專利名稱：X射線檢查裝置和方法
技術領域：
本發明涉及一種X射線檢查裝置和相應的方法以及計算機程序。本發明特別涉及一種使用運行在超高χ射線通量條件下的單層或多層光子計數χ射線探測器的χ射線檢查裝置和相應的方法，例如，醫學X射線CT (計算機斷層攝影)、臨床前CT、或者用于材料檢查或安全應用的CT。
背景技術：
目前，在基于光子計數探測器的譜CT掃描器的實現中，要克服的一個主要障礙是，現有技術中的探測器系統的計數率限于大約5-10百萬計數每秒每像素。常規的CT系統被優化以獲得短的掃描時間，并因此以大約10億計數每秒每像素的非常高的光子通量率運行。因此，在可用的探測器的計數率和CT系統所需的計數率之間存在差異。這種計數率問題對于CT中光子計數探測器的應用而言是嚴重的負擔。CT中的計數率限制主要是針對對象(例如患者)外圍和對象外部的X射線(稱為外圍射線)。穿過對象的大多數射線被充分衰減，而不會使計數探測器過載(overload)。盡管對象外部的射線的測量對于成像任務而言并不重要，但在外圍區域中探測器讀數的過載會產生嚴重的圖像偽影，而不能為臨床成像所接受。已知的兩種原理都具有嚴重的缺陷尚未公布的歐洲專利申請No. 08171898. 3 (PH011734EP1)描述了一種X射線檢查裝置和相應的方法，根據該申請，在至少兩個不同的源電流之間調制X射線源的源電流，以獲得針對至少兩個不同的X射線通量的至少兩個探測數據集，其中，最低的X射線通量足夠低，以避免X射線探測器在直接X射線射束下發生過載。根據所述至少兩個探測數據集重建X射線圖像，其中，所述X射線圖像的像素的像素值是考慮到較高的X射線通量是否導致 X射線探測器在各個探測器元(cell)處的過載而重建的。然而，通過這種方式，減小了這兩種采集類型(低通量、高通量)的角采樣。
發明內容
本發明的目的是提供一種X射線檢查裝置和相應的方法以及計算機程序，通過本發明能夠解決這種問題，并且通過本發明通常能夠克服在基于光子計數的譜CT掃描器的構造中的高計數率問題。在本發明的第一方面中，提出了一種X射線檢查裝置，其包括-X射線源，其用于在圍繞成像區域旋轉的同時發射X射線輻射的X射線射束，-X射線探測器，其具有多個探測器元，用于探測由所述X射線源發射的并已通過所述成像區域的X射線輻射并且用于輸出探測信號，-源控制單元，其用于在探測時段期間對X射線通量進行調制，在探測時段的開始時以避免X射線探測器在直接X射線射束下飽和的X射線通量水平開始，并之后增加X射線通量，-探測控制單元，其用于評估所述探測信號，該探測控制單元包括
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i)飽和探測單元，其用于在探測時段期間探測在預定探測器元和/或探測器元組處的飽和，ii)探測停止單元，其用于在探測時段的剩余時間內停止在已飽和的探測器元或探測器元組處對X射線輻射的探測，以及iii)時間測量單元，其用于獲得指示探測時段的有效時間部分的時間信息，在該有效時間部分期間，已在未飽和的情況下探測了 X射線輻射，以及-信號處理裝置，其用于基于探測信號重建X射線圖像，其中，利用所述時間信息對在探測時段期間由于飽和而被停止在其位置處對X射線輻射的探測的探測器元和/或探測器元組的探測信號進行校正。在本發明的另一方面中，提出了一種相應的方法。在本發明的又一方面中，提出了一種相應的計算機程序，其包括用于令計算機控制X射線檢查裝置的程序代碼模塊，所述X射線檢查裝置包括用于在圍繞成像區域旋轉的同時發射X射線輻射的X射線射束的X射線源以及具有用于探測由所述X射線源發射的并已通過所述成像區域的X射線輻射的多個探測器元，所述計算機程序包括用以控制X射線檢查裝置的程序代碼模塊。在從屬權利要求中限定了本發明的優選實施例。應當理解，所主張保護的方法具有與所主張保護的裝置以及在從屬權利要求中所限定的相似和/或相同的優選實施例。本發明是基于這樣的思想，即在每個探測時段(也稱為采樣時段)內，對X射線通量執行快速并且優選定期的調制。所述X射線通量經具體地調制，使得以足夠低從而使X射線探測器在直接X射線射束下不飽和的X射線通量水平開始，并之后在所述探測時段的剩余時時段間增加X射線通量。在探測時段開始時的X射線通量水平因而確保了沒有探測器元以及沒有探測器通道一開始就是過載的。然而，隨著X射線通量的增加，一些探測器元， 特別是在X射線探測器的外圍處的探測器元將進入飽和。本發明還基于這樣的思想，即提供用于探測在一個或多個探測器元和/或探測器元組處(例如，在所述探測器不同外圍的探測器元組)的飽和，并停止對在這樣的已飽和的探測器元或探測器元組處的輻射的進一步探測的手段(means)。另外，測量那些探測器元或探測器元組的未飽和的有效時間。最后，基于所采集的信息，特別是由非飽和的探測器元測量的探測信號、而且還有由已飽和的探測器元測量的探測信號、以及所獲得的未飽和的有效測量的時間信息，來重建X射線圖像。然而，對于這種重建，利用那些探測器元的相應時間信息預先校正從已進入飽和的探測器元采集的探測信號。通過本發明能夠實現在探測時段期間不進入飽和的探測器元執行定期測量并發出“實時的”探測信號。根據同一探測時段期間的進一步測量僅停止在該探測時段期間進入飽和的探測器元，但之后對它們的測量結果進行校正。總體而言，與已知的裝置和方法相比，測量期間“丟失”較少的數據，從而得到提高的圖像質量，也具有較少的圖像偽影。根據優選實施例，源控制單元適于以這樣的方式對X射線通量進行調制，該方式使得X射線通量在探測時段期間隨著時間持續增加。例如，X射線源的X射線通量(和/ 或源電流)能夠根據鋸齒狀函數進行調制。然而，對X射線源的X射線通量(和/或源電流)的其他調制方案也是適用的。
在WO 2008/155715A2中描述了用于快速X射線通量調制的一個實施例，其也能夠用于本發明，并通過引用將其并入本文。本文所公開的方法和裝置使用在旋轉陽極或旋轉框架管中的ζ-偏轉，其中，電子射束從第一焦斑區域偏轉到形成于陽極上的第二焦斑區域。僅有在第一焦斑區域中生成的電磁射束對有用的電磁曝光射束有貢獻，其中，第二焦斑區域被設計成避免電磁射束發射到有用的電磁射束方向的方向上。在另一實施例中，X射線通量調制可以通過調制提供給X射線源的電流來實現。優選地，探測器是光子計數探測器，但敏感的集成探測器也會遭受過載，從而本發明對于這樣的探測器也有意義。根據另一實施例，探測控制單元包括針對多個個體(individual)探測器元和/或探測器元組，特別是針對在X射線探測器的外圍的個體探測器元和/或探測器元組的多個探測控制單元。更進一步地，優選所述探測控制單元包括針對每個探測器元的探測控制子單元。這些實施例有助于進一步提高所采集的探測信號以及所重建的X射線圖像的準確度。至少應當為可能進入飽和的探測器元提供分離的探測控制單元。然而，也可能所有的探測器元都具有其自己的探測控制單元。有利地，飽和探測單元包括電流測量單元，其用于測量在探測器元或探測器元組的輸出處的探測器電流，特別是平均探測器電流；以及比較器，其用于將探測器電流與指示飽和的參考電流進行比較。由于探測器電流取決于所測量的X射線通量，因此能夠使用簡單的比較器來核查例如個體探測器元的平均電流是否超過了與探測器元的飽和相關聯的限值(limit)。存在實施這種功能的其他可能。例如，可以核查數字計數脈沖的平均頻率，并且如果達到了頻率的最大限值，則給出飽和。或者，可以觀察計數的數值，并且如果達到了最大的、時間相關的計數數值，則給出飽和。優選地，探測停止單元適于記錄(registering)和/或評估來自已飽和的探測器元或探測器元組的探測信號。換言之，在探測到探測器元或探測器元組處的飽和的時刻，存儲截至這一時刻所測量的已飽和的探測器元或探測器元組的探測信號，以供進一步處理， 而在同一探測時段的剩余時間內，不再在那些探測器元處進行進一步測量，即不再存儲和/ 或評估那些探測器通道上的探測信號。這為停止在已飽和的探測器元處的測量提供了最簡單的措施。在光子計數探測器中，也存在停止對其他光子進行計數并確保前端電子器件進入飽和狀態的可能，這可能對下一探測時段帶來負面影響。此外，在實施例中，信號處理裝置適于基于已知的通量調制函數、所測量的探測信號部分和所獲得的針對這一探測信號的時間信息，通過估計探測信號的在探測時段中未探測X射線輻射的剩余時間內的缺失的探測信號部分，來校正在探測時段期間已停止在其位置處對X射線輻射的探測的探測器元和/或探測器元組的探測信號。通常有多種方式進行這種校正，并且所應用的方式取決于在探測時段期間調制通量的方式。
參考下文所描述的(一個或多個)實施例，本發明的這些方面和其他方面將顯而易見并得以闡述。在附圖中
圖1示出了根據本發明的X射線檢查裝置的實施例；圖2示出了探測控制裝置的實施例的框圖；圖3示出了信號處理裝置的實施例的框圖；圖4示出了飽和探測裝置的實施例的框圖；圖5示出了信號處理單元的實施例的框圖；以及圖6示出了 X射線通量調制函數的實施例的示意圖。
具體實施例方式圖1示出了根據本發明的X射線檢查裝置的第一實施例，特別是用于對患者的醫學應用和檢查的CT成像系統。圖1中所示的CT成像系統包括機架1，其能夠圍繞平行于Z 方向延伸的旋轉軸R旋轉。輻射源2，特別是用于發射寬能譜X射線的(常規的)多色X射線管，被安裝在機架1上。X射線管2配備有準直器裝置3，準直器裝置將X射線管2所產生的輻射形成為錐形輻射射束4。在圓柱形檢查區(成像區域)5的感興趣區域中，輻射貫穿諸如患者的對象(未示出)。在已貫穿檢查區5之后，X射線射束4入射到X射線探測器單元6上，在本實施例中，X射線探測器單元6是具有多個探測器元61的二維光子計數探測器，其被安裝在機架1上并將入射的X射線輻射轉換為探測信號。機架1由電機7以優選恒定但可調的角速度驅動。提供了另一電機8，用于平行于旋轉軸R或ζ軸的方向移動對象，例如被布置在檢查區5中的患者臺上的患者。這些電機7、8由控制裝置9控制，例如使得輻射源2和檢查區5相對于彼此沿著螺旋形軌跡移動。 然而，也可能對象或檢查區5不移動，而僅僅旋轉X射線源2。為了控制X射線源2，特別是為了調制由X射線源2提供的X射線通量，提供了源控制裝置10。該源控制裝置10確保由X射線源2發射的X射線輻射的X射線通量在探測時段期間被調制，使得在采集探測信號的每個探測時段(即，從X射線源的固定角位置處或者從小角度范圍采集單一探測信號的時間時段)中，在探測時段開始時的X射線通量水平足夠低，從而沒有探測器元61飽和。具體而言，X射線通量水平足夠低，使得遭受直接X射線射束、即在探測器6中X射線射束不通過對象的外圍位置處的探測元件，不會在探測時段的開始時因為所述低的X射線通量水平而飽和。此后，例如根據圖6中所示的線性函數增加X射線通量。所述檢查裝置還還包括探測控制裝置11，其用于評估由探測器6的探測器元61采集的探測信號。優選地，為每個探測器元61提供分離的探測控制單元。然而，還可能僅為選定的探測器元61提供分離的探測控制單元。此外，也可能組合探測器元組，并為這樣的組提供分離的探測控制單元，以為了飽和探測的目的而評估組合的探測信號。圖2中示出了探測控制裝置11的實施例。在圖示的范例中，為個體探測器元61a、 61b、……、61n，優選為在探測器6的外圍處的最可能進入飽和的探測器元，提供η個探測控制單元lla、llb、……、lln。因此，通過這樣的探測控制單元lla-lln提供了 η個探測通道17a、17b、……、17n。每個探測控制單元lla-lln具有其各自的飽和探測單元14a、 14b、……、1如，用于探測在探測時段期間在相應的探測器元61a-61n處的飽和。此外，每個探測控制單元lla-lln包括個體探測停止單元15a、15b、……、15η，用于在探測時段的剩余時間內停止在相應探測器元61a-61n處對X射線輻射的探測。
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換言之，如果在特定的探測器元處探測到飽和，所述探測通道的探測停止單元從那一時刻開始，直到該探測時段的結束，停止對所述探測通道中輻射的進一步探測，因為從那一時刻開始，已飽和的探測器元探測到的任何信號無論如何都不能反映在所述探測器元上的真實輻射入射。該停止具體是通過停止記錄和/或評估來自已飽和的探測器元的任何信號，即簡單地忽略所述信號來完成的，而僅記錄截至飽和的時刻由所述探測器元輸出的探測信號，以供進一步處理。每個探測控制單元Ila-Iln還包括時間測量單元16a、16b、……、16n，用于獲得時間信息，所述時間信息指示探測時段的有效時間部分，在該有效時間部分期間，在未飽和的情況下由其相應的探測器元61a-61n探測X射線輻射。換言之，所述時間是在相應的探測器元未飽和的期間測量的，其實質上包括了整個探測時段中探測器元有多長時間是飽和的
fn息ο然后將探測控制裝置11所測量的探測信號，以及如果適用，將任何時間信息，提供給信號處理裝置12，用于基于所述探測信號重建X射線圖像。與探測控制裝置11類似， 信號處理裝置12優選包括如圖中3所圖示的若干信號校正單元121a-121n，其中，信號校正單元121a-121n的數量通常與探測控制單元Ila-Iln的數量相對應。其中，已進入飽和的探測器元的探測信號不像從未飽和的探測器元輸出的探測信號那樣被直接處理，而是基于所采集的屬于所述探測信號的時間信息預先進行校正。這種校正將在下文更為詳細地進行說明。然后將來自非飽和探測器元(未校正)和來自飽和探測器元(已校正)兩者的探測信號提供給信號處理單元122，例如用于根據所述探測信號重建χ射線圖像。然后由信號處理裝置12將重建的圖像然后發送至例如顯示器13，以顯示所獲得的圖像。為了對檢查進行全面控制，優選不僅電機7、8，而且還有源控制裝置10、探測控制裝置11、信號處理裝置12、以及探測器6自身均受控制裝置9控制。圖4中示出了飽和探測單元14a的實施例。相應的，飽和探測單元14a包括電流測量單元14al，用于測量在相關聯的探測器元61a的輸出處的探測器電流，特別是平均探測器電流。此外，飽和探測單元包括比較器14a2，用于將所測量的探測器電流與指示飽和的參考電流進行比較。對于各個探測器，所述參考電流是已知的，并且能夠由探測器的制造商事先采集。或者，為了采集所述參考電流，檢查裝置的制造商能夠例如通過校準測量或分離的測量來獲得這些參考電流。例如，能夠為每個個體探測器元采集個體參考電流，其反映探測器元進入飽和時的電流。然而，也可能獲得單一參考電流(例如，平均參考電流)，將其用于探測所有探測器元的飽和，或者將參考電流提供給不同的探測器元組。通過使用比較器14a2，然后探測相關聯的探測器元61a的輸出電流是否超過了參考電流。如果是，則比較器14a2將相應的輸出信號發送到相關聯的探測停止單元15a，以停止在這一探測通道上對探測信號的進一步記錄。時間測量單元16a-16n可以是簡單的元件，例如對探測信號的已通過的部分進行計數的簡單的計數器。然而，允許這樣的時間記錄的其他實現方式也是可能的。例如，探測時段可以被細分為較小的子時段，并且在每個子時段的結束時核查在指定的探測器元處是否存在過載。舉例來說，可以假設10個子時段，并且如果在子時段，，η “的結束時探測到過載，將第一至，，η-1 “時段的探測信號進行加和(= Nwn),并且然后通過twn= Δ/10(η-1)來確定直到過載的時間twn，其中，Δ是完整探測時段的時間持續期。圖5中示出了信號處理單元121a的實施例。如圖所示，信號處理裝置121a獲得如下內容作為輸入信息由各個時間測量單元61a (最終由于探測器元61a的飽和受限而停止記錄)獲得的時間信息Ta、由各個探測器元61a采集的探測信號Da，以及應用在源控制單元10中以在在探測時段期間對X射線通量進行調制的已知的通量調制函數F。信號處理單元121a的輸出再次作為探測信號Da'，其在相應的探測器元61a未進入飽和時對應于完整測量的探測信號Da，并且如果相應的探測器元61a進入飽和，則是經校正的探測信號。然后通過圖像重建單元122進一步處理所有這些輸出的探測信號D'，其中，使用從探測信號重建圖像的常識，按照需要重建圖像或生成(2D或3D)數據集。將參考圖6圖示校正探測信號的可能方式，作為范例，其示出了隨時間t變化的鋸齒狀函數，根據該函數，在每個具有持續期△的探測時段期間調制X射線通量I (t)。在探測時段Δ內，強度(每單位時間內的光子)從I。到ml。而變化，其中，m被定義為調制深度。/⑴=/0 + /0 (w -1) I ο
Δ在時段0. . . t中探測到的光子的數量為
MJU _ 1N = \QI{t)dt = I0t + 0.5/。尸 ο如果探測器進入飽和I (t 飽和)=I 飽和。在twn時，具有Nwn個探測到的光子，以上等式能夠用于估計
j =_^ma_。得知光子的總量I。，則能夠估計
ΛΓ 4/1 m-\. #飽和 Δ(1 +丁) N 賴=/0Δ(1 + ^-)=----2——。能夠應用不同的方法來調制X射線通量。這在原理上是能夠實現的，例如，通過利用具有獨立柵格開關的燈絲和/或利用多個管，來調制源電流或者改變X射線管燈絲電流。 此外，可使用WO 2008/155715A2中描述的利用在旋轉陽極或旋轉框架管中的Z偏轉進行快速劑量調制的思想。本發明主要應用于基于單層或多層(3D)結構的、運行在超高X射線通量條件下的光子計數探測器，例如，醫學X射線CT、臨床前CT、或者用于材料檢查或安全應用的CT。其允許重建與有無限計數率性能的探測器實質上具有同樣質量的圖像。通過使用本發明，最終能夠獲得更好的圖像質量。僅有由進入飽和的探測器元輸出的那些探測信號被與實際探測信號比較進行修改。使用基于相應的探測器元已進入飽和的時時段間的時間測量對那些探測信號的校正，能夠獲得高準確度，有助于提高重建圖像的所需質量。
盡管在附圖和之前的描述中對本發明進行了說明和描述，這樣的圖示說明和描述應被認為說明性的或示范性的，而非限制性的；本發明并不限于所公開的實施例。本領域技術人員在實施所要求保護的發明時，從附圖、說明書和權利要求中，可以理解并實現本發明所公開的實施例的其他變型。在權利要求中，“包括” 一詞并不排除其他元件或步驟，不定冠詞“一”或“一個”并不排除多個。單一元件或其他單元也可已實現權利要求中敘述的多項功能。在不同的從屬權利要求中所敘述的特定措施并不意味著不能從這些措施的組合中獲益。計算機程序可以被存儲/分布在適當的介質中，諸如與其他硬件一起提供或作為其他硬件的一部分的光存儲介質或固態介質，但也可以通過其他形式分布，諸如經由因特網或其他有線或無線通信系統。權利要求中的任何參考標記不應被解釋為限制范圍。
權利要求
1.一種X射線檢查裝置，包括-X射線源0)，其用于在圍繞成像區域(5)旋轉的同時發射X射線輻射的X射線射束(4),-X射線探測器(6)，其具有多個探測器元(61)，用于探測由所述X射線源(2)發射的并已通過所述成像區域(5)的X射線輻射并且用于輸出探測信號，-源控制單元(10)，其用于在探測時段期間對X射線通量進行調制，在探測時段的開始時以避免所述X射線探測器(6)在直接X射線射束下飽和的X射線通量水平開始，并且之后增加所述X射線通量，-探測控制單元(11)，其用于評估所述探測信號，所述探測控制單元(11)包括i)飽和探測單元(Ha-Hn)，其用于在探測時段期間探測在預定探測器元(61)和/或探測器元組處的飽和，ii)探測停止單元(lfe-15n)，其用于在所述探測時段的剩余時間內停止在已飽和的探測器元(61)或探測器元組處對X射線輻射的探測，以及iii)時間測量單元(16a-16n)，其用于獲得指示所述探測時段的有效時間部分的時間信息，在該有效時間部分期間，已在未飽和的情況下探測了 X射線輻射，以及-信號處理裝置(12)，其用于基于所述探測信號重建X射線圖像，其中，利用所述時間信息對探測時段期間由于飽和而停止在其位置處對X射線輻射的探測的探測器元(61)和 /或探測器元組的探測信號進行校正。
2.根據權利要求1所述的X射線檢查裝置，其中，所述源控制單元(10)適于以這樣的方式對所述X射線通量進行調制，該方式使得所述X射線通量在探測時段期間隨著時間持續增加。
3.根據權利要求1所述的X射線檢查裝置，其中，所述源控制單元(10)適于根據鋸齒狀函數對所述X射線源(2)的所述X射線通量進行調制。
4.根據權利要求1所述的X射線檢查裝置，其中，所述X射線探測器(6)是光子計數X射線探測器。
5.根據權利要求1所述的X射線檢查裝置，其中，所述探測控制單元(11)包括針對多個個體探測器元(61a-61n)和/或探測器元組，特別是針對在所述X射線探測器(6)的外圍處的個體探測器元和/或探測器元組的多個探測控制子單元(Ila-Iln)。
6.根據權利要求1所述的X射線檢查裝置，其中，所述探測控制單元(11)包括針對每個探測器元(61)的探測控制子單元 (Ila-Iln)。
7.根據權利要求1所述的X射線檢查裝置，其中，所述飽和探測單元(14a)包括電流測量單元(14al)，用于在探測器元或探測器元組的輸出處測量探測器電流，特別是平均探測器電流，并且所述飽和探測單元(14a)包括比較器(14a2)，用于將所述探測器電流與指示飽和的參考電流進行比較。
8.根據權利要求1所述的X射線檢查裝置，其中，所述探測停止單元(15a-15n)適于記錄和/或評估來自已飽和的探測器元(61)或探測器元組的探測信號。
9.根據權利要求1所述的X射線檢查裝置，其中，所述信號處理裝置(12)適于基于已知的通量調制函數、所測量的探測信號部分和所獲得的針對這一探測信號的所述時間信息，通過估計所述探測信號的在所述探測時段中未探測X射線輻射的剩余時間內的缺失的探測信號部分，來對所述探測時段期間已停止在其位置處對所述X射線輻射的探測的探測器元(61)和/或探測器元組的探測信號進行校正。
10.一種X射線檢查方法，包括如下步驟-在圍繞成像區域(5)旋轉的同時發射X射線輻射的X射線射束G)，-由具有多個探測器元(61)的X射線探測器(6)探測已通過所述成像區域( 的X射線輻射并輸出探測信號，-在探測時段期間對X射線通量進行調制，在探測時段的開始時以避免所述X射線探測器(6)在直接X射線射束下飽和的X射線通量水平開始，并且之后增加所述X射線通量，-評估所述探測信號，所述評估的步驟包括i)在探測時段期間探測在預定探測器元(61)和/或探測器元組處的飽和，ii)在所述探測時段的剩余時間內停止在已飽和的探測器元(61)或探測器元組處對X 射線輻射的探測，以及iii)獲得指示所述探測時段的有效時間部分的時間信息，在該有效時間部分期間，已在未飽和的情況下探測了 X射線輻射，以及-基于所述探測信號重建X射線圖像，其中，利用所述時間信息對探測時段期間由于飽和而停止在其位置處對X射線輻射的探測的探測器元(61)和/或探測器元組的探測信號進行校正。
11.一種計算機程序，其包括用于令計算機控制X射線檢查裝置的程序代碼模塊，所述 X射線檢查裝置包括x射線源O)，其用于在圍繞成像區域(5)旋轉地同時發射X射線輻射的X射線射束G)，以及X射線探測器(6)，其具有多個探測器元(61)，用于探測由所述X 射線源(2)發射的并已通過所述成像區域(5)的X射線輻射并且用于輸出探測信號，所述計算機程序包括用于控制所述X射線檢查裝置以執行如下操作的程序代碼模塊-在探測時段期間對X射線通量進行調制，在探測時段的開始時以避免所述X射線探測器(6)在直接X射線射束下飽和的X射線通量水平開始，并且之后增加所述X射線通量，-評估所述探測信號，所述評估包括如下步驟i)在探測時段期間探測在預定探測器元(61)和/或探測器元組處的飽和，ii)在所述探測時段的剩余時間內停止在已飽和的探測器元(61)或探測器元組處對X 射線輻射的探測，以及iii)獲得指示所述探測時段的有效時間部分的時間信息，在該有效時間部分期間，已在未飽和的情況下探測了 X射線輻射，以及-基于所述探測信號重建X射線圖像，其中，利用所述時間信息對探測時段期間由于飽和而停止在其位置處對X射線輻射的探測的探測器元(61)和/或探測器元組的探測信號進行校正。
全文摘要
本發明涉及一種X射線檢查裝置和相應的方法。在每個探測時段內執行快速和定期的X射線通量的調節，在探測時段的開始時，使X射線通量低，以確保無探測通道過載。隨著X射線通量的增加，探測到特別是外圍的探測器通道將進入飽和。飽和的探測器通道被停止，不再進一步輻射探測，測量未飽和的輻射探測的有效時間，用于校正那些探測信號。對從已飽和的探測通道的探測信號進行任何校正之后，根據所有的探測信號重建X射線圖像。
文檔編號A61B6/03GK102469975SQ201080033602
公開日2012年5月23日 申請日期2010年7月20日 優先權日2009年7月29日
發明者R·普羅克紹 申請人:皇家飛利浦電子股份有限公司