專利名稱：一種痕跡比對測量裝置的制作方法
技術領域：
本實用新型涉及了公安偵破工具，具體的說是一種痕跡比對測量裝置，適用于對指紋、撬壓等現場作案痕跡的判斷、比對測量，也可用于需要判斷印鑒、字跡、鈔票真偽的場合。
現行公安人員在偵破取證工作中，對作案現場采集到的指紋、撬壓等痕跡的分析處理時，往往是采用比對投影儀或比對顯微鏡將現場指紋痕跡與嫌疑人指紋痕跡樣片進行形象比對、找出穩定特征，從而作出認定或否定結論，顯然，這種簡單的形象比對法帶有很大的人為因素，影響了痕跡判斷的準確性和科學性。
本實用新型的目的在于推出一種結構簡單、功能齊全、使用方便的痕跡比對量裝置，這種測量裝置在對現場痕跡進行形象比對的同時，能夠準確的測量出痕跡特征的大小和相互位置距離，變痕跡的形象化檢驗為數字化檢驗，增強痕檢工作的科學性。
本實用新型的任務是由設在載物臺上方的一個上面帶有可分別做縱橫向移動的座標測量線的測量盤及設在盤上的兩個讀數測量尺的配合工作來完成的。整個測量裝置為框架支撐式組合結構，在一個穩定的基座上設有前后四根直撐立柱和一個中心立柱，支撐立柱上固定有一測量盤，測量盤的正下方有兩個載物臺，載物臺是裝在基座的兩個前立柱上，可繞立柱相對轉動和沿立柱上下移動，載物臺供放置鑒別樣片用。測量盤實力一長方形的金屬(或塑料)框架，框架的兩個相鄰邊上裝有讀數測量尺，框架內裝有上下兩塊可相對作縱橫向移動的玻璃板，玻璃板上刻有豎直和水平的測量線；讀數測量尺為一類似讀數千分尺結構的，具有螺紋進給機構的軸套式測量尺，在測量尺的固定套上標刻有刻度值，測量尺的心軸通過其端部的一個換向軸套分別與測量框架內的上下玻璃板相連接；轉動測量盤上的兩個測量尺，可推動上下玻璃板分別作縱向或橫向移動。玻璃板上的測量座標線是這樣安排的，在作橫向移動的玻璃板上標刻有兩條平行的豎直測量線，在作縱向移動的玻璃板上標刻有一條水平測量線，這樣在測量盤上形成兩組成十字座標的測量線，分別落在兩個載物臺的正上方，用以對載物臺的痕跡樣片進行比對測量。在基座的中心支柱上分別裝有左右兩個放大鏡，兩個聚光燈和一個照像機架，放大鏡、聚光燈和照像機架的方位均可在中心柱上調整，使得放大鏡位于測量盤的兩組十字測量線的正上方，聚光燈的光束落在兩個載物臺的中央。測量時，將現場采集到的痕跡及嫌疑人痕跡的樣片分別放置在左右兩個載物臺上，在放大鏡的觀察下調節載物合和測量尺，使測量盤上的兩組十字測量線落在兩個被測痕跡圖案的相同方位上，在比對兩個痕跡特征的同時完成數值測量，轉動縱向和橫向測量尺，逐個測量兩個痕跡上穩定特征的大小及間距，實現了痕跡特征的數字化檢驗和鑒別。
本實用新型的測量讀數功能還可以采用數字測量顯示裝置來完成，即在測量盤上按裝兩個位移傳感器，一個敏感測量盤玻璃板的橫向位移量，一個敏感測量盤玻璃板的縱向位移量，將這兩個位移量通過數字變換電路轉換成電量(電信號)經放大處理后送入設在中心柱的一個數碼管數字顯示器中，即可很直觀方便的觀察記錄到顯示痕跡特征的各個數值。
本實用新型的最大優點在于鑒定痕跡時，在對痕跡特征進行形象比對定性判斷的同時，可實現痕跡特征的數值化定量測量，增強了痕跡鑒別的準確性的科學性。
本實用新型的具體結構由以下的實施例給出附圖
為本實用新型的結構示意圖。
如圖，(1)為基座，(2)為前立柱，(3)為固定升降機構，(4)為調整機構，(5)為載物臺，(6)為反射鏡，(7)為后立柱，(8)為測量盤，(9)為防護罩，(10)為放大鏡，(11)為聚光燈，(12)為中心立柱，(13)為照像機架，(14)為豎直測量線，(15)為水平測量線，(16)為上玻璃板，(17)、(20)為換向軸套，(18)、(21)為測量尺，(19)為下玻璃板。
載物臺(5)有左右兩個，裝在基座的立柱(2)上，通過升降機構(3)和調整機構(4)可將載物臺調到需要的位置上。測量盤(8)裝在四根立柱(2)、(7)上，盤上裝有上下兩塊可作相對移動的玻璃板(16)、(19)，上玻璃板(16)通過一換向軸套(17)與測量尺(18)連接固定在一起，可作橫向移動，下玻璃板(19)通過換向軸套(20)與測量尺(21)連接固定在一起，可作縱向移動。在上玻璃板(16)上標刻有兩條平行的豎直測量線(14)，在下玻璃板(19)上標刻有一條水平的測量線(15)，測量線(14)(15)的初始位置應正對在載物臺的中心處。使用時將現場痕跡與嫌疑人痕跡的樣片分放在左右兩個載物臺上，調節載物臺使樣片找正和貼近測量盤的玻璃板，調節測量尺，使測量線落在兩個痕跡樣片圖形的相同位置上，比對好痕跡圖形的特征，即可進行比對測量，轉動測量尺(18)，兩根平行的豎直測量線(14)在兩個痕跡圖形上對選定的特征做同步橫向掃描移動；轉動測量尺(21)，水平測量線(15)在兩個痕跡圖形上對選定的特征做同步縱向掃描移動，移動距離在測量尺(18)、(21)上直接由刻度值顯示給出。
根據本實施例制作的測量裝置可以很方便、直觀、準確的對痕跡特征作出比對判斷，提高了痕檢工作的科學性。
權利要求1.一種由基座、載物臺、放大鏡、聚光燈組成的痕跡比對測量裝置，放大鏡和聚光燈裝在基座后部的一個中心立柱上，左右兩個載物臺分別裝在基座前方的兩個支撐立柱上，位于放大鏡的正下方，其特征在于該測量裝置還包含有一個測量盤(8)和固定在測量盤上的兩個測量尺(18)、(21)，測量盤(8)為一長方形的框架，由設在基座上的立柱(2)、(7)支撐固定在載物臺(5)的正上方，框架內裝有上下兩塊可相對作縱向、橫向移動的透明玻璃板(16)、(19)，一塊玻璃板上刻有兩條平行的豎直測量線(14)，另一塊玻璃板上刻有一條水平的測量線(15)；測量尺(18)、(21)類似一讀數千分尺，為一具有螺紋進給機構的軸套式測量尺，裝在測量盤框架的兩個相鄰的邊上，并通過裝在其端部的兩個換向軸套(17)、(20)，分別與框架內的上下玻璃板(16)、(19)相連接，轉動調節測量尺(18)、(21)可推動測量盤玻璃板上的豎直測量線(14)和水平測量線(15)作橫向和縱向位移。
2.如權利要求1所述的測量裝置，其特征在于裝在框架側邊上的測量尺(18)與框架內作橫向移動的玻璃板(16)相連接在一起，裝在框架底邊上的測量尺(21)與框架內作縱向移動的玻璃板(19)相連接在一起。
3.如權利要求1所述的測量裝置，其特征在于在作橫向移動的玻璃板上刻有的是兩條平行的豎直測量線(14)，在作縱向移動的玻璃板上刻有的是一條水平的測量線(15)。
4.如權利要求1所述的測量裝置，其特征在于在每個載物臺上裝有一塊反射鏡片(6)。
5.如權利要求1所述的測量裝置，其特征在于在中心立柱上還裝有一個照像機架(13)。
專利摘要本實用新型提供了一種痕跡比對測量裝置，特別適用于公安部門破案取證使用。該裝置由載物臺、測量盤、測量尺、放大鏡及聚光燈等部件組成。測量盤裝在兩個載物臺的正上方，在測量盤上裝有上下兩塊可相對作縱向和橫向移動的玻璃板，玻璃板上分別刻有豎直和水平測量線，兩把測量尺為讀數千分尺結構，裝在測量盤的兩個相鄰邊框上，轉動測量尺，測量線可在載物臺的痕跡圖形上作縱向和橫向移動，從而在形象比對的同時可實現對痕跡特征的數字測量，提高了痕檢工作的準確性和科學性。
文檔編號A61B5/117GK2100866SQ91219288
公開日1992年4月8日 申請日期1991年8月3日 優先權日1991年8月3日
發明者李克勤, 底杰, 張雅娟 申請人:河北省張家口市刑事科學技術研究所