專利名稱：Tft-lcd電學不良測試電路和測試方法
技術領域：
本發明涉及薄膜晶體管液晶顯示器(Thin Film Transistor-Liquid Crystal Display，簡稱TFT-IXD)領域，尤其是一種TFT-IXD電學不良測試電路和測試方法。
背景技術：
在平板顯示技術中，TFT-LCD具有體積小、功耗低、無輻射、制造成本相對較低等特點，在當前的平板顯示器市場占據了主導地位。隨著液晶顯示器(Liquid Crystal Display，簡稱LCD)生產的不斷擴大，產品性能也不斷的提高，其中，產品的不良檢測在整個生產過程中有著舉足輕重的作用。在TFT-IXD的檢測過程中，利用DC/DC (直流轉直流電源)測試方法能有效的區分出電學和光學不良，這樣能大大縮小不良在前段工程的定位范圍，為快速尋找不良機理和對策提供很大幫助。然而已知了一個顯示屏是由電學不良造成的，如何區分出其是電容性的還是TFT 性相關的，目前量產測試中尚無很好的辦法。目前成盒后的檢測方法，跟終端的檢測方法和機理一樣，雖能很好的檢測出液晶顯示器的各種光學和電學不良，但在已知了是由電學不良造成的前提下，尚不能很好的區分出其是電容性的還是TFT性相關的，尤其是一些明暗不均痕跡(Mura)類不良，在大規模發生時，不能及時區分出來，這樣就造成了不良定位緩慢，從而導致損失較大。
發明內容
本發明所要解決的技術問題在于提供一種TFT-LCD電學不良的測試電路和測試方法，能夠有效的區分出電容性和TFT性不良。為解決上述技術問題，本發明TFT-LCD電學不良的測試電路和測試方法采用如下技術方案一種TFT-IXD電學不良的測試電路，包括測試裝置，與對應同一灰階的第一參考電壓和第二參考電壓的輸入端相連接，所述測試裝置控制所述第一參考電壓和第二參考電壓的輸出端向數據線輸出恒定電壓。所述測試裝置包括受第一控制信號控制的第一開關，所述第一開關連接在所述第一參考電壓或第二參考電壓的輸入端；受第二控制信號控制的第二開關，所述第二開關的兩端分別連接在所述第一參考電壓和第二參考電壓的輸入端之間。在測試時，所述第一控制信號控制所述第一開關斷開，從而將所述第一參考電壓或第二參考電壓的輸入端的電路斷開；所述第二控制信號控制所述第二開關閉合，從而將所述第一參考電壓和第二參考電壓的輸入端之間的電路連通。所述測試裝置包括受選擇控制信號控制的選擇開關，所述選擇開關的固定連接端與所述第一參考電壓或第二參考電壓的輸入端相連接，所述選擇開關的選擇連接端選擇連通第一參考電壓或第二參考電壓的輸入端與選擇開關的固定連接端之間的電路，或選擇連通所述第一參考電壓和第二參考電壓的輸入端之間的電路。在測試時，所述選擇開關的選擇連接端連通所述第一參考電壓和第二參考電壓的輸入端之間的電路。一種TFT-IXD電學不良的測試方法，包括每一幀畫面，控制對應同一灰階的第一參考電壓和第二參考電壓的輸出端都向數據線輸出恒定電壓。在所述控制對應同一灰階的第一參考電壓和第二參考電壓的輸出端都向數據線輸出恒定電壓之后包括通過調節公共電極電壓Vcom調整灰度，得到不同灰度等級的畫面。所述灰度等級的范圍為L40 L80或LlOO L150。所述每一幀畫面，控制對應同一灰階的第一參考電壓和第二參考電壓的輸出端都向數據線輸出恒定電壓包括當前幀，向數據線輸出電壓的數值等于對應同一灰階的第一參考電壓或第二參考電壓的電壓；下一幀，向數據線輸出的電壓與前一幀向數據線輸出的電壓相同。在本實施例的技術方案中，通過控制對應同一灰階的兩個參考電壓向數據線輸出同一恒定電壓，從而液晶極性不反轉，實現直流檢測，直流測試可以一直對TFT實施充電， 不存在放電過程，可消除TFT性不良的影響，并且由于掃描信號的存在，對電容性不良不能消除，因此，可以有效的區分出電容性和TFT性不良。
為了更清楚地說明本發明實施例或現有技術中的技術方案，下面將對實施例描述中所需要使用的附圖作簡單地介紹，顯而易見地，下面描述中的附圖僅僅是本發明的一些實施例，對于本領域普通技術人員來講，在不付出創造性勞動的前提下，還可以根據這些附圖獲得其他的附圖。圖1為現有技術PCB參考電壓的電路示意圖；圖2為本發明實施例測試電路的結構示意圖之一；圖3為本發明實施例測試電路的結構示意圖之二 ；圖4為本發明實施例測試電路的結構示意圖之三；圖5為本發明實施例測試方法的流程圖之一；圖6為本發明實施例測試方法的流程圖之二 ；圖7為本發明實施例測試方法中步驟101的流程圖；附圖標記說明1-測試裝置； 11-第一開關； 12-第二開關；13-選擇開關。
具體實施例方式下面將結合本發明實施例中的附圖，對本發明實施例中的技術方案進行清楚、完整地描述，顯然，所描述的實施例是本發明一部分實施例，而不是全部的實施例。基于本發
4明中的實施例，本領域普通技術人員在沒有做出創造性勞動前提下所獲得的所有其他實施例，都屬于本發明保護的范圍。本發明實施例提供一種TFT-LCD電學不良的測試電路和測試方法，能夠有效的區分出電容性和TFT性不良。電容性不良是指由于電容(陣列基板的結構中會形成多個寄生電容)的不合格引起的不良，TFT性不良是指TFT的電特性不合格引起的不良。二者都有可能造成明暗不均痕跡(Mura)類不良。TFT-IXD顯示圖像的基本原理，是利用夾雜在兩電極板間的液晶分子，在不同的電壓下，旋轉角度大小不一樣，光透過量也不一樣，從而實現每個獨立像素控制不同灰階，利用數據線提供的不同數據信號，精確的控制每個像素的上下極板電壓，實現我們需要的畫面圖像。為防止液晶在單一方向的電場下產生老化現象，避免直流阻絕效應和避免直流殘留等，一般會使信號極性反轉，例如，極性反轉的實現可以是通過芯片和十四個參考電壓 (GAM1 GAM14)實現的，十四個參考電壓控制著顯示器的256個灰階，如圖1所示，以通過 GAMl和GAM14處的參考電壓對應灰階L0，數據線分別輸出IOV和OV電壓，公共電極電壓 (即Vcom)為5V為例，此時液晶兩端電壓為5V和-5V，即通過GAMl和GAM14實現了 LO灰階的極性反轉，其他灰階下的極性反轉原理也一樣。例如，灰階L64，L127也對應著相應的參考電壓，同樣也可以通過參考電壓值的不同實現極性反轉。本發明實施例提供一種TFT-LCD電學不良的測試電路，如圖2所示，該測試電路包括測試裝置1，與對應同一灰階的第一參考電壓和第二參考電壓的輸入端相連接，所述測試裝置1控制所述第一參考電壓和第二參考電壓的輸出端向數據線輸出恒定電壓。其中，測試裝置1可以設置在任意對應同一灰階的兩個參考電壓之間，例如，如圖 2所示，第一參考電壓可以為參考電壓GAM1，第二參考電壓可以為參考電壓十四GAM14，則測試裝置1設置在GAMl和GAM14之間。測試裝置也可以設置在另外的對應同一灰階的兩個參考電壓之間。在測試時，測試裝置1控制GAMl和GAM14共用一個電壓，具體地，當選擇GAMl作為向數據線輸出電壓的時刻，測試裝置1控制關閉GAMl的輸入，并將GAMl^tSGAMl向數據線的輸出；當選擇GAM14作為向數據線輸出電壓的時刻，依然由GAM14向數據線輸出，測試裝置1在整個畫面顯示過程中都控制保持向數據線輸出與GAM14數值相等的電壓，因此， 極性不反轉，此時相當于直流輸出，實現恒定電壓輸出的直流檢測。在本實施例的技術方案中，通過測試裝置控制對應同一灰階的兩個參考電壓向數據線輸出同一恒定電壓，從而液晶極性不反轉，實現直流檢測，因直流測試可以一直對TFT 實施充電，不存在放電過程，故可消除TFT性不良的影響，但由于掃描信號的存在，對電容性不良不能消除，故可以有效的區分出電容性和TFT性不良。實際測試過程中，由于LO畫面為黑畫面，很多Mura類不良在這個灰階下很難被發現，故在CT設備上測試過程中可通過調節Vcom信號大小達到調整灰階的效果，例如，在灰度等級的范圍為L40 L80或LlOO L150時可以更好地檢測出Mura類不良。在任意一個設定的灰階下，在CT設備上測試過程中，可采用調節Vcom的方法來任意調節灰度，以達到我們想要的灰度畫面，便于我們更好地檢測出不良。
在極性不反轉，實現直流檢測時，通過觀察在不同灰階下，所檢測屏不良的變化情況，判斷為何種不良。如前所述，此時若不良消失，說明該電學不良為TFT性不良，若不良不消失，則為電容性不良。進一步地，如圖3所示，所述測試裝置可以包括受第一控制信號控制的第一開關 11，所述第一開關11連接在所述第一參考電壓或第二參考電壓的輸入端；受第二控制信號控制的第二開關12，所述第二開關12的兩端分別連接在所述第一參考電壓和第二參考電壓的輸入端之間。當第一開關11閉合而第二開關12斷開時，此時數據信號實現極性反轉，即正常顯
7J\ ο測試屏出現不良，需要區分TFT性和電容性不良時，作業人員或者機器根據預設程序自動通過設備供給第一控制信號和第二控制信號，第一控制信號控制所述第一開關11 斷開，將所述第一參考電壓或第二參考電壓的輸入端的電路斷開；所述第二控制信號控制所述第二開關12閉合，從而將所述第一參考電壓和第二參考電壓的輸入端之間的電路連通，從而實現在每一幀圖像都向數據線輸出與第一參考電壓或第二參考電壓相等的恒定電壓。即在測試時，由于第一開關11斷開而第二開關12閉合，相當于GAMl和GAM14共用一個電壓，即共用GAM14的電壓。具體地，當選擇GAMl作為向數據線輸出電壓的時亥lj，GAM14 作為GAMl向數據線的輸出；當選擇GAM14作為向數據線輸出電壓的時亥lj，依然由GAM14向數據線輸出，從而在整個畫面顯示過程中都控制保持向數據線輸出與GAM14數值相等的電壓，因此，極性不反轉，此時相當于直流輸出，實現恒定電壓輸出的直流檢測，因直流測試可以一直對TFT實施充電，不存在放電過程，故可消除TFT性不良的影響，但由于掃描信號的存在，對電容性不良不能消除，故可以有效的區分出電容性和TFT性不良。在本實施例的技術方案中，通過在對應同一灰階的兩個參考電壓之間設置信號控制開關，從而向數據線輸出恒定電壓，使液晶極性不反轉，實現直流檢測，直流測試可以一直對TFT實施充電，不存在放電過程，可消除TFT性不良的影響，但由于掃描信號的存在，對電容性不良不能消除，因此可以有效的區分出電容性和TFT性不良。進一步地，如圖4所示，所述測試裝置還可以包括受選擇控制信號控制的選擇開關13，所述選擇開關13的固定連接端與所述第一參考電壓或第二參考電壓的輸入端相連接，所述選擇開關13的選擇連接端選擇連通第一參考電壓或第二參考電壓的輸入端與選擇開關的固定連接端之間的電路，或選擇連通所述第一參考電壓和第二參考電壓的輸入端之間的電路。如圖4所示，當選擇開關13的選擇連接端將第一參考電壓或第二參考電壓的輸入端與選擇開關的固定連接端之間的電路連通，此時數據信號實現極性反轉，即正常顯示。測試屏出現不良，需要區分TFT性和電容性不良時，作業人員或者機器根據預設程序自動通過設備供給選擇控制信號，控制選擇開關的選擇連接端連通第一參考電壓和第二參考電壓的輸入端之間的電路。此時，連接有所述選擇開關的固定連接端的第一參考電壓或第二參考電壓的輸入端的電路斷開，從而實現在每一幀圖像都向數據線輸出與第一參考電壓或第二參考電壓相等的恒定電壓。具體地，如圖4所示，由于選擇開關13選擇連通了 GAMl和GAM14之間的電路，相當于GAMl和GAM14共用一個電壓，即共用GAM14的電壓，當選擇GAMl作為向數據線輸出電壓的時刻，GAMl^tSGAMl向數據線的輸出；當選擇GAM14作為向數據線輸出電壓的時亥lj，依然由GAM14向數據線輸出，從而在整個畫面顯示過程中都控制保持向數據線輸出與GAM14 數值相等的電壓，因此，極性不反轉，此時相當于直流輸出，實現恒定電壓輸出的直流檢測， 因直流測試可以一直對TFT實施充電，不存在放電過程，故可消除TFT性不良的影響，但由于掃描信號的存在，對電容性不良不能消除，故可以有效的區分出電容性和TFT性不良。在本實施例的技術方案中，通過在對應同一灰階的兩個參考電壓之間設置選擇開關，將兩個參考電壓相連通，并斷開其中一個參考電壓的輸入，從而向數據線輸出等于另一個參考電壓的恒定電壓，使液晶極性不反轉，實現直流檢測，直流測試可以一直對TFT實施充電，不存在放電過程，可消除TFT性不良的影響，但由于掃描信號的存在，對電容性不良不能消除，因此可以有效的區分出電容性和TFT性不良。本發明實施例提供一種采用上述測試電路的測試方法，如圖5所示，該方法包括步驟101、每一幀畫面，控制對應同一灰階的第一參考電壓和第二參考電壓的輸出端都向數據線輸出恒定電壓。如圖2所示，以GAMl和GAM14對應同一個灰階LO為例，在測試時，測試裝置1控制 GAMl和GAM14共用一個電壓，具體地，當選擇GAMl作為向數據線輸出電壓的時刻，測試裝置 1控制關閉GAMl的輸入，并將GAMlWtSGAMl向數據線的輸出；當選擇GAM14作為向數據線輸出電壓的時刻，依然由GAM14向數據線輸出，測試裝置1在整個畫面顯示過程中都控制保持向數據線輸出與GAM14數值相等的電壓，因此，極性不反轉，此時相當于直流輸出，實現恒定電壓輸出的直流檢測，因直流測試可以一直對TFT實施充電，不存在放電過程，故可消除TFT性不良的影響，但由于掃描信號的存在，對電容性不良不能消除，故可以有效的區分出電容性和TFT性不良。進一步地，在步驟101之后，如圖6所示，還包括步驟102、通過調節Vcom調整灰度，得到不同灰度等級的畫面。實際測試過程中，由于LO畫面為黑畫面，很多Mura類不良在這個灰階下很難被發現，故在CT設備上的測試過程中可通過調節Vcom信號大小達到調整灰階的效果，例如，在灰度等級的范圍為L40 L80或LlOO L150時，可以更好得檢測出Mura類不良。在任意一個設定的灰階下，在CT設備上測試過程中，可采用調節Vcom的方法來任意調節灰度，以達到我們想要的灰度畫面，便于我們更好地檢測出不良。通過觀察在不同灰階下的灰度畫面，檢測屏不良的變化情況，判斷為何種不良，若不良消失，說明該電學不良為TFT性不良，若不良不消失，則為電容性不良。進一步地，如圖7所示，步驟101包括步驟1011、當前幀，向數據線輸出電壓的數值等于對應同一灰階的第一參考電壓或第二參考電壓的電壓；如圖3所示，測試屏出現不良，需要區分TFT性和電容性不良時，作業人員通過設備供給第一控制信號和第二控制信號，第一控制信號控制所述第一開關11斷開，所述第二控制信號控制所述第二開關12閉合，當選擇GAMl作為向數據線輸出電壓的時刻，GAM14作為GAMl向數據線的輸出。步驟1012、下一幀，向數據線輸出的電壓與前一幀向數據線輸出的電壓相同。
當選擇GAM14作為向數據線輸出電壓的時亥lj，依然由GAM14向數據線輸出，從而在整個畫面顯示過程中都控制保持向數據線輸出與GAM14數值相等的電壓，因此，極性不反轉，此時相當于直流輸出。在本實施例的技術方案中，通過對應同一灰階的實現極性反轉的兩個參考電壓向數據線輸出同一數值的恒定電壓，使液晶極性不反轉，實現直流檢測，直流測試可以一直對 TFT實施充電，不存在放電過程，可消除TFT性不良的影響，但由于掃描信號的存在，對電容性不良不能消除，因此可以有效的區分出電容性和TFT性不良。通過以上的實施方式的描述，所屬領域的技術人員可以清楚地了解到本發明可借助軟件加必需的通用硬件的方式來實現，當然也可以通過硬件，但很多情況下前者是更佳的實施方式。基于這樣的理解，本發明的技術方案本質上或者說對現有技術做出貢獻的部分可以以軟件產品的形式體現出來，該計算機軟件產品存儲在可讀取的存儲介質中，如計算機的軟盤，硬盤或光盤等，包括若干指令用以使得一臺計算機設備(可以是個人計算機， 服務器，或者網絡設備等)執行本發明各個實施例所述的方法。以上所述，僅為本發明的具體實施方式
，但本發明的保護范圍并不局限于此，任何熟悉本技術領域的技術人員在本發明揭露的技術范圍內，可輕易想到變化或替換，都應涵蓋在本發明的保護范圍之內。因此，本發明的保護范圍應以所述權利要求的保護范圍為準。
權利要求
1.一種TFT-LCD電學不良的測試電路，其特征在于，包括測試裝置，與對應同一灰階的第一參考電壓和第二參考電壓的輸入端相連接，所述測試裝置控制所述第一參考電壓和第二參考電壓的輸出端向數據線輸出恒定電壓。
2.根據權利要求1所述的測試電路，其特征在于，所述測試裝置包括受第一控制信號控制的第一開關，所述第一開關連接在所述第一參考電壓或第二參考電壓的輸入端；受第二控制信號控制的第二開關，所述第二開關的兩端分別連接在所述第一參考電壓和第二參考電壓的輸入端之間。
3.根據權利要求2所述的測試電路，其特征在于，在測試時，所述第一控制信號控制所述第一開關斷開，從而將所述第一參考電壓或第二參考電壓的輸入端的電路斷開；所述第二控制信號控制所述第二開關閉合，從而將所述第一參考電壓和第二參考電壓的輸入端之間的電路連通。
4.根據權利要求1所述的測試電路，其特征在于，所述測試裝置包括受選擇控制信號控制的選擇開關，所述選擇開關的固定連接端與所述第一參考電壓或第二參考電壓的輸入端相連接，所述選擇開關的選擇連接端選擇連通第一參考電壓或第二參考電壓的輸入端與選擇開關的固定連接端之間的電路，或選擇連通所述第一參考電壓和第二參考電壓的輸入端之間的電路。
5.根據權利要求4所述的測試電路，其特征在于，在測試時，所述選擇開關的選擇連接端連通所述第一參考電壓和第二參考電壓的輸入端之間的電路。
6.一種TFT-IXD電學不良的測試方法，其特征在于，包括每一幀畫面，控制對應同一灰階的第一參考電壓和第二參考電壓的輸出端都向數據線輸出恒定電壓。
7.根據權利要求6所述的測試方法，其特征在于，在所述控制對應同一灰階的第一參考電壓和第二參考電壓的輸出端都向數據線輸出恒定電壓之后包括通過調節公共電極電壓Vcom調整灰度，得到不同灰度等級的畫面。
8.根據權利要求7所述的測試方法，其特征在于，所述灰度等級的范圍為L40 L80 或 LlOO L150。
9.根據權利要求6-8任一項所述的測試方法，其特征在于，所述每一幀畫面，控制對應同一灰階的第一參考電壓和第二參考電壓的輸出端都向數據線輸出恒定電壓包括當前幀，向數據線輸出電壓的數值等于對應同一灰階的第一參考電壓或第二參考電壓的電壓；下一幀，向數據線輸出的電壓與前一幀向數據線輸出的電壓相同。
全文摘要
本發明實施例公開了一種TFT-LCD電學不良的測試電路和測試方法，涉及液晶顯示器領域，能夠有效的區分出電容性和TFT性不良。TFT-LCD電學不良的測試電路包括測試裝置，與對應同一灰階的第一參考電壓和第二參考電壓的輸入端相連接，所述測試裝置控制所述第一參考電壓和第二參考電壓的輸出端向數據線輸出恒定電壓。本發明應用于液晶顯示器。
文檔編號G09G3/00GK102467863SQ20101054918
公開日2012年5月23日 申請日期2010年11月17日 優先權日2010年11月17日
發明者董云 申請人:北京京東方光電科技有限公司