專利名稱：低場(chǎng)磁共振顱腦常規(guī)序列快速掃描方法
技術(shù)領(lǐng)域：
在本發(fā)明涉及ー種低場(chǎng)磁共振(MRI)顱腦常規(guī)序列(自旋回波序列SE、快速自旋回波序列FSE)掃描方法。
背景技術(shù)：
現(xiàn)有的低場(chǎng)磁共振(< O. 5T)在掃描方法的掃描視野(field of view, FOV)多較小，盧頁(yè)腦24cm,激勵(lì)次數(shù)(number of excitation ；NEX)多采用3 4次,掃描時(shí)間長(zhǎng),姆個(gè)序列時(shí)間約為5 7分鐘。參考文獻(xiàn)沈陽(yáng)中基電子有限公司AG3500型O. 35T磁共振設(shè)備(MRI)使用說(shuō)明書。現(xiàn)有的技術(shù)的缺陷每個(gè)序列掃描時(shí)間明顯長(zhǎng)，多5 7分鐘，每個(gè)患者檢查I個(gè)·部位時(shí)間需25 30分鐘；病人運(yùn)動(dòng)偽影出現(xiàn)率高，尤其對(duì)于不能長(zhǎng)時(shí)間堅(jiān)持檢查者及重癥·患者掃描成功率低；病人等待檢查時(shí)間較長(zhǎng)，有時(shí)影響及時(shí)施治；醫(yī)院檢查流量低，技師及診斷醫(yī)生常需加班。常規(guī)視野掃描視野小，不能多顯示鄰近組織及可能存在的病變，信息量較小，性價(jià)比低，不利于提升MRI設(shè)備的臨床應(yīng)用價(jià)值。
發(fā)明內(nèi)容
為了克服現(xiàn)有的低場(chǎng)磁共振掃描方法的掃描時(shí)間長(zhǎng)、掃描視野小、信息量較小缺陷，本發(fā)明提供ー種低場(chǎng)磁共振頡腦常規(guī)序列快速掃描方法，該掃描方法掃描時(shí)間短、掃描視野大、信息量較多。本發(fā)明本研究提示在FOV、NEX及層厚之間存在最佳結(jié)合點(diǎn)，按照此結(jié)合點(diǎn)優(yōu)化組合可顯著縮短掃描時(shí)間，同時(shí)圖像質(zhì)量有提高，移動(dòng)等偽影減少。本研究_在引起國(guó)內(nèi)眾多低場(chǎng)磁共振廠家及使用者注意，對(duì)磁共振不同參數(shù)優(yōu)化配置的研究起到拋磚引玉的作用，從而更合理解決臨床及科研實(shí)際問(wèn)題。低場(chǎng)MRI快速掃描的意義掃描速度快，病人移動(dòng)偽影總體減少，掃描成功率高；減少病人等待檢查時(shí)間，為及時(shí)施治提供時(shí)間；增加檢查流量，為醫(yī)院多創(chuàng)造效益，為技師及診斷醫(yī)生減少加班時(shí)間。矢冠狀位大視野掃描的意義增加視野，可多顯示鄰近組織及可能存在的病變，信息量増加，更有利于診斷，也有助于多發(fā)現(xiàn)病變，有利于提升MRI設(shè)備的臨床應(yīng)用價(jià)值，對(duì)患者來(lái)說(shuō)，具有較高的性價(jià)比。本發(fā)明的技術(shù)方案是
S/FSE.序列 CTWI.· T2W》T R)￥icm)I MU Ce ) next《次)
Jiia轅fc為 335+ +8I
矢冠為3S4. .5I以上層厚視具體掃描方位與病變大小確定，軸位多采用厚層掃描(微細(xì)病變也采用薄層)另外，可根據(jù)具體掃描層數(shù)適當(dāng)改變重復(fù)時(shí)間(TR)及回波時(shí)間(TE)。所得圖像根據(jù)觀察不同部位或病變可適當(dāng)放大合適的倍數(shù)。本發(fā)明所采用線圈均為有一定空間的硬質(zhì)線圈，部分掃描序列設(shè)計(jì)中的視野已超過(guò)線圈長(zhǎng)度40-50%，可能是由于繼往國(guó)內(nèi)外實(shí)驗(yàn)室或技師多采用水模進(jìn)行序列研究及測(cè)試，水模長(zhǎng)度有一定距離限制，而人體具有連續(xù)性，因此基于大視野快速成像在人體實(shí)驗(yàn)更具有意義。本發(fā)明研究提示在FOV、NEX及層厚之間存在最佳結(jié)合點(diǎn)，按照此結(jié)合點(diǎn)優(yōu)化組合可顯著縮短掃描時(shí)間，同時(shí)圖像質(zhì)量有提高，移動(dòng)等偽影減少。本發(fā)明基于大視野(F0V為現(xiàn)行常規(guī)視野的140-150%左右)，在F0V、NEX及層厚之間存在最佳結(jié)合點(diǎn)，按照此結(jié)合點(diǎn)優(yōu)化組合可顯著縮短掃描時(shí)間，按照此結(jié)合點(diǎn)優(yōu)化組合 可顯著縮短掃描時(shí)間，同時(shí)圖像質(zhì)量有提高，移動(dòng)等偽影減少。本發(fā)明的優(yōu)點(diǎn)
每個(gè)序列掃描時(shí)間明顯縮小至原來(lái)的1/4，ー個(gè)工作日(7小吋)從原來(lái)的檢查15人次增加至30余人次；
由于掃描快，總體偽影明顯減少，掃描成功率高，序列重新掃描率從原來(lái)的2%下降至3%。以下；
由于采用大視野掃描，累及超過(guò)2萬(wàn)例圖像可顯示常規(guī)視野不能看到的病變(其中有必要采取進(jìn)一步治療的良惡性病變超過(guò)5000例)，因此性價(jià)比極高；
采用線圈均為有一定空間的硬質(zhì)線圈，部分掃描序列設(shè)計(jì)中的視野已超過(guò)線圈長(zhǎng)度40-50%，由于繼往國(guó)內(nèi)外實(shí)驗(yàn)室或技師多采用水模進(jìn)行序列研究及測(cè)試，水模長(zhǎng)度有一定距離限制，而人體具有連續(xù)性，因此基于大視野快速成像在人體實(shí)驗(yàn)更具有意義。
圖I是廠家軸位T2WI序列圖掃描參數(shù)及時(shí)間截圖。圖2是本發(fā)明軸位T2WI序列圖掃描參數(shù)及時(shí)間截圖。圖3是廠家的軸位T2WI根據(jù)原始參數(shù)掃描所得圖像。圖4是根據(jù)本發(fā)明的參數(shù)所得軸位T2WI序列掃描圖像。圖5是本發(fā)明的所用的頭顱線圈結(jié)構(gòu)示意圖。圖6是本發(fā)明所用的頭顱線圈廠家提供的矢狀位SETl圖像。圖7是根據(jù)本發(fā)明掃描所得的矢狀位FSE序列T2WI圖像。
具體實(shí)施例方式本發(fā)明將諸參數(shù)最佳組合采用大視野(F0V)、層厚(軸位一般層厚不變，精細(xì)病變層厚減薄，矢狀位多采用薄層4 5 cm)、小激勵(lì)次數(shù)(next由3 4改為I),本方法姆個(gè)序列只要I分多鐘。
權(quán)利要求
1.一種低場(chǎng)磁共振顱腦常規(guī)序列快速掃描方法，其特征在于
全文摘要
本發(fā)明公開了一種低場(chǎng)磁共振顱腦常規(guī)序列快速掃描方法，該方法為SE/FSE序列T1WI、T2WI顱腦，F(xiàn)OV軸位為33cm，層厚5～8cm，next1次；FOV矢冠狀位為35cm，層厚4～5cm，next1次。每個(gè)序列掃描時(shí)間明顯縮小至原來(lái)的1/4，一個(gè)工作日7小時(shí)從原來(lái)的檢查15人次增加至30余人次；由于掃描快，總體偽影明顯減少，掃描成功率高，序列重新掃描率從原來(lái)的2%下降至3‰以下；由于采用大視野掃描，累及超過(guò)2萬(wàn)例圖像可顯示常規(guī)視野不能看到的病變，因此性價(jià)比極高。用于低場(chǎng)磁共振MRI顱腦常規(guī)序列自旋回波序列SE、快速自旋回波序列FSE掃描。
文檔編號(hào)A61B5/055GK102670203SQ20121016286
公開日2012年9月19日 申請(qǐng)日期2012年5月24日 優(yōu)先權(quán)日2012年5月24日
發(fā)明者丁長(zhǎng)青, 張成彬 申請(qǐng)人:豐縣人民醫(yī)院