]此外，根據本發明實施方式的用于測試顯示面板的方法能夠降低測試信號的頻率，因而能夠增加向第一子像素SPl施加正極性(+ )測試信號和負極性(-)測試信號的時間。因而，根據本發明實施方式的用于測試顯示面板的方法可在照明測試期間防止閃爍的發生，并同時增加了向第一子像素SPl充入像素電壓的時間，由此實現照明測試的工藝簡便性和精度。
[0098]之后，向第二數據線⑶I到GDm中的第(2K-1)條第二數據線提供第二測試信號。可通過經第一測試部3和第二測試部4向第(2K-1)條第二數據線提供第二測試信號進行此工藝。可在測試裝置200與第二測試焊盤32接觸的條件下，通過經第二測試焊盤32和第二連接線36向第(2K-1)條第二數據線提供第二測試信號，來進行向第(2K-1)條第二數據線提供第二測試信號的工藝。
[0099]然后，向第二數據線⑶I到GDm中的第2K條第二數據線提供第一測試信號。可通過經第一測試部3和第二測試部4向第2K條第二數據線提供第一測試信號進行此工藝。可在測試裝置200與第五測試焊盤42接觸的條件下，通過經第五測試焊盤42和第五連接線46向第2K條第二數據線提供第一測試信號，來進行向第2K條第二數據線提供第一測試信號的工藝。
[0100]可同時進行向第2K條第二數據線提供第一測試信號的工藝和向第(2K-1)條第二數據線提供第二測試信號的工藝。因而，根據本發明實施方式的用于測試顯示面板的方法可同時向第(2K-1)條第二數據線和第2K條第二數據線提供具有相反極性的測試信號。
[0101]因此，根據本發明實施方式的用于測試顯示面板的方法在照明測試期間可交替地照明與第(2K-1)條第二數據線連接的第二子像素SP2以及與第2K條第二數據線連接的第二子像素SP2。因而，根據本發明實施方式的用于測試顯示面板的方法可在照明測試期間防止閃爍的發生，由此便于照明測試工藝的實施。
[0102]此外，根據本發明實施方式的用于測試顯示面板的方法能夠降低測試信號的頻率，因而能夠增加向第二子像素SP2施加正極性(+ )測試信號和負極性(_)測試信號的時間。因而，根據本發明實施方式的用于測試顯示面板的方法可在照明測試期間防止閃爍的發生，并同時增加了向第二子像素SP2充入像素電壓的時間，由此實現照明測試的工藝簡便性和精度。
[0103]之后，向第三數據線BDl到BDm中的第(2K-1)條第三數據線提供第一測試信號。可通過經第一測試部3和第二測試部4向第(2K-1)條第三數據線提供第一測試信號進行此工藝。可在測試裝置200與第三測試焊盤33接觸的條件下，通過經第三測試焊盤33和第三連接線37向第(2K-1)條第三數據線提供第一測試信號，來進行向第(2K-1)條第三數據線提供第一測試信號的工藝。
[0104]然后，向第三數據線BDl到BDm中的第2K條第三數據線提供第二測試信號。可通過經第一測試部3和第二測試部4向第2K條第三數據線提供第二測試信號進行此工藝。可在測試裝置200與第六測試焊盤43接觸的條件下，通過經第六測試焊盤43和第六連接線47向第2K條第三數據線提供第二測試信號，來進行向第2K條第三數據線提供第二測試信號的工藝。
[0105]可同時進行向第2K條第三數據線提供第二測試信號的工藝和向第(2K-1)條第三數據線提供第一測試信號的工藝。因而，根據本發明實施方式的用于測試顯示面板的方法可同時向第(2K-1)條第三數據線和第2K條第三數據線提供具有相反極性的測試信號。
[0106]因此，根據本發明實施方式的用于測試顯示面板的方法在照明測試期間可交替地照明與第(2K-1)條第三數據線連接的第三子像素SP3以及與第2K條第三數據線連接的第三子像素SP3。因而，根據本發明實施方式的用于測試顯示面板的方法可在照明測試期間防止閃爍的發生，由此便于照明測試工藝的實施。
[0107]此外，根據本發明實施方式的用于測試顯示面板的方法能夠降低測試信號的頻率，因而能夠增加向第三子像素SP3施加正極性(+ )測試信號和負極性(_)測試信號的時間。因而，根據本發明實施方式的用于測試顯示面板的方法可在照明測試期間防止閃爍的發生，并同時增加了向第三子像素SP3充入像素電壓的時間，由此實現照明測試的工藝簡便性和精度。
[0108]可同時進行向第(2K-1)條第一數據線提供第一測試信號的工藝、向第(2K-1)條第二數據線提供第二測試信號的工藝、向第(2K-1)條第三數據線提供第一測試信號的工藝、向第2K條第一數據線提供第二測試信號的工藝、向第2K條第二數據線提供第一測試信號的工藝、以及向第2K條第三數據線提供第二測試信號的工藝。
[0109]因而，當實施根據本發明實施方式的用于測試顯示面板的方法時，沿數據線RDl到RDm、⑶I到GDm和BDl到BDm的排列方向如圖5中所示按照正極性、負極性、正極性、負極性、正極性和負極性的順序依次提供測試信號，然后如圖6中所示按照負極性、正極性、負極性、正極性、負極性和正極性的順序依次提供測試信號，由此可以以列反轉方式進行照明測試。結果，可在與顯示裝置的實際驅動環境相同的條件下進行根據本發明實施方式的用于測試顯示面板的方法，由此實現照明測試的更為卓越的精度和可靠性。
[0110]根據本發明的實施方式，在照明測試期間可防止閃爍的發生，并增加向像素充入像素電壓的時間，由此實現照明測試的工藝簡便性和精度。
[0111]本發明涵蓋對這里所述的每個例子和實施方式的各種修改。根據本發明，在如上所述的一個實施方式或例子中描述的一個或多個特點可等同地應用于如上所述的另一個實施方式或例子。上述一個或多個實施方式或例子的特點可組合到上述每個實施方式或例子中。本發明的一個或多個實施方式或例子的任何全部或部分組合也是本發明的一部分。
[0112]在不脫離本發明的精神或實質特性的情況下，可以以多種形式實施本發明，還應當理解，除非另有說明，上述實施方式并不限于前面說明書的任何細節，而是應當在所附權利要求書限定的精神和范圍內寬泛地解釋，因此所附權利要求書意在涵蓋落入權利要求書的邊界和范圍、或者這種邊界和范圍的等同物內的所有變化和修改。
【權利要求】
1.一種用于測試顯示面板的方法，所述顯示面板包括用于顯示第一顏色的多個第一子像素、用于顯示第二顏色的多個第二子像素以及用于顯示第三顏色的多個第三子像素，所述方法包括如下步驟: 向與所述第一子像素連接的多條第一數據線中的第(2K-1)條第一數據線提供第一測試信號，其中K是大于O的整數；以及 在向第(2K-1)條第一數據線提供所述第一測試信號時，向所述多條第一數據線中的第2K條第一數據線提供與所述第一測試信號具有相反極性的第二測試信號，以交替地照明與第(2K-1)條第一數據線連接的第一子像素和與第2K條第一數據線連接的第一子像素。
2.根據權利要求1所述的方法，其中通過向與顯示紅色的第一子像素連接的第(2K-1)條第一數據線提供所述第一測試信號，執行向第(2K-1)條第一數據線提供所述第一測試信號的步驟。
3.根據權利要求1所述的方法，還包括如下步驟: 在向第(2K-1)條第一數據線提供所述第一測試信號時，向與所述第二子像素連接的多條第二數據線中的第(2K-1)條第二數據線提供所述第二測試信號； 在向第(2K-1)條第一數據線提供所述第一測試信號時，向第2K條第二數據線提供所述第一測試信號，以交替地照明與第(2K-1)條第二數據線連接的第二子像素和與第2K條第二數據線連接 的第二子像素； 在向第(2K-1)條第一數據線提供所述第一測試信號時，向與所述第三子像素連接的多條第三數據線中的第(2K-1)條第三數據線提供所述第一測試信號；以及 在向第(2K-1)條第一數據線提供所述第一測試信號時，向第2K條第三數據線提供所述第二測試信號，以交替地照明與第(2K-1)條第三數據線連接的第三子像素和與第2K條第三數據線連接的第三子像素。
4.根據權利要求3所述的方法，其中向第(2K-1)條第一數據線提供所述第一測試信號的步驟包括:向與顯示紅色的第一子像素連接的第(2K-1)條第一數據線提供所述第一測試信號， 其中向第(2K-1)條第二數據線提供所述第二測試信號的步驟包括:向與顯示綠色的第二子像素連接的第(2K-1)條第二數據線提供所述第二測試信號，以及 其中向第(2K-1)條第三數據線提供所述第一測試信號的步驟包括:向與顯示藍色的第三子像素連接的第(2K-1)條第三數據線提供所述第一測試信號。
5.一種用于測試顯示面板的方法，所述方法包括如下步驟: 第一提供步驟，用于向在所述顯示面板中包含的多條數據線中的第(2K-1)條數據線提供正極性測試信號，并同時向第2K條數據線提供負極性測試信號，其中K是大于O的整數；以及 第二提供步驟，用于向第(2K-1)條數據線提供所述負極性測試信號，并同時向第2K條數據線提供所述正極性測試信號。
6.根據權利要求5所述的方法，還包括: 在改變所述測試信號的電壓之后，重復執行所述第一提供步驟和第二提供步驟。
7.—種顯不面板,包括: 顯示部，所述顯示部包括用于顯示多種顏色的多個子像素、以及與所述子像素連接的多條數據線； 第一測試部，所述第一測試部用于按照所述子像素的每種顏色向所述多條數據線中的第(2K-1)條數據線提供測試信號，其中K是大于O的整數；以及 第二測試部，所述第二測試部用于在所述第一測試部提供所述測試信號時，按照所述子像素的每種顏色向所述多條數據線中的第2K條數據線提供測試信號， 其中由所述第二測試部提供的測試信號的極性與由所述第一測試部提供的測試信號的極性相反。
8.根據權利要求7所述的顯示面板，其中所述第一測試部和所述第二測試部按照所述子像素的每種顏色交替地照明與第(2K-1)條數據線連接的子像素和與第2K條數據線連接的子像素。
9.根據權利要求7所述的顯示面板，其中所述第一測試部用于向與第一子像素連接的多條第一數據線中的第(2K-1)條第一數據線提供正極性測試信號，向與緊鄰所述第一子像素的第二子像素連接的多條第二數據線中的第(2K-1)條第二數據線提供負極性測試信號，并向與緊鄰所述第二子像素的第三子像素連接的多條第三數據線中的第(2K-1)條第三數據線提供所述正極性測試信號， 其中所述第二測試部還用于向第2K條第一數據線提供所述負極性測試信號，向第2K條第二數據線提供所述正極性測試信號，并向第2K條第三數據線提供所述負極性測試信號。
10.根據權利要求7所述的顯示面板，其中所述第一測試部還用于通過向與第一子像素連接的多條第一數據線中的第(2K-1)條第一數據線首先提供正極性測試信號并其次提供負極性測試信號，依次交替地提供所述正極性測試信號和所述負極性測試信號， 其中所述第二測試部還用于通過向第2K條第一數據線首先提供所述負極性測試信號并其次提供所述正極性測試信號，依次交替地提供所述負極性測試信號和所述正極性測試信號，以交替地照明與第(2K-1)條第一數據線連接的第一子像素和與第2K條第一數據線連接的第一子像素。
11.根據權利要求7所述的顯示面板，其中所述第一測試部和所述第二測試部還用于按照所述子像素的每種顏色同時向第(2K-1)條數據線和第2K條數據線提供具有相反極性的測試信號，從而以列反轉方式進行照明測試。
12.根據權利要求7所述的顯示面板，其中所述第一測試部包括: 第一測試焊盤，所述第一測試焊盤用于與測試裝置接觸以從所述測試裝置接收第一測試信號，其中相對于公共電壓依次提供正極性測試信號和負極性測試信號且所述正極性測試信號和所述負極性測試信號被交替應用為所述第一測試信號； 第二測試焊盤，所述第二測試焊盤用于與所述測試裝置接觸以從所述測試裝置接收第二測試信號，其中相對于公共電壓依次提供負極性測試信號和正極性測試信號且所述負極性測試信號和所述正極性測試信號被交替應用為所述第二測試信號； 第三測試焊盤，所述第 三測試焊盤用于與所述測試裝置接觸以從所述測試裝置接收所述第一測試信號； 第一連接線，所述第一連接線連接所述第一測試焊盤和與顯示第一顏色的第一子像素連接的多條第一數據線中的第(2K-1)條第一數據線；第二連接線，所述第二連接線連接所述第二測試焊盤和與顯示第二顏色的第二子像素連接的多條第二數據線中的第(2K-1)條第二數據線；以及 第三連接線，所述第三連接線連接所述第三測試焊盤和與顯示第三顏色的第三子像素連接的多條第三數據線中的第(2K-1)條第三數據線。
13.根據權利要求12所述的顯示面板，其中所述第二測試焊盤包括: 第四測試焊盤，所述第四測試焊盤用于與所述測試裝置接觸以從所述測試裝置接收所述第二測試信號； 第五測試焊盤，所述第五測試焊盤用于與所述測試裝置接觸以從所述測試裝置接收所述第一測試信號； 第六測試焊盤，所述第六測試焊盤用于與所述測試裝置接觸以從所述測試裝置接收所述第二測試信號； 第四連接線，所述第四連接線連接所述第四測試焊盤和第2K條第一數據線； 第五連接線，所述第五連接線連接所述第五測試焊盤和第2K條第二數據線；以及 第六連接線，所述第 六連接線連接所述第六測試焊盤和第2K條第三數據線。
【文檔編號】G09G3/00GK103839503SQ201310314610
【公開日】2014年6月4日 申請日期:2013年7月24日 優先權日:2012年11月23日
【發明者】樸宰徹, 樸濟炯 申請人:樂金顯示有限公司